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[发明专利]一种显示面板亮度均匀度的测量方法及装置-CN202310824637.1在审
发明人：刘洒;杨楷;杨阳;林松 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-07-06 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种显示面板亮度均匀度的测量方法及装置，属于光学检测技术领域，所述方法包括：根据显示面板上每个点位区域的多个亮度值和多个灰度值，分别确认每个点位区域对应的平均亮度值和平均灰度值；对每个点位区域的平均亮度值与平均灰度值进行数据拟合，获取每个点位区域的平均亮度值与平均灰度值的线性拟合关系；根据每个点位区域的灰度值以及线性拟合关系，确定每个点位区域的真实亮度值；根据每个点位区域的真实亮度值，确定所述显示面板的亮度均匀度。本发明采集每个点位区域的灰度值、亮度值，可得到每个点位区域对应的线性拟合关系，继而可由灰度值得到点位区域的真实亮度值，实现显示面板的亮度均匀度测量，方法简洁且精度较高。
一种显示面板亮度均匀测量方法装置

[发明专利]一种基于SOC平台的图像传感器管脚开短路测试方法及系统-CN202310404095.2在审
发明人：谢钧楠;曾泽华;李池鑫;张博佳;姚特;董文忠;帅敏;刘健 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01R31/52 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于SOC平台的图像传感器管脚开短路测试方法及系统，上位机设定激励模块的输出通道的输出参数和对应的待测图像传感器并下发至控制模块；控制模块通过开关模块识别待测图像传感器各个管脚；控制模块控制激励模块的每个输出通道分别轮询对应的待测图像传感器管脚并执行开短路测试：控制模块配置激励模块的激励源，使激励模块输出正向激励和反向激励；控制模块通过开关模块控制测试管脚与激励源连接或者接地，控制非测试管脚接地或者悬空或者与激励源连接；电压检测模块实时采集的测试管脚的电压信号并通过控制模块反馈至上位机；上位机判断是否开短路。本发明有效提高图像传感器管脚开短路测试的检测效率和精度。
一种基于 soc 平台图像传感器管脚短路测试方法系统

[发明专利]一种面板检查装置-CN202010645979.3有效
发明人：蒋石运;刘健;叶金平;雷新军 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2020-07-07 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种面板检查装置，包括上位机和至少一个图形信号发生器；其上位机包括UI插件和PG通信插件；UI插件作为人机交互接口，被配置为响应于用户的操作事件生成业务指令；PG通信插件作为上位机与图形信号发生器之间的通信接口，被配置为将所述业务指令发送给图形信号发生器；图形信号发生器被配置为获取业务指令并进行解析，得到与业务指令相匹配的脚本接口函数；根据所述脚本接口函数选择对应的脚本文件并调用脚本解析器对其进行解析，执行对应的业务功能；本发明对面板检查装置的软件架构进行重新设计，提高了软件架构的易维护性，满足用户的定制化需求，使得客户业务功能更加方便快捷且易于维护。
一种面板检查装置

[发明专利]一种显示产品图像中心对位方法、装置、设备及存储介质-CN202310485760.5有效
发明人：余梦露;陈才 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-05-04 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示产品图像中心对位方法，该方法包括：调整已点亮的待测显示产品与图像获取模块的相对角度和/或相对位置；通过第一图像中显示产品的发光中心与第一图像中心的偏移量，以及第一图像中参考区域的第一参数作为图像中心对位的判断依据。本发明根据图像获取模块所取图像进行实时算法计算，调整显示产品与图像获取模块的相对位置和相对角度，减少人为经验主义干预判断，提高测试精度和重复性。
一种显示产品图像中心对位方法装置设备存储介质

[发明专利]一种多台LED分选机联机自动化作业系统及方法-CN202310497012.9有效
发明人：郑水锋;江宝焜;李建平;王鑫 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-05-05 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种多台LED分选机联机自动化作业系统及方法，包括：料架平台，用于设置摆放多个BIN片；与料架平台衔接的传输平台及执行机构，被配置为将料架平台中的目标BIN片转移至传输平台中的中转BIN料盒；多个分选机，与传输平台衔接设置，接收中转BIN料盒中的目标BIN片。本发明可以提高生产效率同时减少半成品BIN的返工和报废，达到节约加工成本的目的。
一种 led 分选联机自动化作业系统方法

[发明专利]一种Mini LED芯片自动化制程装置及方法-CN202310497158.3有效
发明人：江宝焜;郑水锋;李建平;王鑫 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-05-05 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种Mini LED芯片自动化制程装置，该装置包括：点测机，用于接收扩膜前的Mini LED芯片，并对Mini LED芯片进行点测，获取Mini LED芯片的点测信息，依据点测信息获取Mini LED芯片的第一分bin信息；扩膜机，用于接收点测后的Mini LED芯片，进行扩膜；AOI检测机，用于接收扩膜后的Mini LED芯片，对Mini LED芯片进行AOI检测，获得Mini LED芯片的外观检测信息，依据外观检测信息和第一分bin信息，获得Mini LED芯片的第二分bin信息；固晶机，用于接收自动光学检测后的Mini LED芯片，还用于接收第二分bin信息，依据第二分bin信息将Mini LED芯片可选择地转移至目标基板。本发明优化了传统Mini LED芯片从点测到固晶的步骤，去掉了传统流程的分选、目检及计数入库等流程，提高效率，节约生产成本。
一种 mini led 芯片自动化装置方法

[发明专利]一种显示面板微弱异常点的分类方法和装置-CN202310413956.3在审
发明人：方锑;林松 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-04-18 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示面板微弱异常点的分类方法，该方法包括：将测试图导入显示面板，拍摄显示面板作为第一测试结果，标记第一区域；第一区域大于一个像素点；将单色图导入显示面板，拍摄显示面板作为第二测试结果；在第一区域中标记第一像素点，在第二测试结果中标记第一像素点及其相邻像素点，计算第一像素点与其相邻像素点的灰度值之差；当灰度值之差的最小值大于第二阈值时，认为第一区域构成的点是单色图对应颜色的异常点。本发明通过提取异常点中灰度值差异最大的点作为代表，分析该像素点所述颜色，进而可以有效的针对异常点进行分类，提高异常点分类的效率。
一种显示面板微弱异常分类方法装置

[发明专利]一种显示面板微弱异常点的分类方法和装置-CN202310413972.2在审
发明人：方锑;林松 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-04-18 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示面板微弱异常点的分类方法，该方法包括：将测试图导入显示面板，拍摄显示面板作为第一测试结果，标记第一区域；将单色图导入显示面板，拍摄显示面板作为第二测试结果；在第二测试结果中，标记第一区域对应的区域为第二区域，并标记第三区域，计算第三区域与第二区域的比值；当比值大于第二阈值时，认为第一区域构成的点是单色图对应颜色的异常点。本发明通过计算异常点中不同颜色区域的占比，将异常点分为不同颜色的点，提高异常点分类的效率。
一种显示面板微弱异常分类方法装置

[发明专利]一种LED芯片集成检测方法及装置-CN202310497011.4有效
发明人：郑水锋;江宝焜;李建平;王鑫 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-05-05 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明所提出的一种LED芯片集成检测方法，该方法包括：以第一分辨率参数采集目标LED芯片的第一图片集；以第一驱动信号点亮所述目标LED芯片获取与所述第一图片集对应的光电参数文件；所述第一图片集及所述光电参数文件传输至处理器；以第二分辨率参数采集所述目标LED芯片的第二图片集；所述第二图片集传输至所述处理器；所述第一图片集、所述光电参数文件及所述第二图片集在所述处理器中被处理合成，以此生成所述目标LED芯片的MAP图。总之，本发明提出的一种LED芯片集成检测方法及装置，解决了电极上的异常漏检或错检、操作繁琐以及成本高的问题，提高了检测能力，压缩了工艺流程，减少了外观检测设备的购买投入，节省了设备支出及人力成本。
一种 led 芯片集成检测方法装置

[外观设计]晶圆分选机-CN202230542035.3有效
发明人：郁俊 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2022-08-18 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： 15-99 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：晶圆分选机。2.本外观设计产品的用途：用于晶圆自动分选。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。5.本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位，省略仰视图。
分选

[外观设计]偏光镜头-CN202230478743.5有效
发明人：周小培 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2022-07-26 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： 16-06 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：偏光镜头。2.本外观设计产品的用途：用于与相机镜头结合使用。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状与图案的结合。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
偏光镜头

[发明专利]一种虚拟现实产品的测试前调整方法及系统-CN202310226066.1在审
发明人：张志伟;游威;李渊;王雷 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-03-09 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01M99/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种虚拟现实产品的测试前调整方法及系统，涉及虚拟现实产品测试领域，包括步骤：S1.虚拟现实产品点屏；S2.采用移动装置根据取图完整性，移动近眼显示仪器进行粗调；S3.移动装置根据不同视场的调制传递函数值移动近眼显示仪器，根据调制传递函数值的方差进行加权均值，找到最优的取图位置；S4.调整近眼显示仪器聚焦。本申请可以自动对准VR产品成像的图像中心，避免肉眼寻找，降低人为误差，提高检测准确度。
一种虚拟现实产品测试调整方法系统

[发明专利]高度跟随系统测试方法、装置、设备及可读存储介质-CN202310313833.2在审
发明人：冯奇;王雷 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01M11/08 文献下载
摘要：本发明提供一种高度跟随系统测试方法、装置、设备及可读存储介质，高度跟随系统测试方法包括：获取高度测量模块对量块上预设位置的初始测量值；确定高度调节模块在高度方向上的初始高度值；开启高度跟随控制模块；控制量块以预设速度沿水平方向运动；获取高度测量模块的多个实时测量值和高度调节模块的多个实时高度值；根据量块的尺寸数据和预设速度计算得到跟随速度；根据初始测量值、初始高度值、多个实时测量值和多个实时高度值计算得到跟随精度。本发明提供的高度跟随系统测试方法无需使用振动发生装置，简化了测试装置与条件，提高了测试效率。
高度跟随系统测试方法装置设备可读存储介质

[发明专利]一种量化评估数据集构造方法、装置及设备-CN202310190687.9在审
发明人：闻铭;冯晓帆;郑增强 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-03-01 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G09G3/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种量化评估数据集构造方法、装置及设备，其包括以下步骤：将实际的屏体Mura图逐像素进行XYZ到RGB的转换，得到RGB模拟图；基于RGB模拟图进行量化评分并获得数据集；将所述数据集应用于mura测试。本发明实施例提供的一种量化评估数据集构造方法、装置及设备，由于将实际的屏体Mura图逐像素进行了XYZ到RGB的转换，得到的RGB模拟图是以XYZ颜色空间为基础进行描述的，此时即使以RGB图为驱动显示Mura模拟图，也能实现数据集里同一张Mura模拟图在不同显示设备上具有相同的显示效果，即设备无关性，因此，不易出现针对同一个Mura模拟图的主观评价值有差异，也不易影响Mura量化算法的开发。
一种量化评估数据构造方法装置设备

[发明专利]一种显示模组测试装置、系统和方法-CN202310264906.3在审
发明人：焦冬冬 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-03-15 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种显示模组测试装置，包括：探针模块，设置于测试电路板上，包括探针阵列，用于在待测显示模组与所述测试电路板之间传输测试信号；所述探针阵列包括差分信号探针和地信号探针；其中，所述地信号探针之间均匀间隔设置，所述差分信号探针之间和/或所述差分信号探针与所述地信号探针之间的间隔距离不同于所述地信号探针之间的间隔距离。其可以解决现有的显示模组测试装置各信号探针均匀阵列分布导致差分信号之间阻抗不匹配，无法实现高速信号传输的问题。
一种显示模组测试装置系统方法