专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]数字千分尺-CN202310786376.9在审
  • 松本光司;藤川勇二;谷中慎一郎;斋藤修 - 株式会社三丰
  • 2019-06-07 - 2023-10-24 - G01B3/18
  • [问题]提供了一种数字千分尺,其适合于测量作为强磁体的待测对象物。[解决方案]该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部,测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向上具有长度。测微螺杆由测微螺杆保持部保持,被设置成能够相对于砧座在轴向上进退,并且测微螺杆在一个端面上包括接触子。主体框架和测微螺杆由非磁性材料形成。
  • 数字千分尺
  • [发明专利]表面性状测定方法和表面性状测定装置-CN201911044129.1有效
  • 中山树 - 株式会社三丰
  • 2019-10-30 - 2023-10-20 - G01B5/20
  • 本发明提供一种表面性状测定方法和表面性状测定装置,不利用测定臂的位移速度的监视以及施加于测定臂的测定力的控制就能够防止在测定时臂落下。使用表面性状测定装置,该表面性状测定装置具有被支承为以使触针(12)沿上下方向产生位移的方式自如摆动的臂(11)和使臂(11)转动来将触针(12)保持在规定高度的臂升降机(20),将臂升降机(20)配置为能够将臂(11)保持在下限高度(L3)的状态,该下限高度(L3)为从规定的测定高度(L1)起的向下规定的落下量(F)的位置,之后,将臂(11)配置在下限高度(L3)且使触针(12)接触被测定物(W),在该状态下对被测定物(W)的表面性状进行测定。
  • 表面性状测定方法装置
  • [发明专利]形状测量装置-CN201911031042.0有效
  • 根本贤太郎;山县正意;菅野良平;川田宏昭 - 株式会社三丰
  • 2019-10-28 - 2023-10-13 - G01B21/20
  • 本发明提供一种形状测量装置。形状测量装置包括:保持单元,其保持形状被要测量的测量对象;第一测量单元,其测量所述测量对象的第一表面上的多个测量点相对于规定点的相对坐标;第二测量单元,其独立于所述第一测量单元进行操作,并且测量所述测量对象的作为所述第一表面的反面的第二表面上的多个测量点相对于所述规定点的相对坐标;以及计算单元,其基于由所述第一测量单元和所述第二测量单元所测量出的结果来计算所述测量对象的形状。
  • 形状测量装置
  • [发明专利]内径测量单元、浮动接合机构单元和测量单元-CN202310289530.1在审
  • 山地政吏;高津佑平;山本千纮 - 株式会社三丰
  • 2023-03-23 - 2023-09-26 - G01B21/14
  • 提供了内径测量单元、浮动接合机构单元和测量单元。提供了能够自动进行内径测量的内径测量单元和用于自动内径测量的控制方法。内径测量部经由浮动接合部被支撑框架部支撑。浮动接合部包括允许内径测量部相对于支撑框架部旋转的旋转允许机构部以及允许内径测量部相对于支撑框架部平移位移的平移允许机构部。内径测量部的测量头部通过机器臂部插入孔中。内径测量部通过接触点推抵孔的内壁的反作用力自主地调整内径测量部的位置和姿态,以使内径测量部的轴线与孔的轴线对准。电动内径测量单元(电动内径测量装置和机器臂部)能够自动地测量孔的内径。
  • 内径测量单元浮动接合机构
  • [发明专利]内径测量单元、浮动接合机构单元和测量单元-CN202310289924.7在审
  • 山地政吏 - 株式会社三丰
  • 2023-03-23 - 2023-09-26 - G01B21/14
  • 提供了内径测量单元、浮动接合机构单元和测量单元。提供了能够自动进行内径测量的内径测量单元和用于自动内径测量的控制方法。内径测量部经由浮动接合部被支撑框架部支撑。浮动接合部包括允许内径测量部相对于支撑框架部旋转的旋转允许机构部以及允许内径测量部相对于支撑框架部平移位移的平移允许机构部。内径测量部的测量头部通过机器臂部插入孔中。内径测量部通过接触点推抵孔的内壁的反作用力自主地调整内径测量部的位置和姿态,以使内径测量部的轴线与孔的轴线对准。电动内径测量单元(电动内径测量装置和机器臂部)能够自动地测量孔的内径。
  • 内径测量单元浮动接合机构
  • [发明专利]自动内径测量设备的控制方法和自动测量设备的控制方法-CN202310290327.6在审
  • 小川启太;山地政吏;高津佑平;山本千纮 - 株式会社三丰
  • 2023-03-23 - 2023-09-26 - G01B21/14
  • 提供了自动内径测量设备的控制方法和自动测量设备的控制方法。提供了能够自动进行内径测量的内径测量单元和用于自动内径测量的控制方法。内径测量部经由浮动接合部被支撑框架部支撑。浮动接合部包括允许内径测量部相对于支撑框架部旋转的旋转允许机构部以及允许内径测量部相对于支撑框架部平移位移的平移允许机构部。内径测量部的测量头部通过机器臂部插入孔中。内径测量部通过接触点推抵孔的内壁的反作用力自主地调整内径测量部的位置和姿态,以使内径测量部的轴线与孔的轴线对准。电动内径测量单元(电动内径测量装置和机器臂部)能够自动地测量孔的内径。
  • 自动内径测量设备控制方法
  • [发明专利]表面形状的测量方法和表面形状测量装置-CN202310270893.0在审
  • 森裕美子;加藤庆显 - 株式会社三丰
  • 2023-03-20 - 2023-09-22 - G01B11/30
  • 提供了能够减少测量时间的表面形状的测量方法和表面形状测量装置。表面形状的测量方法使用用于获取由参考光和测量光之间的光路差生成的干涉条纹图像的干涉仪光学头,通过使干涉仪光学头针对测量对象表面在沿干涉仪光学头的光轴的Z轴方向上从起点到终点进行扫描来获取N个干涉条纹图像,并且基于干涉条纹图像来对测量对象表面的表面形状进行测量。在该测量方法中,针对N个干涉条纹图像中的共同位置,关于由指示沿Z轴方向的干涉光强度的变化的N个点的值构成的干涉信号,来确定由预定分析波长的光产生的干涉条纹的相位,并且基于该相位来确定分析波长的范围内的测量对象表面在Z轴方向上的相对位置。
  • 表面形状测量方法测量装置
  • [发明专利]表面形状的测量方法和表面形状测量装置-CN202310270895.X在审
  • 森裕美子;加藤庆显 - 株式会社三丰
  • 2023-03-20 - 2023-09-22 - G01B11/30
  • 提供能减少测量时间的表面形状的测量方法和表面形状测量装置。在测量方法中,针对N个堆叠图像中的共同位置,根据通过对由指示干涉光强度沿Z轴方向的变化的N个点的值构成的干涉信号的平方值或绝对值进行积分而获得的、由N个点的值构成的积分曲线来确定:起点侧噪声部直线,其近似起点侧噪声部,起点侧噪声部位于测量对象表面的起点侧并且对应于斜率小于测量对象表面附近的斜率的范围;终点侧噪声部直线,其近似终点侧噪声部,终点侧噪声部位于所述测量对象表面的终点侧并且对应于斜率小于测量对象表面附近的斜率的范围;以及表面邻近直线,其近似与测量对象表面附近相对应的表面邻近部。
  • 表面形状测量方法测量装置
  • [发明专利]电磁感应型编码器及其使用方法-CN202011523982.4有效
  • 久保园纮士 - 株式会社三丰
  • 2020-12-22 - 2023-09-22 - G01D5/20
  • 一种电磁感应型编码器包括检测头和标尺。所述检测头具有相对于第一轨道产生磁通量的第一收发器线圈以及相对于第二轨道产生磁通量的第二收发器线圈。所述标尺具有相对于第一轨道的第一多个周期性元件以及相对于第二轨道的第二多个周期性元件。所述检测头具有从第一轨道连续延伸到第二轨道的接收器线圈、与由第一多个周期性元件产生的磁通量和由第二多个周期性元件产生的磁通量电磁耦合、并且检测由第一多个周期性元件产生的磁通量的相位和由第二多个周期性元件产生的磁通量的相位。
  • 电磁感应编码器及其使用方法
  • [发明专利]干涉测量光学装置-CN201910173447.1有效
  • 本桥研;J·A·奎达克尔斯;A·T·祖德伟格 - 株式会社三丰
  • 2019-03-07 - 2023-09-19 - G01B11/24
  • 本发明提供一种干涉测量光学装置,其用于测量圆筒形对象物的弯曲壁形状,该干涉测量光学装置包括:干涉测量光学系统,其将测量光发射在对象物的弯曲壁处,收集对象物反射的光,并生成用于合成反射的光和参考光的合成波;转动驱动组件,其连接到干涉测量光学系统,并且使干涉测量光学系统以与对象物的圆筒形的中心轴一致的转动轴为中心转动移动;传感器,用于使用二维排列的多个感光器元件来获取合成波的强度的二维分布;以及计算装置,用于基于在转动驱动机构的转动角度变化的状态下所获取到的多个二维分布来计算对象物的弯曲壁形状。
  • 干涉测量光学装置
  • [发明专利]探针单元以及测定系统-CN201911191667.3有效
  • 古贺聪;斋藤章宪;金森宏之 - 株式会社三丰
  • 2019-11-28 - 2023-09-19 - G01B21/20
  • 提供一种探针单元以及测定系统。在具有测定探针的探针单元中,信号处理电路具备:信号合成部,其对检测元件的输出进行处理并输出将接触部的在互相正交的3个方向中的各个方向上的位移成分进行合成所得到的合成信号;以及信号输出部,其在合成信号满足了阈值条件时,将数字触摸信号输出到探针单元的外部,其中,信号输出部具备将阈值条件与合成信号进行比较的3个比较部,在进行被测定物的测定时,信号输出部输出与第一比较部的输出及第二比较部的输出相应的数字触摸信号。由此,提供一种能够在确保高的抗噪声性的同时稳定地进行高精度的测定的测定探针以及测定系统。
  • 探针单元以及测定系统
  • [发明专利]图像处理装置和存储介质-CN201811024890.4有效
  • 松浦心平 - 株式会社三丰
  • 2018-09-04 - 2023-08-25 - G06T5/00
  • 图像处理装置3包括:图像获取部322,通过捕获待测对象来获取多个测量图像;建模部323,基于测量图像识别建模参数;中间图像生成部324,基于建模参数生成用于生成指示待测对象的几何形状的几何图像的中间图像;噪声阈值图像生成部325,通过使用指示所述数据序列中包括的像素的像素值与基于对于每个像素的建模参数识别出的像素的近似值之间的误差的统计识别中间图像中每个像素的噪声阈值来生成噪声阈值图像;以及噪声去除部326,使用噪声阈值图像对中间图像执行阈值化。
  • 图像处理装置存储介质
  • [发明专利]硬度测试器和程序-CN201811267055.3有效
  • 定广真一 - 株式会社三丰
  • 2018-10-29 - 2023-08-01 - G01N3/42
  • 一种硬度测试器,其使用压头加载预定的测试力并在样本的表面中形成压痕,并通过测量所述压痕的维度来测量所述样本的硬度,该硬度测试器包括在所述压痕形成之前和之后获取所述样本的所述表面的图像的CCD相机。CPU能够执行使用相互不同的方法的多个压痕区域提取处理,每个所述压痕区域提取处理基于由所述CCD相机获取的所述图像来提取压痕区域。所述CPU还确定由所述多个压痕区域提取处理提取的所述压痕区域是否与预定义的参考压痕区域匹配,并且基于被确定为匹配的压痕区域,所述CPU计算所述样本的硬度。
  • 硬度测试程序
  • [发明专利]具有校准对象的旋转色度范围传感器系统和方法-CN202110428450.0有效
  • J.D.托比亚森 - 株式会社三丰
  • 2021-04-23 - 2023-07-25 - G01B11/00
  • 一种用于坐标测量机(CMM)的色度范围传感器(CRS)光学探针的校准配置包含校准对象。所述校准对象包含至少第一标称圆柱形校准表面,所述第一标称圆柱形校准表面具有沿Z方向延伸的中心轴线,所述中心轴线旨在大致平行于所述CRS光学探针的旋转轴线对准。所述第一标称圆柱形校准表面被布置在距沿所述Z方向延伸的所述中心轴线已知的第一半径R1处。第一组角度参考特征形成在所述第一标称圆柱形校准表面上或其中。所述角度参考特征被配置成由径向距离感测光束感测,并且在所述第一标称圆柱形校准表面上或其中围绕所述中心轴线以已知的角度或已知的角度间隔彼此定位。
  • 具有校准对象旋转色度范围传感器系统方法
  • [发明专利]具有校准对象的旋转色度范围传感器系统及方法-CN202110462935.1有效
  • J.D.托比亚森 - 株式会社三丰
  • 2021-04-23 - 2023-07-25 - G01B11/00
  • 一种用于坐标测量机(CMM)的色度范围传感器(CRS)光学探针的校准配置包含圆柱形校准对象和球形校准对象。所述圆柱形校准对象包含至少第一标称圆柱形校准表面,所述第一标称圆柱形校准表面具有沿Z方向延伸的中心轴线,所述中心轴线旨在大致平行于所述CRS光学探针的旋转轴线对准。所述球形校准对象包含具有第一多个表面部分的标称球形校准表面。所述CMM被操作以获得径向距离测量值并使用所述圆柱形校准对象的径向距离测量值来确定圆柱形校准数据,并使用所述球形校准对象的径向距离测量值来确定球形校准数据。
  • 具有校准对象旋转色度范围传感器系统方法

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