专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种硅片检测装置-CN202110706393.8有效
  • 卢亚宾;王维;王聚;杜若愚;刘中海;陈淼淼;马行;程智;韩鑫;顾一鹏;朱江兵;梁坤;牛广升 - 博众精工科技股份有限公司
  • 2021-06-24 - 2023-02-03 - G01N21/88
  • 本发明涉及硅片检测设备技术领域,公开了一种硅片检测装置。其包括:图像采集件、挡板组件和光源组件。图像采集件用于采集待检测硅片上采集区域的图像;挡板组件置于图像采集件与待检测硅片之间,挡板组件包括第一挡板;光源组件包括两个光源,其中一个光源位于第一挡板的第一侧,另一个光源以及图像采集件位于第一挡板的第二侧,第一侧与第二侧相背设置,位于第一侧的光源发出的光线照射至第一挡板上并能够通过第一挡板散射至采集区域内,位于第二侧的光源出的光线能够由第二侧达到采集区域内。本发明实现了采集到的图像灰度分布均匀,提升了图像的对比度,更易于分析出硅片的缺陷,提高了硅片的检测精度。
  • 一种硅片检测装置
  • [发明专利]一种产品外观检测设备的校准方法及标定块-CN202110667773.5有效
  • 卢亚宾;陈淼淼;马行;王聚;唐警特 - 博众精工科技股份有限公司
  • 2021-06-16 - 2023-01-10 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种产品外观检测设备的校准方法及标定块,涉及产品外观缺陷检测技术领域。该校准方法包括:将多个第一标定板设置于特征标定块的各面上;通过图像处理算法计算得出特征标定块各面的第一标定板的平均灰度方差G,调整设备的方位使平均灰度方差G小于预设灰度方差;通过图像处理算法提取特征标定块上设置有刻度标尺的刻度区域并测量刻度间像素间隔,调整设备与特征标定块间的间距,使像素间隔处于预设像素间隔范围内,以使对应特征标定块的实际长度处于预设长度范围内;获取设置在特征标定块上箭头定点所在的图像像素坐标,调整设备位置使图像像素坐标与预设坐标的误差在预设误差值内。本发明能提高检测准确度,可靠性高。
  • 一种产品外观检测设备校准方法标定
  • [实用新型]一种硅片检测装置-CN202122044033.4有效
  • 卢亚宾;梁坤;张聪;云宏霞;曹深深 - 博众精工科技股份有限公司
  • 2021-08-27 - 2022-02-11 - G01N21/94
  • 本实用新型涉及硅片检测设备领域,公开了一种硅片检测装置。其包括传送单元、发光单元、反射单元、第一采集单元和第二采集单元。传送单元能够将硅片由第一检测位置沿传送方向传送至第二检测位置;发光单元包括第一光源和第二光源,分别置于传送单元垂直于传送方向的两侧;反射单元置于传送单元远离第一光源的一侧,反射单元包括两个反射镜,沿传送方向间隔设置并形成采集间隙;第一采集单元置于传送单元远离第二光源的一侧;第二采集单元设置在反射单元远离传送单元的一侧,第二采集单元能够通过采集间隙采集处于第一检测位置与第二检测位置之间的硅片的图像。本实用新型在同一工序内完成硅片的崩边及脏污的检测,提高了结构紧凑性。
  • 一种硅片检测装置
  • [实用新型]一种硅片检测装置-CN202122046124.1有效
  • 卢亚宾;曹深深;云宏霞;张聪;梁坤 - 博众精工科技股份有限公司
  • 2021-08-27 - 2022-02-11 - G01N21/88
  • 本实用新型涉及硅片检测技术领域,公开了一种硅片检测装置。硅片检测装置包括传送单元、采集件、红外光源和调节组件。传送单元用于沿传送方向传送硅片;采集件和红外光源分别置于传送单元垂直于传送方向的两侧,红外光源发出的光线能够穿过硅片后到达采集件的采集端;调节组件设置有两个,两个调节组件分别连接于采集件和红外光源,调节组件能够调整采集件或红外光源的角度。本实用新型扩大了采集件与红外光源之间的相对角度的调节范围,保证了成像效果,提高了硅片上的隐裂等缺陷在采集到的图像上的清晰程度,保证了检测结果的准确度。
  • 一种硅片检测装置
  • [发明专利]一种硅片检测装置-CN202110997705.5在审
  • 卢亚宾;曹深深;云宏霞;张聪;梁坤 - 博众精工科技股份有限公司
  • 2021-08-27 - 2021-12-07 - G01N21/88
  • 本发明涉及硅片检测技术领域,公开了一种硅片检测装置。硅片检测装置包括传送单元、采集件、红外光源和调节组件。传送单元用于沿传送方向传送硅片;采集件和红外光源分别置于传送单元垂直于传送方向的两侧,红外光源发出的光线能够穿过硅片后到达采集件的采集端;调节组件设置有两个,两个调节组件分别连接于采集件和红外光源,调节组件能够调整采集件或红外光源的角度。本发明扩大了采集件与红外光源之间的相对角度的调节范围,保证了成像效果,提高了硅片上的隐裂等缺陷在采集到的图像上的清晰程度,保证了检测结果的准确度。
  • 一种硅片检测装置
  • [发明专利]一种硅片检测装置-CN202110997707.4在审
  • 卢亚宾;梁坤;张聪;云宏霞;曹深深 - 博众精工科技股份有限公司
  • 2021-08-27 - 2021-11-09 - G01N21/94
  • 本发明涉及硅片检测设备领域,公开了一种硅片检测装置。其包括传送单元、发光单元、反射单元、第一采集单元和第二采集单元。传送单元能够将硅片由第一检测位置沿传送方向传送至第二检测位置;发光单元包括第一光源和第二光源,分别置于传送单元垂直于传送方向的两侧;反射单元置于传送单元远离第一光源的一侧,反射单元包括两个反射镜,沿传送方向间隔设置并形成采集间隙;第一采集单元置于传送单元远离第二光源的一侧;第二采集单元设置在反射单元远离传送单元的一侧,第二采集单元能够通过采集间隙采集处于第一检测位置与第二检测位置之间的硅片的图像。本发明在同一工序内完成硅片的崩边及脏污的检测,提高了结构紧凑性。
  • 一种硅片检测装置
  • [发明专利]一种产品缺陷检测仪及检测方法-CN202110571915.8在审
  • 卢亚宾 - 博众精工科技股份有限公司
  • 2021-05-25 - 2021-08-13 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种产品缺陷检测仪及检测方法,涉及产品外观缺陷检测技术领域。该产品缺陷检测仪包括:固定座;拍摄组件,包括设于固定座上的第一相机、第二相机和第三相机,第一相机倾斜设于产品的上方,以拍摄产品的俯视图像,第二相机与产品平行设置,以拍摄产品的平视图像,第三相机倾斜设于产品的下方,以拍摄产品的仰视图像;光源,设于固定座上,用于对产品打光。本发明能够对产品仰视、侧视及仰视进行图像拍摄,确保拍摄视野,减少视野盲区,提高成像清晰度,同时提高整体结构紧凑度、简化结构、缩小体积。
  • 一种产品缺陷检测方法

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