“宝剑光”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果3个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种基于主成分分析的缺陷形貌等效与寿命评估方法-CN202210041953.7在审
发明人：胡殿印;王荣桥;潘锦超;毛建兴;宝剑光 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2022-01-14 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于主成分分析的缺陷形貌等效与寿命评估方法，(1)基于主成分分析法对缺陷进行椭球等效，获取缺陷的尺寸与空间取向特征；(2)采用有限元批量计算与深度置信神经网络相结合，建立缺陷取向特征与缺陷局部应力集中程度的关联；(3)基于微塑性理论，提出了一种缺陷致裂的有效应力确定方法，并基于有效应力建立疲劳寿命评估方法。本发明采用缺陷轮廓的三维坐标作为样本数据，形成三维正交空间，采用主成分分析方法唯一确定三维正交空间内的三个主成分及主成分向量，避免了传统椭球等效过程中的人为误差，同时将等效后的数据直接用于缺陷致裂应力的抽样计算，实现了增材制造材料疲劳寿命特征的准确评估。
一种基于成分分析缺陷形貌等效寿命评估方法

[发明专利]一种基于红外点温仪的测温方法-CN202110743184.0在审
发明人：柴葳;宝剑光;张佳斌;郝庆瑞;张婕 -专利权人：中国飞机强度研究所
申请日： 2021-07-01 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本申请属于红外点温仪测温技术领域，具体涉及一种基于红外点温仪的测温方法，包括：测量样本物体表面的真实温度T样本；测得样本物体表面的辐射出度M样本；计算得到样本物体表面的真实发射率ε(λ,T样本)；建立样本物体表面的真实温度T样本与真实发射率ε(λ,T样本)间的对应关系；相应于样本物体表面的真实发射率ε(λ,T样本)，设定物体表面的发射率ε(λ,T物体)，以红外点温仪测量得到物体表面的测量温度T物体；若测量温度T物体偏离相应的真实温度T样本较大，则重新设定物体表面的发射率ε(λ,T物体)。
一种基于红外点温仪测温方法

[实用新型]一种信号线固定接头-CN201620310631.8有效
发明人：柴葳;宝剑光;郝庆瑞;蒋军亮 -专利权人：中国飞机强度研究所
申请日： 2016-04-14 - 公布日： 2016-09-14 - 主分类号： G01K17/00 文献下载
摘要：一种信号线固定接头，用于固定热流密度传感器信号线，包括套环(1)和螺钉(2)，套环(1)为带有圆形通孔的柱体，套环(1)通孔内壁向套环(1)外表面开有螺纹孔，用于与螺钉(2)配合安装，套环(1)内壁螺纹孔处沿轴线开有槽体。本实用新型提供的热流密度传感器结构简单、尺寸小、连接固定性好，改变第一螺钉(7)的受力方式，减小装配应力，减少信号线破损。
一种信号线固定接头