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[发明专利]光源控制装置、内窥镜系统和调光控制方法-CN201880097159.6在审
发明人： 山崎隆一 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2018-09-06 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： A61B1/06 文献下载
摘要：作为内窥镜处理器(20)和光源装置(30)的内窥镜用的光源控制装置具有调光运算部(25)、判定部(26)和光源控制部(33)。调光运算部(25)至少根据来自内窥镜(10)的摄像元件(11)的摄像信号，生成表示供给到内窥镜(10)的照明光量的过多/不足的调光控制信号。判定部(26)至少根据调光控制信号，判定内窥镜(10)是否被放置。光源控制部(33)至少根据调光控制信号，在被设定的控制范围内对向内窥镜(10)供给的照明光量进行控制。在第1范围被设定为控制范围的状态下由判定部(26)判定为内窥镜(10)被放置的情况下，光源控制部(33)将具有比第1范围的上限低的上限的第2范围设定为控制范围。
光源控制装置内窥镜系统调光方法

[发明专利]摄像系统-CN201580051381.9有效
发明人：水野恭辅;山崎隆一 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2015-10-13 - 公布日： 2018-10-09 - 主分类号： A61B1/04 文献下载
摘要：一种摄像系统，具有：光源部，其射出具有第一波段的第一照明光和具有第二波段的第二照明光，其中，该第二波段比该第一波段靠短波长侧；摄像部，其对来自被摄体的返回光进行拍摄；图像生成部，其一个场一个场地生成与第一照明光的返回光对应的第一图像和与第二照明光的返回光对应的第二图像并依次输出；同时化处理部，其累积多个场的图像，将累积的多个场的图像选择性地分配给显示装置第一～第三通道并同时输出；以及控制部，其根据从图像生成部所生成的图像取得的一个以上的评价值，进行用于设定第一～第三通道中的图像的分配和图像的更新频率的控制。
摄像系统

[发明专利]摄像系统和图像处理装置-CN201680074664.X在审
发明人： 山崎隆一 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2016-12-08 - 公布日： 2018-08-03 - 主分类号： A61B1/00 文献下载
摘要：摄像系统(101)具有：光源部，其进行基于G照明光、B照明光以及B’照明光的照明；摄像部(12)，其按照每个规定的期间对来自被摄体像的返回光进行拍摄并输出摄像信号；预处理部(31)，其逐场地生成第一图像信号、第二图像信号以及第三图像信号并依次输出；以及同时化处理部(32)，其将依次输出的图像信号选择性地分配给第一颜色通道、第二颜色通道以及第三颜色通道。同时化处理部(32)切换第一分配处理和第二分配处理，在所述第一分配处理中，针对第一颜色通道至第三颜色通道使用第一图像信号或第二图像信号进行分配，在所述第二分配处理中，针对第一颜色通道至第三颜色通道使用第一图像信号或第三图像信号进行分配。
图像信号颜色通道分配处理照明光摄像系统输出分配图像处理装置图像信号选择被摄体像摄像信号预处理部返回光光源部摄像部拍摄

[发明专利]调整装置、激光加工装置和调整方法-CN201210012785.5无效
发明人： 山崎隆一 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2012-01-16 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种通过根据按照规定的校准图案向感光体照射的激光痕迹来执行激光校准从而能够提高激光加工的精度的调整装置、激光加工装置和调整方法。为此，向感光体照射通过空间调制单元(DMD)成形为任意的校准图案的形状的激光，拍摄被照射上述激光的上述感光体的图像，计算所拍摄到的上述图像的激光痕迹的形状与上述校准图案的形状之间的偏离值，根据计算出的上述偏离值，计算出用于进行校正以使上述激光在被加工物上的形状与输入图案的形状一致的变换参数，根据计算出的上述变换参数，调整按照上述输入图案向上述被加工物进行的激光照射。
调整装置激光加工方法

[发明专利]缺陷修正装置以及缺陷跟踪方法-CN201110056010.3有效
发明人： 山崎隆一 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2011-03-07 - 公布日： 2011-09-21 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷修正装置以及缺陷跟踪方法。已具备获取将对象基板的一部分放大后的图像的摄像部以及根据该摄像部获取到的图像对上述对象基板进行修正处理的缺陷修正部的缺陷修正装置具备：判断部，其判断包含在上述摄像部所获取到的上述图像中的缺陷是否延伸到该图像外；跟踪部，其在上述缺陷延伸到上述图像外的情况下，对延伸到该图像外的部分进行跟踪；以及设定部，其对包含在上述摄像部所获取到的图像中的缺陷设定一个以上的修正区域。上述设定部对在上述跟踪部进行了跟踪之后由上述摄像部获取到的图像中所包含的缺陷设定一个以上的上述修正区域。
缺陷修正装置以及跟踪方法

[发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法-CN200880002158.5无效
发明人： 山崎隆一 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2008-01-16 - 公布日： 2009-12-09 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检测装置，该缺陷检测装置具有：加法运算值计算单元，其对在拍摄检查对象物而得到的图像的预定方向上排列的各像素的像素值的加法运算值进行计算；指标值计算单元，其对表示在所述图像的所述预定方向上排列的各像素的像素值的一致性的指标值进行计算；加法运算值校正单元，其根据所述指标值校正所述加法运算值；以及判定单元，其根据校正后的所述加法运算值和阈值的比较结果，判定所述检查对象物上是否有线状缺陷。
缺陷检测装置方法

[发明专利]校正装置、校正方法以及控制装置-CN200910130974.0无效
发明人： 山崎隆一 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2009-04-21 - 公布日： 2009-10-28 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：本发明提供校正装置、校正方法及控制装置，能自动且准确地检测残留缺陷。图像处理部(12)根据摄像部(11)拍摄玻璃基板(2)得到的缺陷图像检测缺陷，识别缺陷位置和范围。激光振荡器(14)输出用于校正所检测到的缺陷的激光。激光通过DMD单元(17)进行空间光调制以照射到缺陷上。驱动DMD单元(17)的驱动器(20)由根据从图像处理部(12)输出的数据来输出控制信号的激光形状控制部(19)来控制。残留缺陷检测部(22)获得有关玻璃基板(2)在缺陷范围内的高度的高度信息，根据高度信息判断缺陷校正后是否还存在应校正的残留缺陷。如果判断为存在残留缺陷，则与对缺陷进行激光照射同样地对残留缺陷进行激光照射。
校正装置方法以及控制

[发明专利]调整装置、激光加工装置、调整方法以及调整程序-CN200810166958.2无效
发明人： 山崎隆一 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2008-09-28 - 公布日： 2009-04-08 - 主分类号： G02B26/08 文献下载
摘要：本发明提供调整装置、激光加工装置、调整方法以及调整程序，能高效地自动调整经过了空间调制的光的照射。当控制部(113)对DMD(106)指定校准图案时，来自LED光源(116)的LED光通过DMD(106)进行空间调制后照射到被加工物(102)上。CCD相机(112)对该被加工物(102)进行拍摄。控制部(113)读取所拍摄的图像，计算出将校准图案变换为输出图案的变换参数，该输出图案是对应于校准图案在图像上产生的。当按照从操作部(114)等指定的照射图案，通过DMD(106)对来自激光振荡器(103)的激光进行空间调制后照射到被加工物(102)上时，控制部(113)根据变换参数来调整激光照射。
调整装置激光加工方法以及程序

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