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[发明专利]一种检测用柱面镜头-CN202110240137.4有效
发明人：韩森;李雪园;贾文昕;张凌华;韩博;朱亦鸣;康岩辉;祝永进;俞大海 -专利权人：苏州慧利仪器有限责任公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2023-02-17 - 主分类号： G01B9/023 文献下载
摘要：本发明提供一种检测用柱面镜头，属于光学干涉检测领域涉，设置在干涉仪的焦前，用于检测柱面镜的表面形貌，该干涉仪发射平面光，其特征在于，包括：镜筒，呈筒状；平面镜，固定在镜筒中；以及计算全息图CGH，用于与平面镜相配合将平面光转化为柱面光，固定在镜筒中，其中，平面镜与计算全息图CGH沿干涉仪发射的平面光的光路依次设置在镜筒内，平面镜与计算全息图CGH互相平行且光轴重合。本发明提供的检测用柱面镜头，还可以具有这样的特征，其中，镜筒包括罩筒、第一镜座以及第二镜座，罩筒呈筒状，其两端分别设置有向罩筒的轴线延伸的第一限位部以及第二限位部，第一镜座呈筒状，第二镜座呈一端开口的柱状。
一种检测柱面镜头

[发明专利]一种激光波长测量装置及方法-CN202110910784.1有效
发明人：崔建军;张鹏;陈恺;康岩辉 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2021-08-10 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明公开一种激光波长测量装置及方法包括:标准激光源、被测激光源、谐振平面镜、角锥反射镜、精密位移台、控制系统、解调系统、第一光电探测器、第二光电探测器；标准激光与被测激光平行送入到Fabry‑Perot腔内进行干涉，形成主副测量干涉光束，然后分别被两个光电探测器接收形成主副测量干涉信号，解调模块按照光学游标原理对其进行解调得到光学游标长度，再通过光学游标长度、标准激光波长与被测激光波长的关系，即可计算得到被测激光波长。本发明结构简单，操作方便，能能够实现大范围高精度的波长测量。
一种激光波长测量装置方法

[发明专利]一种离轴椭圆柱面镜表面形貌的检测装置以及检测方法-CN202110242401.8有效
发明人：韩森;贾文昕;张凌华;韩博;李雪园;朱亦鸣;庄松林;康岩辉;俞大海;祝永进 -专利权人：苏州慧利仪器有限责任公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种离轴椭圆柱面镜表面形貌的检测装置以及检测方法，属于光学干涉检测领域涉，用于检测待测的离轴椭圆柱面镜的表面形貌，其特征在于，离轴椭圆柱面镜表面形貌的检测装置包括干涉仪，用于发射平面光波；补偿元件，设置在干涉仪的焦前，用于将平面光波转化为柱面光波作为检测光，并反射干涉仪发射的平面光波作为参考光；待测镜夹具，设置在检测光的光路中且位于检测光的汇聚位置远离干涉仪一侧，用于固定离轴椭圆柱面镜并调节离轴椭圆柱面镜与干涉仪之间的位置以及倾斜角度；以及反射镜，设置在检测光经过离轴椭圆柱面镜反射形成的第一反射光的光路中且位于第一反射光的汇聚位置远离待测镜夹具的一侧。
一种椭圆柱面表面形貌检测装置以及方法

[发明专利]基于光学游标珐珀干涉的空气折射率波动测量装置和方法-CN202110910780.3有效
发明人：张鹏;崔建军;陈恺;崔京远;康岩辉 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2021-08-10 - 公布日： 2022-09-27 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：本申请公开了基于光学游标珐珀干涉的空气折射率波动测量装置和方法，本装置包括：光源系统、解调系统、光电转换单元、平面镜单元、反射镜单元；光源系统用于产生波长不能的两束原始光束，平面镜单元和反射镜单元用于形成两束干涉光束，光电转换单元用于得到干涉信号，解调系统用于对干涉信号进行解调，计算空气折射率波动；本方法步骤包括：同时产生两束波长不等的原始光束，进而得到两束原始光束对应的干涉光束以及干涉信号，通过判断两个干涉信号是否同时到达干涉峰值，计算空气折射率波动。本装置结构简单，操作方便。
基于光学游标干涉空气折射率波动测量装置方法

[实用新型]一种镜片位姿调整装置-CN202121188694.8有效
发明人：韩森;王全召;庄松林;朱亦鸣;张博;贾文昕;张凌华;康岩辉 -专利权人：苏州慧利仪器有限责任公司
申请日： 2021-05-31 - 公布日： 2021-11-23 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种镜片位姿调整装置，用于安装镜片并调节该镜片在X轴、Y轴以及Z轴方向的位置和姿势，其特征在于，包括：可以粗调镜片在Z轴上平移距离的Z轴平移粗调机构、可以微调镜片在Z轴上平移距离的Z轴平移微调机构、可以粗调粗调镜片在X轴上平移距离的X轴平移粗调机构、可以调整镜片绕Y轴旋转角度的Y轴旋转调节机构、可以微调镜片在X轴上平移距离的X轴平移微调机构、可以微调镜片在Y轴上平移距离的Y轴平移微调机构、可以调整镜片沿X轴和Y轴倾斜的倾斜调整机构、可以调整镜片绕Z轴旋转的Z轴旋转调节机构以及可以调整口径的夹紧装置。可以高效的调整待测镜片的位置和姿势，同时也能保证镜片位姿调整的精确度。
一种镜片调整装置

[实用新型]一种平晶旋转台-CN202121048770.5有效
发明人：韩森;王全召;庄松林;康岩辉;张凌华;庄锦程;张博;朱亦鸣 -专利权人：苏州慧利仪器有限责任公司
申请日： 2021-05-17 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种平晶旋转台，属于光学检测领域，包括：环形固定机构，用于固定在外部构件上，具有第一外圆周面；以及环形旋转机构，可转动地安装在环形固定机构上，具有用于容纳平晶的平晶容纳槽以及第二外圆周面；两个限位机构，设置在第一外圆周面上；抵接机构，设置在第二外圆周面上，用于与限位机构相配合对环形旋转机构进行限位和固定，其中，限位机构具有朝向另一个限位机构的磁性件，抵接机构具有凸向第一第一外圆周面的凸柱以及可转动地安装在凸柱上的拨杆，凸柱位于两个限位机构之间，由可被磁性件吸附的金属材料制成，用于被磁性件吸附使得环形旋转机构在第一预定位置和第二预定位置被固定。
一种旋转

[发明专利]一种多传感器测量机坐标统一的标准器和坐标统一方法-CN201911022830.3有效
发明人：张福民;葛如月;赵炎;康岩辉;王仲;曲兴华 -专利权人：天津大学
申请日： 2019-10-25 - 公布日： 2021-04-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明属于多传感器融合技术领域，尤其涉及一种多传感器测量机坐标统一的标准器，包括底座以及固定装配于所述底座上的两个相同的标准球和两个相同的标准圆；两个所述标准球的球心和两个所述标准圆的圆心共平面且分别位于一个正方形的四个顶点上。另外，本发明还提供一种采用该标准器的多传感器测量机坐标统一方法。相比于现有技术，本发明的坐标统一方法标定操作简单方便、便于实施，可最大发挥接触式传感器更适于测量标准球、图像传感器更适于测量标准圆的优势，可以提高测量精度，适用于高精度复合测量机中不同测头间的位姿标定。
一种传感器测量坐标统一标准方法

[发明专利]一种无需角度位置信息的圆度测量信号处理方法-CN201910158731.1有效
发明人： 康岩辉;徐晓璇;王冰鹤 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2019-03-04 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G01B21/20 文献下载
摘要：本发明提供的无需角度位置信息的圆度测量信号处理方法及其系统，该方法包括步骤：获取圆度信号；对所述圆度信号进行预处理；基于预处理后的圆度信号，采用傅里叶变换计算其圆度测量信号的周期Tr。该系统包括获取模块，用于获取圆度信号；预处理模块，与所述获取模块相连，用于对所述圆度信号进行预处理；计算模块，与所述预处理模块相连，用于基于预处理后的圆度信号，采用傅里叶变换计算其圆度测量信号的周期Tr。本发明能够准确获得无需角度位置信息的圆度测量信号处理方法，其可以充分减小圆周闭合性问题引入的误差，从而为现场圆度测量精度的提高奠定基础，有利于广泛地推广应用，具有重大的生产实践意义。
一种无需角度位置信息测量信号处理方法

[发明专利]一种新型拉力试验机夹具-CN201811576066.X在审
发明人：崔建军;康岩辉;刁晓飞;毛斌;王冬;林虎 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2018-12-22 - 公布日： 2019-04-16 - 主分类号： G01N3/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种新型拉力试验机夹具，属于测试计量领域，包括旋转螺母、上夹块、上旋转螺母、下旋转螺母、应变计夹头、夹紧块和下夹块。所述上夹块通过插销将其与拉力试验机的中横梁上的接头连接；所述旋转螺母用于锁紧上夹块；所述上旋转螺母与上夹块通过螺纹配合，用于安装应变计的一端；所述下旋转螺母与应变计夹头通过螺纹配合，用于安装应变计的另一端；所述的应变计夹头安装于下夹块的半圆槽中，并用夹紧块将其固定；所述的下夹块通过插销与拉力试验机的底部接头相连接，旋转螺母用于锁紧下夹块。本发明结构简单，校准时便于应变计的安装与拆卸，降低了校准过程中应变计产生滑动的可能性，在一个试验过程中可实现拉伸和压缩的试验。
旋转螺母应变计拉力试验机上夹块下夹块夹头夹具插销夹紧块螺纹锁紧测试计量底部接头接头连接试验过程校准过程半圆槽滑动横梁拆卸拉伸配合并用压缩试验

[发明专利]基于激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统-CN201510313714.2有效
发明人：刁晓飞;薛梓;康岩辉 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2015-06-10 - 公布日： 2018-02-13 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：基于激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统属于表面形貌测量技术领域；本发明包括扫描机构、激光干涉测头和回转工件台三部分，被测非球面放置在回转工件台上，扫描机构采用X向导轨与Z向导轨实现XZ平面内扫描，激光干涉测头通过旋转机构固定在Z向导轨末端，激光干涉测头采用激光干涉测量原理保证非球面的高精度测量，且其内部有一个位置传感器来测量被测非球面表面的斜率变化，在测量过程中根据位置传感器的输出实时调节旋转机构，使测头与被测非球面表面始终保持垂直，从而保证测头接受到足够的光信号，本发明可以实现大口径、高数值孔径、大曲率非球面元件表面形状的超精密、快速测量。
基于激光干涉法线跟踪球面测量方法系统

[发明专利]法线跟踪式差动共焦非球面测量方法与系统-CN201510313752.8有效
发明人： 康岩辉;刁晓飞;崔建军;黄杨;连笑怡 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2015-06-10 - 公布日： 2018-02-13 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：法线跟踪式差动共焦非球面测量方法与系统属于表面形貌测量技术领域；本发明包括扫描机构、差动共焦测头和回转工件台三部分，被测非球面放置在回转工件台上，扫描机构采用X向导轨与Z向导轨实现XZ平面内扫描，差动共焦测头通过旋转机构固定在Z向导轨末端，该测头采用跟踪式差动共焦技术进行测量，利用位置传感器来测量被测非球面表面的斜率变化并实时调节旋转机构，使测头与被测非球面表面始终保持垂直，从而保证测头接收到足够的光信号；因此，本发明可以实现大口径、高数值孔径及大曲率非球面元件表面形状的超精密测量。
法线跟踪差动共焦非球面测量方法系统

[发明专利]基于复合激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统-CN201510313715.7有效
发明人：刁晓飞;薛梓;康岩辉 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2015-06-10 - 公布日： 2017-11-03 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：基于复合激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统属于表面形貌测量技术领域；本发明包括扫描机构、复合式激光干涉测头和回转工件台三部分，被测非球面放置在回转工件台上，扫描机构采用X向导轨与Z向导轨实现XZ平面内扫描，复合式激光干涉测头通过旋转机构固定在Z向导轨末端，该测头结合单波长干涉与合成波长干涉技术进行测量，可对微小台阶形状进行直接测量同时保证非球面的高精度测量，该测头内部有一个位置传感器来测量被测非球面表面的斜率变化并实时调节旋转机构，使测头与被测非球面表面始终保持垂直，从而保证测头接受到足够的光信号，本发明可以实现大口径、高数值孔径、大曲率及具有小台阶特征的非球面元件表面形状的超精密、快速测量。
基于复合激光干涉法线跟踪球面测量方法系统

[发明专利]基于多波长激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统-CN201510313751.3有效
发明人：刁晓飞;薛梓;康岩辉 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2015-06-10 - 公布日： 2017-09-12 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：基于多波长激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统属于表面形貌测量技术领域；本发明包括扫描机构、多波长激光干涉测头和回转工件台三部分，被测非球面放置在回转工件台上，扫描机构采用X向导轨与Z向导轨实现XZ平面内扫描，多波长激光干涉测头通过旋转机构固定在Z向导轨末端，该测头采用多波长干涉技术，可以进行绝对距离测量，实现对台阶形状的直接测量同时保留干涉测量高精度、可溯源的特点；该测头采用位置传感器来测量被测非球面表面的斜率变化并实时调节旋转机构，使测头与被测非球面表面始终保持垂直，从而保证测头接收到足够的光信号；因此，本发明可以实现大口径、高数值孔径、大曲率及具有台阶特征的非球面元件表面形状的超精密、快速测量。
基于波长激光干涉法线跟踪球面测量方法系统

[发明专利]一种圆锥量规多参数测量装置及方法-CN201410281029.1有效
发明人： 康岩辉;张恒;郎岩梅;黄杨;杨自本 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2014-06-20 - 公布日： 2017-01-04 - 主分类号： G01B5/24 文献下载
摘要：本发明提供了一种圆锥量规多参数测量装置及方法，属于精密测量技术领域。本测量装置包括激光小角度测量系统、母线直线度测量及定位系统、精密转台(21)、多齿分度台(23)和量规支架(25)；所述多齿分度台(23)固定于精密转台(21)上，所述量规支架(25)固定于多齿分度台(23)的上齿盘上；待测的圆锥量规安装在所述量规支架(25)上。
一种圆锥量规参数测量装置方法

[发明专利]一种圆锥量规母线直线度测量系统及方法-CN201410281329.X无效
发明人：张恒;康岩辉;黄杨;董玉文;杨自本;赵惠英 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2014-06-20 - 公布日： 2014-09-03 - 主分类号： G01B11/27 文献下载
摘要：本发明提供了一种圆锥量规母线直线度测量系统及方法，属于精密测量领域。本系统包括激光器(1)、扩束准直镜组(2)、第一柱面透镜(3)、分光镜(4)、第二柱面透镜(5)、长平晶(6)、透镜(7)、CCD相机(8)和量规支架(10)；所述激光器(1)、扩束准直镜组(2)、第一柱面透镜(3)和第二柱面透镜(5)的光轴重合，分光镜(4)的分光面与光轴呈45度，长平晶(6)的工作面与光轴垂直；待测的圆锥量规(9)安装在所述量规支架(10)上；所述透镜(7)和CCD相机(8)依次设置于经分光镜(4)反射后的光路上。
一种圆锥量规母线直线测量系统方法

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