专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于FPGA的实时视频去雾系统-CN201410709824.6在审
  • 戴光智;孙宏伟 - 深圳职业技术学院
  • 2014-11-28 - 2015-03-04 - H04N5/21
  • 本发明公开了一种基于FPGA的实时视频去雾系统,所述系统是利用视频去雾算法基于FPGA的视频采集及处理平台实现,包括基于FPGA的电路设计、去雾算法所采用的FPGA的IP核以及去雾算法的FPGA装置。本发明提供的系统能实时完成图像采集、处理、校正的工作,将转换后的图像用HDMI输出。且该系统包括PCB电路板和FPGA芯片设计两部分,最终实现实时的视频去雾处理。所述系统采用FPGA并行计算加速处理,对于大小为1280×720的单幅低照度图像,处理时间可达0.03s,能够实用于交通监控系统中,满足实时性要求。
  • 一种基于fpga实时视频系统
  • [发明专利]一种基于自适应光照计算的图像去雾方法-CN201310008722.7有效
  • 丁兴号;于一淼;傅雪阳;戴光智 - 厦门大学
  • 2013-01-10 - 2013-05-01 - G06T5/00
  • 一种基于自适应光照计算的图像去雾方法,涉及图像处理方法。计算有雾图像粗略提取的亮通道图像,再进行边缘信息保存处理,获得优化后的亮通道图像;计算有雾图像粗略提取的暗通道图像,再进行边缘信息保存处理,获得优化后的暗通道图像;根据大气散射物理模型,以及得到的亮通道图像和暗通道图像,推导出自适应的大气光照和大气传输系数表达式;根据大气散射物理模型中的有雾图像、大气光照和大气传输系数进行去雾复原处理。首次提出了图像的亮通道,对有雾图像进行亮通道的计算,并根据大气散射物理模型,推导出大气光照表达式,能够自适应地计算大气光照。相对于传统的去雾方法,能够提高复原后的图像的清晰化效果。
  • 一种基于自适应光照计算图像方法
  • [发明专利]一种低照度图像增强方法-CN201310008427.1有效
  • 丁兴号;于一淼;郭伟;戴光智 - 厦门大学
  • 2013-01-10 - 2013-04-03 - G06T5/00
  • 一种低照度图像增强方法,涉及图像处理。提供可改善雾天、阴雨天、夜间及光照较弱等低照度条件下所摄取图像的视觉效果的一种低照度图像增强方法。1)利用亮通道先验和暗通道先验分别求取低照度图像的亮通道图像和暗通道图像;2)通过所述亮通道图像求取自适应大气光照图;3)通过所述暗通道图像和自适应大气光照图求取自适应传输函数图;4)根据大气散射物理模型中的低照度图像、自适应大气光照图和自适应传输函数图复原场景图像。建立在大气散射物理模型的基础上,能够自适应的处理夜间或光照较弱的环境下所摄取的各种图像,增强后的图像具有理想的对比度和视觉效果,整体增强效果优于传统的图像增强方法。
  • 一种照度图像增强方法
  • [发明专利]一种用于超声成像检测仪器的优化锯齿覆盖扫查装置及方法-CN201210083438.1有效
  • 戴光智;孙宏伟 - 深圳职业技术学院
  • 2012-03-27 - 2012-08-15 - G01N29/265
  • 本发明公开了一种用于超声成像检测仪器的优化锯齿覆盖扫查装置及方法,所述装置包括三维智能扫查器,该三维智能扫查器具有三个方向的扫查;所述方法包括:对待扫查区域进行垂直定位及声速聚焦;对待扫查区域锯齿或优化锯齿覆盖的扫查。本发明具有简单全覆盖路径规划算法和简单变密度随机采样策略的功能。该扫查方法首先对待覆盖区域进行粗扫,发现缺陷区域后进行细扫,对疑似缺陷区域进行微扫,同时在数据采集和存储的过程中,只对缺陷区域进行处理,而对非缺陷区域用背景区域代替。通过将此方法应用于超声成像检测系统中的扫查器中,可大大提高了扫查速度、减少了数据采集存储的空间,提高了成像的速度。
  • 一种用于超声成像检测仪器优化锯齿覆盖装置方法
  • [发明专利]一种电磁无损检测探头的检测系统-CN200810057275.3无效
  • 谢宝忠;陈铁群;朱佳震;张清华;戴光智 - 华南理工大学
  • 2008-01-31 - 2008-07-30 - G01N27/82
  • 本发明公开了一种电磁无损检测探头的检测系统,该系统包括:检测设备,发送该设备的各个特性参数到信号处理设备,并接收信号处理设备处理后与检测设备相关的参数,且根据该相关参数对检测设备的各个特性参数进行修正;信号处理设备,向检测设备发送相应的工作参数,并设定其检测方式,且根据该检测方式启动该信号处理设备的相关部件,然后将从检测设备接收到的检测信号进行调理与转换,并将转换后的信号进行分析与处理。通过本发明检测设备与信号处理设备各部分的工作方式,分别实现任意波形涡流检测、励磁后铁磁性部件的漏磁检测以及铁磁性部件的磁记忆检测等多种无损电磁检测方式。
  • 一种电磁无损检测探头系统

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