“师少光”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果40个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]光源光谱和多光谱反射率图像获取方法、装置及电子设备-CN202110577248.4有效
发明人：刘敏;龚冰冰;师少光;黄泽铗;张丁军;江隆业 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2021-05-26 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本申请适用于多光谱检测技术领域，特别涉及一种光源光谱和多光谱反射率图像获取方法、装置及电子设备，该光源光谱获取方法包括：获取多光谱图像，确定所述多光谱图像中每个像素的多光谱响应值；获取RGB图像，将RGB图像与多光谱图像进行匹配，获得匹配后的RGB图像；将匹配后的RGB图像转换成灰度图像；确定所述灰度图像中灰度值小于阈值或灰度值小于或等于阈值的目标区域，根据所述目标区域在所述多光谱图像中对应的各像素的多光谱响应值计算光源光谱响应值。本申请实施例可以提高环境光光谱的预估精度。
光源光谱反射率图像获取方法装置电子设备

[发明专利]多光谱图像预处理方法、活体检测方法、设备及存储介质-CN202310613297.8在审
发明人：邓可望;刘敏;龚冰冰;蔡万源;师少光;刘庆龙 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2023-05-26 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G06V10/58 文献下载
摘要：本申请提供了一种多光谱图像预处理方法、活体检测方法、设备及存储介质。其中，多光谱图像预处理方法包括：获取多光谱图像；根据所获取的多光谱图像中每个像素的各个通道的数字量化值，计算每个像素的各个通道的等效反射率；根据每个像素的各个通道的等效反射率，生成多光谱反射率图像。活体检测方法包括：识别多光谱反射率图像中待识别人脸的多个特征区域，并获取各个特征区域的反射率曲线；根据各个特征区域的反射率曲线，检测待识别人脸是否为活体。本申请通过对多光谱图像进行预处理，消除了采集多光谱图像时，光照强度或方向对反射率的影响，提高了活体检测的精度。
光谱图像预处理方法活体检测设备存储介质

[实用新型]一种自动对焦投影仪-CN202321004272.X有效
发明人： 师少光;刘敏;龚冰冰;刘庆龙;姜兆祥 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2023-04-25 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G03B21/14 文献下载
摘要：本申请涉及投影技术领域，提供了一种自动对焦投影仪，自动对焦投影仪包括投影模组、深度相机模组、温度传感器及处理器。投影模组包括光源、投影镜头及调焦结构，投影镜头用于对光源产生的图像进行投影，输出投影图像至投影平面；调焦结构与投影镜头连接，用于调节投影镜头的焦距；深度相机模组用于检测投影模组与投影平面之间的距离；温度传感器用于检测投影镜头的温度；处理器用于接收距离及温度并基于距离、温度与焦距之间的映射关系，输出调焦信号至调焦结构，以使调焦结构根据调焦信号调节投影镜头的焦距。本申请的自动对焦投影仪在投影距离及投影镜头的温度变化时可以自动调整焦距，使用更加方便。
一种自动对焦投影仪

[发明专利]投影参数自校正的方法、装置、设备及计算机存储介质-CN202310469420.3在审
发明人： 师少光;姜兆祥;刘敏;温宣政;龚冰冰 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2023-04-25 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： H04N9/31 文献下载
摘要：本申请提供了一种投影参数自校正的方法、装置、设备及计算机存储介质，涉及投影技术领域。方法包括：通过根据校正指令确定测试图像，将测试图像对应的投影参数输出至投影模组，以控制投影模组向投影面发射光束，控制图像传感器采集投影面反射的光束，得到校验图像，根据测试图像和校验图像，计算投影面的误差系数，根据误差系数校正输出的投影参数。本申请实现了根据投影设备的实际应用环境对投影参数进行自动化校正，提高了投影参数自校正的效率。在检测到校正指令的情况下，根据校正指令自动对输出的投影参数进行调整，操作简单，能提升投影设备的使用体验。
投影参数校正方法装置设备计算机存储介质

[发明专利]深度计算方法、TOF深度相机和计算机可读存储介质-CN202310591393.7在审
发明人：宋强;俞涛;师少光;朱亮 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司;深圳奥芯微视科技有限公司
申请日： 2023-05-23 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01S17/894 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种深度计算方法、TOF深度相机和计算机可读存储介质。该深度计算方法应用于TOF深度相机，并且包括：获取TOF深度相机采集的包括目标区域的原始相位图像和预先存储的TOF深度相机对应的PSF模型；利用原始相位图像和PSF模型得到散射干扰图；基于原始相位图像中至少部分像素的能量对散射干扰图进行调整，得到散射补偿图；利用散射补偿图对原始相位图像进行补偿得到理想相位图像；基于飞行时间原理对理想相位图像进行处理得到目标区域的深度信息。本申请实施例的深度计算方法、TOF深度相机和计算机可读存储介质，能够缓解深度误差。
深度计算方法 tof 相机计算机可读存储介质

[发明专利]一种多光谱深度相机、光谱及深度测量方法-CN202310152559.5在审
发明人： 师少光;刘敏;龚冰冰;姜兆祥;刘庆龙 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2023-02-16 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明属于光学测量技术领域，尤其涉及一种多光谱深度相机、光谱及深度测量方法。多光谱深度相机包括发射模组、采集模组和控制处理器。发射模组包括宽光谱光源及脉冲光源，宽光谱光源用于朝目标持续发射宽光谱光束，脉冲光源用于朝目标发射预定波长的脉冲光束；采集模组包括图像传感器，图像传感器包括多个像素，多个像素用于分别接收目标反射回的宽光谱光束中多个不同预定波段的子光束、及均接收反射回的脉冲光束；控制处理器用于根据各像素产生的电荷信号计算目标的深度数据和光谱数据。本发明能够同时测量目标的光谱信息和深度信息。
一种光谱深度相机测量方法

[发明专利]一种多光谱图像传感器的制造方法及其设备-CN202110628920.8有效
发明人： 师少光;黄泽铗;张丁军;江隆业;李威 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2021-06-03 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明适用于传感器技术领域，提供了一种多光谱图像传感器的制造方法及其设备，包括：分别获取滤光单元组内多个对应不完全相同的波长的滤光片的特征参数组；将所有所述滤光片对应的所述特征参数组及预设参数组导入到预设的特征向量转换模型，得到多个基于不同探测目标获取的特征向量；将多个所述特征向量导入到所述多光谱图像传感器关联应用场景类型对应的检测模型，并计算对应的检测准确率；根据所有所述候选制造方式对应的所述检测准确率，确定初始制造方式。本发明可以制造一个包含有多个对应不完全相同的预设波长的滤光片的滤光单元组的多光谱图像传感器，以实现在成像时同时采集不同光谱的目的，以提高成像精度、效率以及准确性。
一种光谱图像传感器制造方法及其设备

[发明专利]多光谱深度相机、光谱及深度测量方法-CN202310165049.1在审
发明人： 师少光;刘敏;龚冰冰;姜兆祥;刘庆龙 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2023-02-16 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01S17/89 文献下载
摘要：本发明属于光学测量技术领域，尤其涉及一种多光谱深度相机、光谱及深度测量方法。多光谱深度相机包括发射模组、采集模组和控制与处理器；发射模组用于朝目标发射不同波长的第一脉冲光束、第二脉冲光束以及第三脉冲光束；采集模组包括图像传感器，图像传感器包括分别用于接收目标反射回的第一脉冲光束、第二脉冲光束以及第三脉冲光束的第一像素、第二像素及第三像素；控制与处理器用于接收并根据第一像素、第二像素及第三像素所产生的电荷信号，计算目标的光谱数据及深度数据。本发明的多光谱深度相机可以测量目标的光谱信息和深度信息，相机功能更加丰富。
光谱深度相机测量方法

[发明专利]光源光谱和多光谱反射率图像获取方法、装置及电子设备-CN202110578372.2有效
发明人：刘敏;龚冰冰;师少光;黄泽铗;张丁军;江隆业 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2021-05-26 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本申请适用于多光谱检测技术领域，特别涉及一种光源光谱和多光谱反射率图像获取方法、装置及电子设备，该光源光谱获取方法包括：获取多光谱图像，确定所述多光谱图像中每个像素的多光谱响应值；根据所述多光谱图像重构RGB图像；将所述RGB图像转换成灰度图像；确定所述灰度图像中灰度值小于阈值或灰度值小于或等于阈值的目标区域，根据所述目标区域在所述多光谱图像中对应的各像素的多光谱响应值计算光源光谱响应值。本申请实施例可以提高环境光光谱的预估精度。
光源光谱反射率图像获取方法装置电子设备

[实用新型]识别模组和终端设备-CN202222171422.8有效
发明人：刘敏;龚冰冰;邓可旺;蔡万源;罗鑫;师少光 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2022-08-17 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G06V40/13 文献下载
摘要：本申请提供了一种识别模组和终端设备，识别模组包括光源、多光谱图像传感器、温度传感器及控制与处理器。光源用于向手掌发射多种波长的光束，光束被手掌反射形成反射光束；多光谱图像传感器用于接收反射光束并生成手掌的多光谱图像；温度传感器用于检测手掌的温度；控制与处理器用于根据多光谱图像识别手掌的掌纹和/或掌脉，及结合温度进行活体检测和/或监测手掌的温度。本申请提供的识别模组，掌纹及掌脉识别精度较高，并能监控手掌温度。
识别模组终端设备

[发明专利]多光谱深度相机、数据获取方法、终端及存储介质-CN202211572226.X在审
发明人：龚冰冰;刘敏;师少光;陈相和;李杰 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2022-12-08 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01B11/22 文献下载
摘要：本申请公开了一种多光谱深度相机、数据获取方法、终端及存储介质，其中，多光谱深度相机包括发射模组、接收模组及处理器，发射模组包括面阵光源和投影透镜，用于向目标发射斑点图案；面阵光源包括多个错位排列的子光源阵列，子光源阵列包括多个不同波长的子光源；接收模组用于采集斑点图案以得到第一目标斑点图像；处理器用于：对第一目标斑点图像进行预处理，与第一参考斑点图像进行匹配得到视差图像，根据视差图像计算深度图像。本申请的多光谱深度相机既能得到深度信息，又能得到多光谱信息，应用范围更加广泛。
光谱深度相机数据获取方法终端存储介质

[发明专利]滤光片评估方法、人脸识别方法、色温计算方法及设备-CN202211614922.2在审
发明人：刘敏;刘庆龙;师少光 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2022-12-15 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请属于多光谱技术领域，公开了一种滤光片评估方法、人脸识别方法、色温计算方法及设备。其中，多光谱滤光片评估方法包括：获取待评估多光谱滤光片的待评估多光谱滤光曲线和目标应用场景的目标多光谱滤光曲线；计算待评估多光谱滤光曲线拟合成目标多光谱滤光曲线的拟合系数；根据拟合系数拟合待评估多光谱滤光曲线，得到拟合多光谱滤光曲线；计算拟合多光谱滤光曲线和目标多光谱滤光曲线的接近度；根据接近度评估待评估多光谱滤光片在目标应用场景的表现性能。本申请可以评估多光谱滤光片在目标场景下的表现性能，以及提高了基于多光谱图像的进行人脸识别的精度和实现了计算多光谱图像的色温。
滤光评估方法识别色温计算方法设备

[发明专利]一种多光谱传感器的均匀性检测方法、装置及系统-CN202211119392.4在审
发明人：刘敏;龚冰冰;邓可旺;罗鑫;蔡万源;师少光 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2022-09-14 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本申请适用于传感器检测领域，提供了多光谱传感器的均匀性检测方法、装置及系统，该方法包括：获取至少一帧多光谱数据以及多光谱数据对应光源的光功率值和曝光时间；提取多光谱数据中的通道数据，将不同通道对应的通道数据分组得到若干组通道数据；根据通道数据、多光谱数据对应光源的光功率值和曝光时间，计算各个通道对应不同帧多光谱数据的第一滤光响应数据；对通道进行空间区域划分，并根据通道对应的第一滤光响应数据计算通道在各个空间区域下对应的第二滤光响应数据；根据不同通道在各个空间区域下对应的第二滤光响应数据之间的偏移量，得到均匀性检测结果。上述方法实现了对多光谱传感器的均匀性检测，便于调整多光谱传感器的制造工艺。
一种光谱传感器均匀检测方法装置系统

[发明专利]多光谱图像校正方法、装置、设备及存储介质-CN202211064963.9在审
发明人：刘敏;龚冰冰;邓可旺;罗鑫;师少光 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2022-09-01 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本申请适用于图像处理技术领域，提供了一种多光谱图像校正方法、装置、设备及存储介质，该方法首先提取目标多光谱图像中所有通道的光谱数据，并获取所有通道的光谱数据的高亮区域，然后从光谱数据库中匹配到所有通道的光谱数据的高亮区域对应的所有通道的参考光谱数据，根据所有通道的参考光谱数据计算得到校正系数集，并根据校正系数集和所有通道的光谱数据得到校正后的目标多光谱图像。由此，通过匹配光谱数据库内的光谱数据，得到更为精准的参考光谱数据，基于参考光谱数据对原来的多光谱数据进行校正，利用校正后的多光谱数据训练出来的模型对不同光源的鲁棒性较强。
光谱图像校正方法装置设备存储介质

[发明专利]校正矩阵的计算方法、非均匀性校正方法及相关装置-CN202211078874.X在审
发明人：刘敏;龚冰冰;刘庆龙;师少光 -专利权人：奥比中光科技集团股份有限公司
申请日： 2022-09-05 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本申请适用于多光谱技术领域，提供了校正矩阵的计算方法、非均匀性误差校正方法及相关装置，计算方法包括：获取白板的标定多光谱图像，并获取标定多光谱图像中每个通道的第一数据；获取多光谱图像传感器的参考位置；根据参考位置确定标定多光谱图像中的参考区域，并获取参考区域中每个通道对应的第二数据；根据第一数据和所述第二数据，计算每个通道对应的校正矩阵。上述方案，通过标定多光谱图像中每个通道的数据及参考区域中每个通道对应的数据，计算每个通道的目标校正矩阵，从而可根据目标校正矩阵对多光谱相机的非均匀性误差进行校正，多光谱相机获得的多光谱图像更加真实。
校正矩阵计算方法均匀方法相关装置

1
2
3
下一页»
尾页
共 40 条