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[发明专利]X射线分析辅助设备和X射线分析设备-CN201880015532.9有效
发明人：谷口弥生;森川惠一 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2018-01-25 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：根据本发明的X射线分析辅助设备设置有：输入和操作设备24，用于任意地输入和设置样品S和二维检测器2之间的距离L以及由样品S散射或衍射的X射线的最大检测范围Xmax中的一个的值；以及中央处理单元20，用于基于由输入和操作设备24设置的一个设置项目的值来自动设置另一个设置项目。另外，基于距离L和最大检测范围Xmax，在显示设备21的显示屏22上显示X射线的最大测量帧Hmax。此外，在显示设备21的显示屏22上显示X射线检测区域A，X射线检测区域A指示其内二维检测器2的检测表面可以检测X射线的范围。
射线分析辅助设备

[发明专利]X射线分析装置-CN200710142498.5有效
发明人：佐佐木明登;栗林文;森川惠一;西邦夫;大原孝夫;加藤寿之;辻优司 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2007-08-27 - 公布日： 2008-03-05 - 主分类号： H05G1/58 文献下载
摘要：提供一种X射线分析装置，通过将测量种类的选择和光学部件的交换作业建立关联且用绘图将应当交换的光学部件的信息显示在画面上，而使测量准备作业变得容易。按照与X射线分析装置的测量准备作业关联的方式，在选择画面中，从多个测量种类中选择操作员所希望的测量种类，即可根据其测量种类，将应安装的光学部件及应卸下的光学部件的信息利用绘图显示在显示装置的画面上。操作员观察该作业指示，执行从X射线分析装置的光学系统卸下光学部件或者安装光学部件的作业。在利用绘图进行显示的情形中含有：图示应交换的光学部件(16、18)在光学系统上的位置；利用绘图记号(69)显示安装作业和卸下作业的区别；和显示光学部件的识别标记(70、72)。
射线分析装置