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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]烹饪设备及其控制方法和双板-CN201680066658.X有效
发明人：权纯澈;权俊亨;金弘锡;宋明燮 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2016-07-25 - 公布日： 2021-04-06 - 主分类号： F24C7/02 文献下载
摘要：公开了一种烹饪设备。根据本公开的一个示例性实施例的烹饪设备包括：用于形成烹饪腔室的内壁；包围内壁的外壁；微波产生部件，用于在通道中发射微波，所述通道是由所述内壁和所述外壁围绕的空间；吸收层，吸收沿通道传播的微波，以在烹饪腔室处发射红外线。
烹饪设备及其控制方法

[发明专利]烹饪装置及其控制方法-CN201680060216.4有效
发明人：权纯澈;权俊亨 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2016-10-13 - 公布日： 2020-01-03 - 主分类号： F24C7/08 文献下载
摘要：公开了一种用于加热待烹饪物质的烹饪装置。根据本发明的一个实施例的烹饪装置包括：发射天线，用于采用波束成形的电磁波辐照待烹饪物质；接收天线，用于接收从待烹饪物质反射的反射波；以及控制器，基于辐照待烹饪物质的电磁波根据待烹饪物质的温度被不同地反射的属性，确定与接收的反射波相对应的待烹饪物质的温度。
烹饪烹饪装置反射波反射电磁波辐照辐照波束成形发射天线接收天线电磁波控制器加热

[发明专利]障碍物感测模块和包括该障碍物感测模块的清洁机器人-CN201310226587.3有效
发明人：郑然圭;金东元;苏堤允;尹详植;丁光镇;权俊亨 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2013-06-07 - 公布日： 2018-04-13 - 主分类号： A47L11/40 文献下载
摘要：在此公开了一种障碍物感测模块和包括该障碍物感测模块的清洁机器人。所述清洁机器人包括主体；驱动器，用于驱动所述主体；障碍物感测模块，用于感测主体周围存在的障碍物；控制单元，基于障碍物感测模块的感测结果来控制驱动器。障碍物感测模块包括至少一个光发射器，所述至少一个光发射器包括光源和广角透镜，所述广角透镜折射或反射从光源入射的光，以使入射光以平面光的形式扩散；光接收器，所述光接收器包括反射镜、光学透镜、图像传感器和图像处理电路，所述反射镜再次反射被障碍物反射的反射光，以产生反射光，所述光学透镜与反射镜分开预定距离，以允许反射光穿过光学透镜。
障碍物模块包括清洁机器人

[发明专利]微生物检测设备-CN201110458123.6无效
发明人： 权俊亨;卢禧烈;尹斗燮;金秀铉;权元植;柳成润;李侠 -专利权人：三星电子株式会社;韩国科学技术院
申请日： 2011-12-23 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种微生物检测设备，该微生物检测设备包括：光源单元，用于照射光；镜室，包括光入口端和光出口端、微粒入口端和微粒出口端、开口，通过光入口端引入光，通过光出口端释放光，通过微粒入口端引入微粒，通过微粒出口端释放微粒，使得通过所述光产生从微粒发射的光(发射的微粒光)，发射的微粒光通过开口被释放到外部，镜室具有椭圆形的纵向截面，在镜室的内部设置有反射镜；会聚光学系统，设置在开口前，位于开口的外部，以使通过开口释放的所述发射的微粒光会聚。使荧光会聚光学系统的会聚效率最大化。
微生物检测设备

[发明专利]微粒检测设备-CN201110461361.2无效
发明人： 权俊亨;尹斗燮;卢禧烈;金秀铉;柳成润;权元植;李侠 -专利权人：三星电子株式会社;韩国科学技术院
申请日： 2011-12-28 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01N21/49 文献下载
摘要：本发明公开了一种微粒检测设备。微粒检测设备包括：发光的光学元件；会聚光学系统，沿从光学元件发射的光的前进方向设置，以会聚光；微粒路径，沿已经经过会聚光学系统的光的前进方向定位，以使微粒路径与光交叉；光束阻挡单元，阻挡已经经过微粒路径的直接光；会聚透镜，设置在光束阻挡单元的后方；检测器，设置在会聚透镜的后方，以检测被微粒散射的光。由光学元件和会聚光学系统形成的光的焦点可位于微粒路径的后方。照射到微粒的光的焦点可以与微粒的引入位置不同。
微粒检测设备

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