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[发明专利]一种数据存储管理系统及方法-CN202210719887.4有效
发明人：李南;刘育恒;周桃飞 -专利权人：西湖大学
申请日： 2022-06-23 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： H04L67/1097 文献下载
摘要：本申请涉及一种数据存储管理系统及方法，该数据存储管理系统包括：数据采集装置，用于采集各实验仪器的仪器数据和与所述实验仪器相关的实验用户数据，以及根据接收的数据上传请求采集所述实验仪器产生的实验原始数据；数据处理装置，用于根据接收的数据处理请求对所述数据采集装置采集的数据进行处理；数据存储装置，用于对所述数据采集装置采集的数据以及经所述数据处理装置处理后的数据进行存储；数据管理装置，用于对各所述实验仪器的实验相关数据进行管理。本申请能够自动上传实验数据，且能够对不同用户、实验仪器以及实验数据等实验相关数据进行统一高效的管理，实现中央化数据管理，方便数据运维。
一种数据存储管理系统方法

[外观设计]铲刀-CN202230095580.2有效
发明人： 周桃飞 -专利权人： 周桃飞
申请日： 2022-02-28 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： 08-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：铲刀。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于清洁使用的铲刀。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：设计1立体图。
铲刀

[发明专利]基于多场耦合的高分辨原位X射线衍射系统及其测试方法-CN202111562552.8在审
发明人：缪晓和;周桃飞;陆启阳;陆颖;杨开创;钟影 -专利权人：西湖大学
申请日： 2021-12-20 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明涉及基于多场耦合的高分辨原位X射线衍射系统及其测试方法，该方案基于高分辨薄膜XRD设备，还包括设于高分辨薄膜XRD上的原位腔体、设于该原位腔体内的样品架、设于该样品架上的电加热条和温度传感器、设于该原位腔体外的外置电化学工作站以及与该外置电化学工作站电连接的正负电极片；原位腔体上还连接有与原位腔体连通的冷却水通道；正负电极片位于原位腔体内。本申请结合现有高分辨薄膜XRD设备的硬件特点，并进行改造，构建加热加电耦合的原位环境，开发出新的原位电热反应的测试系统和方法，填补了现有技术的空白。
基于耦合分辨原位射线衍射系统及其测试方法

[发明专利]基于多晶X射线衍射仪的电化学检测装置及其测试方法-CN202110575783.6在审
发明人：缪晓和;周桃飞;刘琳;杨祯;陆启阳;胡杨 -专利权人：西湖大学
申请日： 2021-05-26 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明涉及基于多晶X射线衍射仪的电化学检测装置及其测试方法，该方案包括多晶X射线衍射仪、电化学原位池、升降台及电化学工作站；升降台设于多晶X射线衍射仪的原样品台位置，电化学原位池活动设于升降台上，通过升降台驱动电化学原位池上下运动实现高度调节；通过电化学原位池放置安装测试电极，通过电化学工作站与测试电极电连接，测试电极上设有沉积研究对象化合物的电极片，测试方法为装置的方法，本方案可通过对催化反应中电极材料的原位表征，来获取比如材料的物相、晶胞参数、结晶度、晶粒尺寸、晶体结构等信息；还原外加电压过程中相应结构的变化趋势等详细信息，大大拓展了原位XRD的应用领域，填补了现有技术的空白。
基于多晶射线衍射电化学检测装置及其测试方法

[发明专利]一种采用紫外激光拉曼光谱检测GaN材料的方法-CN201510394269.7有效
发明人：顾泓;张敏;刘磊;郑树楠;田飞飞;张志强;周桃飞;徐科 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2015-07-07 - 公布日： 2019-09-10 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明公开了一种采用紫外激光拉曼光谱检测GaN材料的方法，其包括：提供一GaN材料样品，并在所述GaN材料样品的待测试表面上制备一金属薄膜层；提供一拉曼光谱检测设备，从所述待测试表面上对所述GaN材料样品进行拉曼光谱测试；其中，所述拉曼光谱检测设备发射的激发光为紫外光。通过在GaN材料样品的待测试表面上制备一金属薄膜层，其可以改变GaN材料样品的表面态，对样品表面的能带弯曲进行调节，从而减小紫外激光照射产生的表面光电压，降低光电压对测试过程的干扰，提高测试结果的正确性以及测试精确度。
材料样品拉曼光谱检测测试表面金属薄膜层紫外激光制备拉曼光谱测试紫外激光照射表面光电压紫外光测试过程设备发射样品表面表面态光电压激发光减小测试

[发明专利]一种测定拉曼光谱仪中激光入射角的方法-CN201610132777.2有效
发明人：胡匀匀;周桃飞;郑树楠;王建峰;徐科 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2016-03-09 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种测定拉曼光谱仪中激光入射角的方法，包括：选取六方晶体的半极性面，并在其上作出相互垂直且均垂直于表面法线的X轴和Y轴；将拉曼光谱仪的激光入射至半极性面上；将六方晶体围绕表面法线旋转，并分别采集六方晶体在不同位置的拉曼光谱，直至旋转角不少于360°；分别提取六方晶体在不同位置的拉曼光谱中的准纵光学波声子模和准横光学波声子模的拉曼频移，作出拉曼频移‑旋转角的关系拟合图；拟定非常光折射角的度数并推定拉曼频移估算值‑旋转角的关系图，直至确定非常光折射角的度数，计算激光入射角。根据本发明的方法采用原位旋转的方法测定，不改变激光光路；同时，该方法还无需借助其他设备方法，通过拟合比对即可，方法简单。
一种测定光谱仪激光入射角方法

[发明专利]一种基于紫外拉曼光谱的测试压电效应的方法-CN201510783302.5有效
发明人：顾泓;周桃飞;田飞飞;郑树楠;张志强;王建峰;徐科 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2015-11-16 - 公布日： 2019-05-17 - 主分类号： G01R29/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于紫外拉曼光谱的测试压电效应的方法，包括：在压电试块的上下表面分别制备上金属膜和下金属膜，得到膜层压电试块；测试膜层压电试块的第一拉曼光谱；以上金属膜和下金属膜为电极，向膜层压电试块施加电压，并测试膜层压电试块的第二拉曼光谱；根据第一拉曼光谱中第一E₂(high)峰和第二拉曼光谱中第二E₂(high)峰之间的水平间距，计算压电试块的应力大小；其中，用于测试膜层压电试块的第一拉曼光谱和第二拉曼光谱的激发光源均为紫外激光。根据本发明的方法以紫外激光作为激发光源获得压电试块的上表面的拉曼信号，避免了拉曼测试对压电试块的厚度的要求；同时上金属膜的设置还避免了该压电试块的表面态所引起的能带弯曲等不良影响。
试块压电拉曼光谱金属膜测试膜紫外拉曼光谱激发光源压电效应紫外激光测试膜层拉曼信号上下表面施加电压电极表面态上表面制备

[发明专利]红外探测器的光谱响应度的测量系统和测量方法-CN201510313510.9有效
发明人：熊敏;董旭;周桃飞;时文华 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2015-06-09 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开一种红外探测器的光谱响应度的测量系统，其包括：红外光谱仪，用于提供宽谱红外光并对宽谱红外光进行聚焦；频谱仪，用于测量设置于宽谱红外光焦点位置处的待测红外探测器随频率f变化的电压信号S_DUT(f)；其中，基于所述电压信号S_DUT(f)获取所述待测红外探测器随波数w变化的响应信号S_DUT(w)；根据响应信号S_DUT(w)获得所述待测红外探测器的光谱响应度。本发明还公开一种红外探测器的光谱响应度的测量方法。本发明采用微纳加工技术制备的微台面探测器具有微米级的台面尺寸，空间分辨率高，结合三维平台的面扫描方法能更准确、直观的测量红外光源在焦点位置处的光强分布。
红外探测器光谱响应测量系统测量方法

[发明专利]光谱测试装置及其测试方法-CN201510213333.7有效
发明人：张敏;张志强;田飞飞;刘磊;郑树楠;周桃飞;徐科 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2015-04-29 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种光谱测试装置，包括：用于对待测光谱进行分光的单色仪，其至少包括用于出射经分光的待测光谱的出光狭缝；与出光狭缝相对设置的光谱放大器，其对经由出光狭缝出射的经分光的待测光谱进行放大；及邻近于光谱放大器设置的探测器，其用于探测经放大的待测光谱。经该光谱测试装置测试的待测光谱探测信号强度高、分辨率高，且空间占有小，该光谱测试装置未通过增加光栅刻线数及系统有效焦长的方法来提高分辨率，制作简单、成本低。本发明还公开了利用上述光谱测试装置的测试方法，包括步骤：单色仪对待测光谱进行分光并经由出光狭缝出射；光谱放大器放大经出光狭缝出射的经分光的待测光谱；探测器探测经放大的待测光谱。
光谱测试装置及其方法

[发明专利]一种偏振拉曼光谱的测定仪器及其测定方法-CN201610139559.1在审
发明人：胡匀匀;周桃飞;郑树楠;王建峰;徐科 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2016-03-11 - 公布日： 2017-09-19 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明公开了一种偏振拉曼光谱的测定方法，用于测定六方晶体的偏振拉曼光谱，该方法包括沿预定方向旋转六方晶体依次至第一采样点、……、第n+1采样点，其由初始位置旋转至第一采样点、……、第n+1采样点时的旋转角分别记作γ1、……、γn+1；直至旋转角γn+1的角度不少于180°；分别采集其在第一采样点～第n+1采样点时的偏振拉曼光谱并绘制偏振拉曼光谱图，提取各偏振拉曼光谱图中的偏振散射强度，并绘制偏振散射强度‑旋转角的趋势图。本发明还公开了偏振拉曼光谱的测定仪器。根据本发明的测定方法和测定仪器使用较少数量的光学元件，且无需频繁变动光路中的光学元件，即可简单方便地获得强度强、信噪比好的偏振拉曼光谱。
一种偏振光谱测定仪器及其方法

[发明专利]光伏电池聚光测试装置-CN201410022380.9有效
发明人： 周桃飞;徐科;张敏;刘磊;田飞飞;张志强;顾泓;王建峰 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2014-01-20 - 公布日： 2017-05-03 - 主分类号： H02S50/15 文献下载
摘要：本申请公开了一种光伏电池聚光测试装置，包括支架，包括沿Z轴方向延伸的导杆；聚光系统，安装于所述支架上，所述的聚光系统包括孔径可调的光阑，以及位于所述光阑下方的透镜；移动平台，沿Z轴方向滑动于所述导杆上；工作台，包括第一工作台和第二工作台，所述第一工作台沿Y轴方向滑动于所述移动平台上，所述第二工作台位于所述第一工作台上，并相对所述第一工作台沿X轴方向可移动，所述第二工作台具有可承载被测电池片的承载面；电池片固定装置；二次匀光系统，位于所述透镜和工作台之间。光阑设置在光源和聚光透镜之间，可以输出的面积较大均匀平行光，而且通过连续调整光阑孔径的面积，可实现待测电池片接受的总光能量连续可调。
电池聚光测试装置

[发明专利]光谱扫描测试装置及其测试方法-CN201510216938.1在审
发明人：张敏;顾泓;周桃飞;张志强;刘磊;田飞飞;郑树楠;徐科 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2015-04-30 - 公布日： 2016-12-07 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本发明公开了一种光谱扫描测试装置，包括：用于向待测样品提供一预定温度的测试环境的制冷样品室；设置于制冷样品室中且用于承载待测样品的样品台，其以预定数量级的位移精度进行移动；至少包括显微镜及激光光源的显微光路系统，其中，激光光源发出的激光经由显微镜传递至待测样品，以产生激发光谱；用于接收并测试激发光谱的光谱测试系统。该测试装置为实现待测样品在最低温度为4K下的微结构光谱扫描测试提供了可能性。本发明还公开了上述测试装置的测试方法，包括步骤：待测样品置于制冷样品室中的样品台上进行制冷；激光光源发射的激光经由显微镜传递至待测样品，以产生激发光谱；光谱测试系统接收并测试激发光谱。
光谱扫描测试装置及其方法

[发明专利]肖特基二极管及其制备方法-CN201510140768.3在审
发明人：刘磊;周桃飞;王建峰;徐科 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2015-03-27 - 公布日： 2016-11-23 - 主分类号： H01L21/329 文献下载
摘要：本发明公开了一种肖特基二极管的制备方法，包括步骤：A、依次生长重掺杂层和轻掺杂层，形成GaN自支撑衬底，其中，重掺杂层和轻掺杂层的GaN掺杂浓度和厚度分别为1×10¹⁸～1×10¹⁹cm^-3、100～1000μm和1×10¹⁴～1×10¹⁷cm^-3、2～200μm；B、在轻掺杂层上和重掺杂层下分别生长肖特基电极层和欧姆电极层；C、以肖特基电极层为掩膜，通过离子注入方式在轻掺杂层中、围绕肖特基电极层边缘处形成电阻率为1×10⁶～1×10¹⁰Ω·cm的高阻层。本发明还公开了制备得到的肖特基二极管。该制备方法过程中采用了有效的结终端保护技术，提高了器件耐压值。
肖特基二极管及其制备方法

[发明专利]一种高倍聚光光伏电池测试系统及测试方法-CN201310652697.6在审
发明人： 周桃飞;徐科;张敏;刘磊;田飞飞;郑树楠;张志强;顾泓 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2013-12-05 - 公布日： 2015-06-10 - 主分类号： H02S50/15 文献下载
摘要：本申请公开了一种高倍聚光光伏电池测试系统，包括：光源，所述光源为太阳模拟光源；聚光系统，接收所述光源发出的模拟太阳光并输出一定能量聚光比的会聚光束，所述聚光系统包括会聚透镜以及位于所述光源和会聚透镜之间的孔径可调的光阑；二次匀光系统，使得所述会聚光束均匀照射在被测试的电池片上。本申请还公开了一种高倍聚光光伏电池测试方法。本发明的高倍聚光光伏电池测试系统，光阑设置在光源和聚光透镜之间，可以输出的面积较大均匀平行光，而且通过连续调整光阑孔径的面积，可实现待测电池片接受的总光能量连续可调。匀光系统采用光漏斗或梯形棱镜，可以利用会聚光束在光漏斗或梯形棱镜中的多次全反射，而达到匀光的效果。
一种高倍聚光电池测试系统方法

[发明专利]一种肖特基二极管及其测试方法-CN201310636409.8在审
发明人：刘磊;张敏;田飞飞;郑树楠;张志强;王海;周桃飞;弓晓晶;王建峰;徐科 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2013-11-27 - 公布日： 2015-06-03 - 主分类号： H01L29/872 文献下载
摘要：本发明公开了一种肖特基二极管，包括：GaN层；位于GaN层上的绝缘层，绝缘层具有一开口部，形成肖特基接触区域；第一电极，形成于肖特基接触区域内，与GaN层接触，并且，第一电极至少部分覆盖于所述绝缘层的上部；第二电极，与第一电极连接，位于第一电极覆盖绝缘层的部分之上；其中，第一电极的厚度小于所述第二电极的厚度。本发明还提供了如上所述的肖特基二极管的测试方法，在第一电极位于肖特基接触区域的部分采用阴极荧光谱来观测肖特基二极管内部的位错数目及分布。本发明提供的肖特基二极管，既可以进行常规的电流电压特性曲线测试，又能够利用阴极荧光谱确定器件内部的位错数目及分布位置，方便深入研究位错对器件性能的影响。
一种肖特基二极管及其测试方法

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