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[实用新型]一种便于调节的雷射切割系统-CN202223590140.8有效
发明人： 李苏佼;程诚;吴健为;陈弘仁 -专利权人：闳康技术检测（上海）有限公司
申请日： 2022-12-29 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： B23K26/38 文献下载
摘要：本申请涉及样品切割技术领域，尤其是涉及一种便于调节的雷射切割系统，固定端处设置有驱动件、第一转轴以及第一夹板，驱动件固定在加工台的顶部，第一转轴的一端与驱动件相连，第一转轴的另一端与第一夹板相连，驱动件用于驱动第一转轴和第一夹板进行转动；锁定端处设置有第二转轴，第二转轴靠近第一夹板的一端连接有第二夹板，第二夹板沿水平方向滑移设置，第一夹板和第二夹板用于将样品进行夹持定位；加工台上方设置有定位雷射、加工雷射以及图像传感器，加工台顶部安装有控制中心，定位雷射用于定位样品，加工雷射用于切割样品，图像传感器用于识别样品，控制中心用于接收信号，并控制加工台进行移动。本申请可全方位对样品外壳进行切割。
一种便于调节雷射切割系统

[发明专利]一种多层RDL去层工艺-CN202110696714.0在审
发明人：高峰;李苏佼;陈景亮;叶金明;戴伟峰 -专利权人：闳康技术检测（上海）有限公司
申请日： 2021-06-23 - 公布日： 2021-10-19 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种多层RDL去层工艺，涉及微电子技术领域，其包括如下步骤：步骤S1.对覆盖层进行研磨直至露出bump层；步骤S2.对bump层进行打磨，直至打磨RDL3层；步骤S3.去除RDL3表面的有机层，露出位于有机层下方的的走线层；步骤S4.去除走线层上布置的铜走线；步骤S5.对barrier层进行研磨、抛光处理；步骤S6.重复以上步骤对位于barrier层下方的RDL2层和RDL1层进行研磨处理，直至研磨至die层。本申请具有逐层分析检测效果较好的效果。
一种多层 rdl 工艺

[发明专利]裸露晶背的芯片检测样品的制备方法-CN202110696726.3在审
发明人：戴伟峰;李苏佼;陈景亮;叶金明;高峰 -专利权人：闳康技术检测（上海）有限公司
申请日： 2021-06-23 - 公布日： 2021-10-19 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本申请涉及裸露晶背的芯片检测样品的制备方法，涉及半导体技术的领域，其包括：S1、材料准备，准备测试公板和待检测的芯片，测试公板上设置有导电件，在测试公板上贯穿开设安放芯片的安装孔；S2、芯片固定，使用热熔蜡将芯片固定在安装孔中；S3、裸露晶背，去除芯片外的塑封体，暴露出芯片上的金属接点、晶背；S4、打线，利用打线机电连接芯片上的金属接点和测试公板上的导电件。对于相关技术制备的芯片检测样品观察位置不便调整的问题，本申请具有通过翻转测试公板可直接切换芯片的观察面的效果。
裸露芯片检测样品制备方法

[实用新型]一种多层RDL的去层打磨装置-CN202023005599.8有效
发明人：高峰;李苏佼;陈景亮;孙敏杰;黄芯如 -专利权人：闳康技术检测（上海）有限公司
申请日： 2020-12-14 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： B24B19/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种多层RDL的去层打磨装置，包括底座台、设于底座台且对芯片进行固定的定位机构、设于底座台上方的安装块、设于底座台且带动安装块移动的安装块带动机构、设于安装块一侧且进行打磨的砂圈、设于安装块且带动砂圈转动的砂圈转动机构、设于底座台且对芯片表面喷水的喷水机构，具有通过安装块间接带动转动的砂圈贴合于芯片的表面进行水平移动，以使得各块芯片的打磨程度相较一致的效果。
一种多层 rdl 打磨装置

[实用新型]一种利于POP样品检测的一体打磨机-CN202022304382.0有效
发明人：高峰;程诚;陈磊;叶金明;李苏佼 -专利权人：闳康技术检测（上海）有限公司
申请日： 2020-10-15 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： B24B27/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种利于POP样品检测的一体打磨机，其包括底座，底座固定连接有支撑架，支撑架上固定连接有套环，套环内插接有热胶枪，支撑架上固定连接有收纳盒，收纳盒设置在底座和套环之间，收纳盒内放置有板载体，底座固定连接有套筒，套筒内设置有化学溶剂瓶。本申请把除了研磨之外所需要用到的工具以及设备都和研磨机设置在了一起，方便在研磨前后对工件进行处理，在进行研磨之前，不需要再裁剪板载体，直接从收纳盒中取出板载体，再将热胶枪从套环上取下，将工件和板载体粘接在一起，研磨结束后可使用化学溶剂除去胶体，得到研磨之后的工件。
一种利于 pop 样品检测一体打磨

[实用新型]一种薄层PCB电路板分析用样品夹-CN202022301831.6有效
发明人：高峰;程诚;陈磊;叶金明;李苏佼 -专利权人：闳康技术检测（上海）有限公司
申请日： 2020-10-15 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： G01N27/64 文献下载
摘要：本申请涉及一种薄层PCB电路板分析用样品夹，涉及PCB电路板检测的技术领域，其包括夹体，所述夹体内开设有夹持腔；所述夹体包括相互盖合的上夹部和下夹部，所述上夹部远离下夹部的一侧壁上开设有多个分析孔；所述下夹部位于夹持腔内可拆卸设置有多个垫块，且所述垫块位于下夹部远离上夹部的一侧壁上，所述垫块与分析孔相对设置。本申请具有对薄层PCB电路板进行SIMS分析的效果。
一种薄层 pcb 电路板分析样品

[实用新型]一种便于检测芯片的载板-CN202022301739.X有效
发明人：高峰;李苏佼;叶金明;孙敏杰;陈磊 -专利权人：闳康技术检测（上海）有限公司
申请日： 2020-10-15 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： H01L21/673 文献下载
摘要：本申请涉及一种便于检测芯片的载板，其包括载板本体，所述载板本体包括基板，所述基板上一体设置有用于盛放待测芯片的盛放部，所述基板上位于盛放部的周侧一体设置有保护部。本申请能够减少芯片在去除塑封料和锡球的过程中，对芯片拐角造成的损害。
一种便于检测芯片

[实用新型]一种芯片酸洗装置-CN202022304322.9有效
发明人：高峰;陈磊;李苏佼;黄芯如 -专利权人：闳康技术检测（上海）有限公司
申请日： 2020-10-15 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本申请涉及一种芯片酸洗装置，其包括用于盛放酸洗液的盒体，所述盒体的顶侧壁上开设有通口，所述通口上可拆卸覆盖设置有盒盖，所述盒盖的两相对侧壁上均匀开设有多个通风孔，所述盒盖的侧壁上固定设置有固定柱，所述固定柱内滑动穿设有升降杆，所述固定柱上穿设有用于固定升降杆的紧固件，所述升降杆远离盒盖的一端固定设置有支撑板，所述支撑板背离升降杆的侧壁上滑动穿设有多个夹持槽，所述夹持槽靠近升降杆的侧壁上固定设置有滑杆，所述滑杆滑动穿设在支撑板的侧壁上，所述滑杆远离夹持槽的位置处穿设有用于固定夹持槽的锁紧件，所述盒体的侧壁在远离盒盖的位置处连通设置有抽风机构。本申请具有便于对芯片进行单面酸洗的效果。
一种芯片酸洗装置

[实用新型]一种WLCSP样品用去胶开盖装置-CN202022304482.3有效
发明人：高峰;程诚;陈磊;叶金明;李苏佼 -专利权人：闳康技术检测（上海）有限公司
申请日： 2020-10-15 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： H01L21/56 文献下载
摘要：本申请涉及去胶开盖装置的领域，尤其是涉及一种WLCSP样品用去胶开盖装置，其包括底座，所述底座上设置有放置台，底座靠近放置台的侧壁上设置有激光开封机，且激光开封机的激光照射方向指向放置台，所述底座靠近放置台的侧壁上设置有支撑件，所述支撑件上设置有酸液管，且酸液管上设置有控制阀，酸液管的出液口指向放置台。本申请具有不易对开盖处的WLCSP样品造成损伤，有利于保护开盖后的WLCSP样品，进而有利于保证后续的WLCSP样品的检测的效果。
一种 wlcsp 样品用去胶开盖装置

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