专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种烘干装置-CN201710521159.1有效
  • 张维维;钟兴进;张小新;巫景铭;何小波;夏振宇;王俐;敖雪丽;陆金德 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2017-06-30 - 2019-05-28 - F26B9/06
  • 本发明涉及一种烘干装置,其包括:箱体,所述箱体内设置有空腔;将所述空腔分隔为烘干室和位于烘干室下方的加料室的隔热件,所述隔热件设置有连通所述烘干室和所述加料室的开口;设置在所述烘干室内的加热组件;用于开关所述开口的闸板组件;以及设置在所述开口下方的升降机构,所述升降机构用于将器皿抬升到烘干室或降低到加料室,其中,所述箱体的侧壁上设置有接通所述加料室的加料口。采用该烘干装置可以多次在隔绝外界环境的条件下多次添加样品,以避免外界环境因素干扰测量结果。
  • 一种烘干装置
  • [发明专利]多频分光光度计的修正值的获取方法-CN201510470556.1有效
  • 王俐;张维维;敖雪丽 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2015-08-04 - 2017-04-12 - G01J3/50
  • 本发明公开了一种多频分光光度计的修正值的获取方法,其包括建立目标色阻在不同膜厚下与其对应的频谱的映射关系的数据库;准确测量目标色阻的待测色片的膜厚DX;从数据库中选取与待测色片的膜厚DX相近的第一膜厚D1、第二膜厚D2及其对应的频谱T1、T2作为参考频谱;利用公式T1=Aeat1和T2=Aeat2得到一定波长下目标色阻的第一常数A和第二常数a,根据第一常数A和第二常数a,利用公式T=Aeat计算出待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T,并将待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T作为多频分光光度计的修正值。通过上述方式,本发明直接利用朗伯定律公式计算出的参考频谱T作为多频分光光度计的修正值,能够降低多频分光光度计的修正值的偏差,进一步有效降低测试成本。
  • 分光光度计修正获取方法
  • [发明专利]液晶中N‑甲基吡咯烷酮含量的测定方法-CN201510198397.4有效
  • 巫景铭;张维维;敖雪丽;王俐;何小波;朱洪辉;陆金德;徐蕊 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2015-04-23 - 2017-01-25 - G01N30/02
  • 本发明公开了一种液晶中N‑甲基吡咯烷酮含量的测定方法,包括步骤A、用气相色谱‑质谱联用仪分别测定系列标准进样液中各组分的色谱峰值,在每组标准溶液的液晶色谱峰中预选一内标组分峰,计算同一组标准进样液的N‑甲基吡咯烷酮色谱峰与内标组分峰的标准面积比,绘制各组标准进样液的N‑甲基吡咯烷酮浓度与标准面积比的工作曲线;B、在相同检测条件下用气相色谱‑质谱联用仪测定得到待测液各组分的色谱峰图;计算待测液中N‑甲基吡咯烷酮和液晶色谱峰的相应内标组分峰的面积比,根据面积比在工作曲线中查找对应的N‑甲基吡咯烷酮的含量。该测定方法简单可行,能准确测试出液晶中残留的N‑甲基吡咯烷酮的含量,为制程监控提供可靠数据。
  • 液晶甲基吡咯烷酮含量测定方法
  • [发明专利]测试机台-CN201610334486.1在审
  • 敖雪丽;张维维;巫景铭;邢冰心 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2016-05-18 - 2016-10-12 - G01L19/06
  • 本发明实施例公开一种测试机台,包括机体、与机体连接的连接柱及可拆卸地连接于连接柱底端的测试用件。机体包括控制器及通信接口,测试机台通过通信接口与一计算机连接。测试机台还包括设置于连接柱底端和测试用件之间的压力传感器。控制器根据压力传感器感应到的压力产生相应地提示控制信号,以及通过通信接口将提示控制信号传送至计算机,以控制计算机输出相应的提示信号。本发明中,在施加的力度可能会对测试用件产生不利影响时,计算机输出相应地提示信号,如此,操作人员根据提示信号可相应地减少施加的力度,从而避免再次对测试用件施加过大的力,以损坏测试用件,因此,相应地可提高测试用件的使用寿命,从而可降低生产成本。
  • 测试机台
  • [发明专利]色度机测量方法及色度机-CN201410075884.7有效
  • 敖雪丽;张维维;巫景铭;徐蕊;王俐;何小波;朱洪辉 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2014-03-03 - 2014-06-18 - G01J3/46
  • 本发明涉及一种色度机测量方法及使用这种测量方法的色度机,其中该方法包括以下的步骤:S1、放置待检测的样品到样品平台上;S2、拍摄样品的当前图样;S3、确定样品与样品平台移动方向的夹角θ;S4、按照角度偏差θ调节色度机扫描光斑位置,使样品与样品平台移动方向一致;S5、色度机扫描检测样品。实施本发明的色度机测量方法及色度机,在测量样品的时候可以将样品随意摆放,特别是在对于检查样品的设计值接近于量测光斑大小的时候可以节约大量的时间,避免浪费过多的人力。
  • 色度测量方法

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