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[发明专利]一种新型超强耐磨软管-CN201510156972.4在审
发明人： 吕秋玲;黄勇 -专利权人：江苏方圆波纹管制造有限公司
申请日： 2015-04-04 - 公布日： 2015-09-02 - 主分类号： F16L11/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种新型超强耐磨软管，包括橡胶管，其中所述橡胶管的两端设有连接头，橡胶管的内壁上设有均匀分布的铁丝，橡胶管的外壁上设有卡环与卡圈间隔缠绕，卡圈中间设有均匀排列的卡孔，卡环外设有耐磨圈，耐磨圈中间设有卡钉，卡钉的两侧设有卡孔，耐磨圈外设有防滑管。本软管是用于摩擦次数较多的位置，本软管由多层结构合成在一起，主体为橡胶管，橡胶管具有足够的韧性以及可塑性，而在橡胶管内加入铁丝以及连接圈可以增加本软管的强度，软管外的耐磨圈具有耐磨的作用，耐磨圈可以承受大量的摩擦，耐磨圈与橡胶圈之间设有销钉可以固定耐磨圈，增加耐磨性，并且也便于耐磨圈的更换，增加本软管的使用时间。
一种新型超强耐磨软管

[发明专利]一种新型三向大位移补偿器-CN201510182690.1在审
发明人： 吕秋玲;黄勇 -专利权人：江苏方圆波纹管制造有限公司
申请日： 2015-04-16 - 公布日： 2015-07-29 - 主分类号： F16L51/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种新型三向大位移补偿器，包括连接管，其中连接管为第一连接管与第二连接管，第一连接管由内管与外管组成，内管与外管之间设有轨道，内管与轨道之间设有小滑块，外管的末端设有大滑块，第一连接管的末端设有定位球，定位球的中间设有滑道，滑道上设有第二连接管，第二连接管上设有搭扣，滑道上设有三个扣孔，定位球的底端设有定位环，第二连接管上设有端盖，第二连接管的外侧设有密封环。本补偿器为一个可以做三向的补偿器，补偿器的第二连接管与第一连接管分别连接两个管道，而且第一连接管有内管与外管组成，具有补偿的作用，而第二连接管可在滑道上滑动，再通过搭扣与扣孔的连接固定第二连接管来实现三个方向的补偿。
一种新型位移补偿

[发明专利]一种绕射波与反射波分离成像方法-CN201210316656.5有效
发明人：段心标;方伍宝;吕秋玲;王鹏燕;宋林 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院
申请日： 2012-08-30 - 公布日： 2014-03-26 - 主分类号： G01V1/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种绕射波与反射波分离成像方法，属于地震资料成像处理领域。本发明方法包括以下步骤：(1)对每一条线内的每一个道集进行三维τ-p正变换得到平面波数据d(py，px，y，x，τ)；(2)对由步骤(1)输出的平面波数据d(py，px，y，x，τ)采用平面波域解构滤波进行处理，得到主要含绕射波能量的平面波数据体dr(py，px，y，x，τ)；(3)从步骤(2)得到的主要含绕射波能量的平面波数据体dr(py，px，y，x，τ)中抽取每一个道集对应的三维τ-p域数据，并从原道集中获取每个道集的炮检点坐标，然后对所述三维τ-p域数据做三维τ-p反变换得到波场分离后的叠前道集；(4)对由步骤(3)输出的波场分离后的叠前道集进行炮域叠前深度偏移获得绕射波分离成像结果。本发明实现了绕射波信号提取和小地质异常体或断层的清晰成像。
一种绕射波反射分离成像方法

[发明专利]一种基于波场分离原理提高地震资料信噪比的去噪方法-CN201110184274.7有效
发明人：崔树果;郭全仕;吕秋玲;王跃;崔连军 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院
申请日： 2011-07-01 - 公布日： 2013-01-02 - 主分类号： G01V1/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种提高地震资料信噪比的去噪方法，属于石油地球物理勘探领域。本发明利用数据分块技术与波场分离技术相结合来压制随机噪声进而提高地震资料的信噪比；所述方法首先对地震数据进行分块处理，然后对每个数据块进行复数域SVD滤波，利用波场分离技术进行特征值分解，利用优选特征值重构数据，并替换原始频率切片进而实现压制随机噪声。与传统的假设同相轴水平的SVD技术相比，该方法无需对同相轴进行任何相对时差校正，且利用本方法的去噪效果比较稳健，本发明采用的分块处理技术能有效地克服实际地震资料中倾角变化的非稳态，且可以大大缩短SVD和重构占用的时间。
一种基于分离原理提高地震资料方法

[发明专利]一种晶圆检验方法及其装置-CN200910195563.X无效
发明人： 吕秋玲;许俊;王明珠;左仲 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-09-11 - 公布日： 2011-04-20 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种半导体晶圆的检验方法，其中，包括：在检验装置中对检验到的晶圆上的杂质进行清洁，再进行第二次检验。具体的，可以通过使用氮气枪喷吹，清洗槽清洗等多种方法对上述杂质进行清洁。本发明还同时提供了可用于实施上述方法的目检装置。本发明能够有效地提高目检效率，从而降低半导体晶圆生产中对晶圆的误宰，提高良品率。
一种检验方法及其装置

[发明专利]晶圆在线检测方法及系统-CN200910049991.1有效
发明人：杨健;孙强;陈思安;吕秋玲 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-04-24 - 公布日： 2010-10-27 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明提供了晶圆在线检测方法及系统，以避免现有检测方案可能存在的耽误产品时间、降低检测效果及无法充分利用检测站点检测能力的问题。该方法包括步骤：获得单位时间内到达检测站点的晶圆产品类型及各自的数量；根据获得的所述类型及数量，确定单位时间内进入检测站点检测的各类晶圆产品数目；以及检测站点检测进入自身的各类晶圆产品。
在线检测方法系统

[发明专利]防止铝焊盘腐蚀的方法以及铝焊盘的制作工艺-CN200910049280.4无效
发明人：钱洪涛;吕秋玲 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-04-14 - 公布日： 2010-10-20 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种防止铝焊盘腐蚀的方法，包括：提供铝焊盘，所述铝焊盘上残留有干法刻蚀的刻蚀剂；清洗所述铝焊盘；对所述的铝焊盘进行烘烤。本发明还提供一种铝焊盘的制作工艺，所述方法可避免铝焊盘被腐蚀。
防止铝焊盘腐蚀方法以及制作工艺

[发明专利]对产品进行在线检测的方法以及装置-CN200810202776.6有效
发明人：杨健;阎海滨;陈思安;吕秋玲 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2008-11-14 - 公布日： 2010-06-16 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：一种对产品进行在线检测的方法，包括如下步骤：(a)在产品进入机台进行加工之后，在该产品的档案文件中写入与该机台唯一对应的机台标签；(b)在工艺流程文件中寻找一可以对该机台的加工结果进行检测的检测步骤进行标注；(c)进行至被写入标签的检测步骤时，做出检测指令。本发明还提供了一种对产品进行在线检测的装置。本发明的优点在于，采用的是针对机台的检测方法而不是现有技术中针对样品的检测方法。当一条生产线上某种机台的数目为两个或者两个以上，即存在平行机台的情况下，采用上述方法对平行机台进行监控，可以避免某个或者某些机台长时间内得不到检测，从而提高产品的良率。
产品进行在线检测方法以及装置

[发明专利]镜头校验方法及系统-CN200810200271.6有效
发明人： 吕秋玲;赵庆国;黄臣;高燕 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2008-09-23 - 公布日： 2010-03-31 - 主分类号： G03B43/00 文献下载
摘要：本发明提供镜头校验方法及系统，以提高校验效率及节约人力资源。该方法包括：获得待检测die的规定检测区域所对应的位置信息，采用待校验Canera检测待检测基元，得到实际检测区域及该区域对应的位置信息和校正特征参数信息，获得调整参数信息，以及根据所述位置信息、校正特征参数信息及调整参数信息，调整实际检测区域，使其与规定检测区域重合。
镜头校验方法系统

[发明专利]检测测试机台测量稳定性的方法-CN200810042737.4有效
发明人：张振华;方明海;吕秋玲 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2008-09-10 - 公布日： 2010-03-17 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明提出一种检测测试机台测量稳定性的方法，其包括下列步骤：提供控片作为测试晶圆，并在半导体衬底上电镀金属层；在所述金属层上沉积抗氧化层；利用测试机台对所述控片的金属层厚度进行一次以上测量；根据测量所得的一个以上金属层厚度值判断所述测试机台测量的稳定性是否在可接受范围内。本发明对测量所得的一个以上金属层厚度值进行计算得出标准偏差值，根据所得的标准偏差值即能够准确的判断测试机台的测量稳定性是否在可接受的范围之内，其操作简单有效，结果易于观察判断。
检测测试机台测量稳定性方法

[发明专利]环境参数测量方法及系统-CN200810042590.9无效
发明人：王勇;张诚;吴建桦;侯大维;杨洪春;吕秋玲 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2008-09-05 - 公布日： 2010-03-10 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本发明提供了环境参数测量方法及系统，以提高测量效率；该方法包括：获得需要测量环境参数的位置的位置信息；采集所述位置对应的环境参数值；以及存储所述位置信息和环境参数值信息的对应关系、位置信息及环境参数值信息。
环境参数测量方法系统

[实用新型]晶圆输送盒-CN200820155227.3有效
发明人：孙明;赵俊深;吕秋玲;杨洪春;杨斌 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2008-11-11 - 公布日： 2009-08-26 - 主分类号： H01L21/673 文献下载
摘要：本实用新型揭露了一种晶圆输送盒，包括盒体，所述盒体的侧面具有开口，所述盒体的顶部设有支架，所述晶圆输送盒还包括至少一挡板，所述挡板连接至所述支架并覆盖在所述盒体侧面的开口上，所述支架上设有若干夹持片，所述挡板由依次连接的挡板面、引导面以及折弯部构成，所述引导面和折弯部对应所述支架的夹持片设有等数量的夹槽，所述夹槽与所述夹持片相互夹持，所述挡板面和所述引导面之间形成的夹角与所述上盖和所述盒体的开口截面形成的夹角相一致。与现有技术相比，本实用新型通过在所述盒体上设置有与所述支架相互卡持的挡板，所述挡板上的挡板面阻挡了晶圆滑动滑出盒体，同时也避免了晶圆与外界污染物的接触。
输送

[发明专利]晶圆的出货品质保证检测方法-CN200710171573.0有效
发明人：康盛;王明珠;黄臣;吕秋玲 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-11-30 - 公布日： 2009-06-10 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆的出货品质保证检测方法，涉及半导体领域的检测工艺。现有的检测方法检测的区域和位置都是固定的，不能及时发现检测选定区域外的芯片的缺陷。本发明的检测方法包括：将晶圆分成若干区域，每一区域内包括若干个芯片，其中每一区域内的芯片数量相等或至多相差1个；根据晶圆的质量等级确定需要检测的芯片的最少数量；根据需要检测的芯片的最少数量，在所述区域内随机选取芯片进行检测，其中每一区域内检测的芯片数量相同或至多相差1个。本发明的检测方法是随机选择芯片进行检测的，在不增加检测芯片数量的情况下，检测到了更大的晶圆区域，通过对多个晶圆抽样，实现了对晶圆大部分区域芯片的检测，提高了检测结果的精确度。
出货品质保证检测方法

[发明专利]货物储存装置及方法-CN200710044552.2无效
发明人：康盛;赵庆国;王明珠;吕秋玲 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-08-03 - 公布日： 2009-02-04 - 主分类号： B65G1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种货物储存装置，其包括多个货架和一个服务器，每个货架有多个暂存区，每个暂存区安装了读码器，这些读码器用于读取存放于暂存区的货物的编码，服务器与多个货架连接用于接收货架所储存货物的编码。根据这些编码，服务器可以方便的管理货物储存装置所储存的货物。
货物储存装置方法

[发明专利]半导体测试管理系统-CN200710043871.1无效
发明人： 吕秋玲;许俊;庄祈龙;王明珠 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-07-17 - 公布日： 2009-01-21 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种半导体测试管理系统，本发明的半导体测试管理系统包括电路针测图，记录晶圆的电性特性；自动缺陷检测装置，检测晶圆的缺陷信息；存储筛选软件的计算机，筛选软件具有筛选标准对晶圆的缺陷信息进行筛选。采用本发明的半导体测试管理系统不仅能同时检测晶圆的缺陷，简化测试程序，而且通过计算机操作，提高测试效率。
半导体测试管理系统