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[发明专利]基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器-CN201711126956.6有效
发明人： 朱九匡;易涛;江少恩 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2017-11-15 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01T1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器，包括探测器外壳和设置在该探测器外壳一侧外壁上的锥形筒，所述探测器外壳在与锥形筒连接位置嵌设有半导体材料片；所述探测器外壳正对半导体材料片的一侧外壁上设有探针光通光孔，在该探针光通光孔一侧安装有光电探测器；所述探测器外壳内部设有分光器件，在该分光器件两侧分别设有第一平面镜和第二平面镜，分光器件能够对由探针光通光孔引入的探针光进行分束，其中一束经第一平面镜反射，另一束由半导体材料片反射，两束光干涉并经第二平面镜反射后，能够被光电探测器接收。本发明可以有效避免电磁干扰，并能够对X射线进行高速探测，具有抗干扰能力强，响应速度快，可靠性好等优点。
基于迈克干涉仪射线探测器

[实用新型]差分式电磁屏蔽材料检测装置-CN201821477172.8有效
发明人： 朱九匡;王峰;郭晓东;朱宇洁;易涛;江少恩 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-09-07 - 公布日： 2019-04-12 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种差分式电磁屏蔽材料检测装置，复用器的一端接有主线缆，另一端接有第一副线缆和第二副线缆，其中所述主线缆在远离复用器的一端连接有信号接收器，第一副线缆和第二副线缆在远离复用器的一端均连接在所述示波器上，且所述第一副线缆和第二副线缆上均设有封装筒。信号接收器接收的电磁脉冲信号经复用器一分为二的传递至第一副线缆和第二副线缆，两路信号中，其中一路信号经过装有屏蔽材料的封装筒传递至示波器，另一路信号则直接传递至示波器，然后将示波器采集到的两组信号进行比对即可分析出屏蔽材料的屏蔽属性，并且通过对两路信号的差分对比，能快速直观地分析屏蔽材料的性能。
副线缆复用器示波器屏蔽材料电磁屏蔽材料信号接收器检测装置两路信号一路信号封装筒电磁脉冲信号本实用新型差分对比两组信号一端连接直接传递一分为二差分式主线缆传递比对屏蔽线缆采集分析直观

[实用新型]半导体瞬态X射线非线性光学效应测试装置-CN201821169444.8有效
发明人： 朱九匡;易涛;陈绍荣;张军;江少恩 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-07-23 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体瞬态X射线非线性光学效应测试装置，包括用于产生X射线的X射线源，其可照射到待测试的半导体材料片上，使其产生非线性光学效应；用于引入一束探针光照射到所述半导体材料片的延时模块，并在该半导体材料片表面被反射，延时模块能够对该探针光的传输光程进行调节；用于对延时模块引入的探针光进行分光的分光片，用于接收经半导体材料片反射的探针光的光谱仪A，用于接收经分光片透射的探针光的光谱仪B，通过对光谱仪A光谱仪B最终所测的光谱进行差分对比分析即可完成测试。可以快速灵敏的完成半导体材料非线性光学效应的测试，且具有较高的测试效率和测试精度，为后续试验提供参数依据，便于操作实施。
探针光非线性光学效应半导体材料片光谱仪延时模块测试半导体瞬态测试装置分光片反射照射半导体材料本实用新型测试效率差分对比试验提供引入传输光透射分光光谱灵敏分析

[实用新型]X射线脉冲探测装置-CN201821151647.4有效
发明人： 朱九匡;易涛;陈绍荣;张军;江少恩 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-07-19 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： G01T1/24 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种X射线脉冲探测装置，包括呈长条状的外壳，所述外壳的一端设有光线射入孔，另一端安装有光纤接头，其中光纤接头上连接有Y型光纤，Y型光纤的一头连接有探针光光源，另一头连接有分析组件；所述外壳在靠近光线射入孔的一端安装有半导体材料片，该半导体材料片在远离光纤接头的一面镀有反射膜，该反射膜能够使由光纤接头引入的探针光在半导体材料片在远离光纤接头的的后表面反射。本实用新型的有益效果是：可以有效避免电磁干扰，并能够对X射线进行高速探测，具有抗干扰能力强，响应速度快，可靠性好等优点。
光纤接头半导体材料片本实用新型探测装置反射膜光线射探针光入孔抗干扰能力电磁干扰分析组件高速探测长条状后表面反射光源响应引入

[发明专利]差分式电磁屏蔽材料检测装置及其检测方法-CN201811043371.2在审
发明人：易涛;王峰;郭晓东;朱宇洁;朱九匡;江少恩 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-09-07 - 公布日： 2018-11-02 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种差分式电磁屏蔽材料检测装置，复用器的一端接有主线缆，另一端接有第一副线缆和第二副线缆，其中所述主线缆在远离复用器的一端连接有信号接收器，第一副线缆和第二副线缆在远离复用器的一端均连接在所述示波器上，且所述第一副线缆和第二副线缆上均设有封装筒。信号接收器接收的电磁脉冲信号经复用器一分为二的传递至第一副线缆和第二副线缆，两路信号中，其中一路信号经过装有屏蔽材料的封装筒传递至示波器，另一路信号则直接传递至示波器，然后将示波器采集到的两组信号进行比对即可分析出屏蔽材料的屏蔽属性，并且通过对两路信号的差分对比，能快速直观地分析屏蔽材料的性能。
副线缆复用器示波器屏蔽材料电磁屏蔽材料信号接收器检测装置两路信号一路信号封装筒电磁脉冲信号差分对比两组信号一端连接直接传递一分为二差分式主线缆传递比对屏蔽线缆采集分析直观检测

[发明专利]光纤耦合反射式X射线脉冲探测装置-CN201810796879.3在审
发明人：易涛;朱九匡;陈绍荣;张军;江少恩 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-07-19 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： G01T1/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种光纤耦合反射式X射线脉冲探测装置，包括呈长条状的外壳，所述外壳的一端设有光线射入孔，另一端安装有光纤接头，其中光纤接头上连接有Y型光纤，Y型光纤的一头连接有探针光光源，另一头连接有分析组件；所述外壳在靠近光线射入孔的一端安装有半导体材料片，该半导体材料片在远离光纤接头的一面镀有反射膜，该反射膜能够使由光纤接头引入的探针光在半导体材料片在远离光纤接头的后表面反射。本发明的有益效果是：可以有效避免电磁干扰，并能够对X射线进行高速探测，具有抗干扰能力强，响应速度快，可靠性好等优点。
光纤接头半导体材料片光纤耦合探测装置反射膜反射式光线射探针光入孔抗干扰能力电磁干扰分析组件高速探测长条状后表面反射光源响应引入

[发明专利]半导体瞬态X射线非线性光学效应测试装置及其测试方法-CN201810814028.7在审
发明人： 朱九匡;易涛;陈绍荣;张军;江少恩 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-07-23 - 公布日： 2018-09-25 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体瞬态X射线非线性光学效应测试装置及其测试方法，包括用于产生X射线的X射线源，其可照射到待测试的半导体材料片上，使其产生非线性光学效应；用于引入一束探针光照射到所述半导体材料片的延时模块，并在该半导体材料片表面被反射，延时模块能够对该探针光的传输光程进行调节；用于对延时模块引入的探针光进行分光的分光片，用于接收经半导体材料片反射的探针光的光谱仪A，用于接收经分光片透射的探针光的光谱仪B，通过对光谱仪A光谱仪B最终所测的光谱进行差分对比分析即可完成测试。可以快速灵敏的完成半导体材料非线性光学效应的测试，且具有较高的测试效率和测试精度，为后续试验提供参数依据，便于操作实施。
探针光非线性光学效应半导体材料片光谱仪测试延时模块半导体瞬态测试装置分光片反射照射半导体材料测试效率差分对比试验提供引入传输光透射分光光谱灵敏分析

[实用新型]迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器-CN201721520324.3有效
发明人： 朱九匡;易涛;江少恩 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2017-11-15 - 公布日： 2018-05-11 - 主分类号： G01T1/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器，包括探测器外壳和设置在该探测器外壳一侧外壁上的锥形筒，所述探测器外壳在与锥形筒连接位置嵌设有半导体材料片；所述探测器外壳正对半导体材料片的一侧外壁上设有探针光通光孔，在该探针光通光孔一侧安装有光电探测器；所述探测器外壳内部设有分光器件，在该分光器件两侧分别设有第一平面镜和第二平面镜，分光器件能够对由探针光通光孔引入的探针光进行分束，其中一束经第一平面镜反射，另一束由半导体材料片反射，两束光干涉并经第二平面镜反射后，能够被光电探测器接收。本实用新型可以有效避免电磁干扰，并能够对X射线进行高速探测，具有抗干扰能力强，响应速度快，可靠性好等优点。
迈克干涉仪式射线探测器

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