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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]校正板及其时序校正方法-CN201410628794.6有效
发明人：陈厚君;林士闻;朱庆华;郑柏凯 -专利权人：致茂电子（苏州）有限公司
申请日： 2014-11-10 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开一种校正板和一种时序校正方法，校正板可插拔地设置于自动测试设备中，用以校正自动测试设备中多个测试信道的信号延迟，校正板包含多个校正群组、一第一共同节点和一切换模块，每一校正群组包含一第二共同节点和电性连接第二共同节点的多个导电接垫，每一导电接垫选择性地电性连接其中一个测试通道，切换模块连接第一共同节点和这些第二共同节点之间，当第一延迟校正程序被执行时，切换模块切断第一共同节点与这些第二共同节点间的连结，当第二延迟校正程序被执行时，切换模块致能第一共同节点与这些第二共同节点间的连结。
校正及其时序方法

[发明专利]半导体测试装置-CN201310363054.X有效
发明人：郑柏凯;林士闻;杨苍奇 -专利权人：致茂电子股份有限公司
申请日： 2013-08-20 - 公布日： 2017-05-24 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种半导体测试装置，用以测试待测芯片。半导体测试装置包含机壳、测量功能板、第一基板、弹性支撑模块、第二基板、探针模块、传输线组、测试载板及插座。测量功能板设置于机壳中。第一基板固定至机壳的外壁上。弹性支撑模块设置于第一基板上。第二基板连接弹性支撑模块。弹性支撑模块位于第一基板与第二基板之间。探针模块设置于第二基板上。传输线组经由第一基板以电性连接测量功能板，并经由第二基板以电性连接探针模块。测试载板电性连接探针模块。探针模块位于第二基板与测试载板之间。插座设置于测试载板上，用以电性连接待测芯片。
半导体测试装置

[发明专利]自动测试设备的量测装置及方法-CN201310122280.9有效
发明人：张友青;林士闻 -专利权人：致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2013-04-03 - 公布日： 2017-04-05 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明关于一种自动测试设备的量测装置及方法，其中量测装置包含多个接脚参数量测单元，每一接脚参数量测单元用以量测一待测接脚，以产生一量测讯号；一模拟数字转换器，用以将量测讯号转换为一读值讯号；以及一控制单元，电性连接于模拟数字转换器，用以选择该多个接脚参数量测单元之一，并控制模拟数字转换器进行转换以接收读值讯号。如此，本发明可快速量测多个待测接脚，并进而达到缩短测试时间的目的。
自动测试设备装置方法

[发明专利]半导体自动测试设备的时间量测模块及方法-CN201310116571.7有效
发明人：朱庆华;林士闻 -专利权人：致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2013-03-28 - 公布日： 2017-03-15 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明是关于一种半导体自动测试设备的时间量测模块及方法，时间量测模块包含多个时间量测单元，时间量测模块的量测方法是该些时间量测单元接收一参考时脉与一重置讯号，而该些时间量测单元分别包含一同步电路用以依据参考时脉与重置讯号产生一工作时脉与一致能讯号；一参考计数器电性连接于同步电路，参考计数器用以依据致能讯号开始计数，并依据工作时脉产生一参考计数讯号；以及一量测电路电性连接于同步电路与参考计数器，量测电路用以接收一外部待测讯号，并依据参考计数讯号处理外部待测讯号的时序。
半导体自动测试设备时间模块方法

[发明专利]频率产生装置-CN201510023449.4在审
发明人：张正贤;林士闻;朱庆华 -专利权人：致茂电子（苏州）有限公司
申请日： 2015-01-16 - 公布日： 2016-08-10 - 主分类号： H03L7/081 文献下载
摘要：本发明公开一种频率产生装置，包含第一时序延迟模块、多工模组与第二时序延迟模块，其中多工模组电性连接至第一时序延迟模块，第二时序延迟模块电性连接至多工模组，第一时序延迟模块依据参考频率信号产生关联于参考频率信号的多个延迟频率信号，多工模组依据频率产生信号，输出延迟频率信号中的第一延迟频率信号与第二延迟频率信号，第二时序延迟模块依据第一延迟频率信号、第二延迟频率信号与频率产生信号，产生输出频率信号。
频率产生装置

[发明专利]误差补偿方法与应用此方法的自动测试设备-CN201410004244.7在审
发明人：朱庆华;林士闻;张正贤 -专利权人：致茂电子股份有限公司
申请日： 2014-01-03 - 公布日： 2015-07-08 - 主分类号： G01R1/44 文献下载
摘要：本发明公开一种误差补偿方法与应用此方法的自动测试设备，此误差补偿方法包含以环形振荡器依据至少一个环境因子，产生第一时钟信号。并依据系统时钟信号与第一时钟信号，得到周期测定值。再依据周期测定值与周期预期值，得到补正率。而后依据补正率，补偿测试信号的误差。
误差补偿方法应用自动测试设备

[发明专利]可隔离信号干扰的半导体电路测试装置-CN201310072498.8有效
发明人：郑柏凯;林士闻;杨苍奇 -专利权人：致茂电子（苏州）有限公司
申请日： 2013-03-07 - 公布日： 2014-09-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种半导体电路测试装置，所述半导体电路测试装置包括控制模块、底板、警报模块以及电源模块。控制模块具有第一收发单元及第一编解码单元，第一收发单元用以接收经由光传输的光信号，第一编解码单元将光信号转换成电信号。底板受控于电信号以选择性地启动至少一测试程序。警报模块具有微控制单元及第一隔离单元，微控制单元经第一隔离单元监测底板的至少一参数，选择性地产生警报信号。电源模块具有变压器，变压器将电源供应器提供的电能耦合至底板。藉此，本发明实施例提供的半导体电路测试装置可减少电磁噪音干扰。
隔离信号干扰半导体电路测试装置

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