专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]OLED模组的老化寿命测试系统-CN201320891009.7有效
  • 苏萌;胡洪江;苏良河;杨林;刘群兴;蒋春旭;徐华伟;黄林轶;王颍凯;王深;刘嘉祁 - 工业和信息化部电子第五研究所
  • 2013-12-31 - 2014-07-16 - G09G3/00
  • 本实用新型提供一种OLED模组的老化寿命测试系统,包括:工控机、可编程控制器、程控电源、光谱仪、光学探头、温变箱和OLED模组承载装置;OLED模组承载装置设于温变箱内,用于承载待测的OLED模组;工控机分别与程控电源、可编程控制器、光谱仪和温变箱连接;光学探头设于温变箱上方并连接光谱仪;程控电源用于对待测的OLED模组进行供电;工控机用于实时控制程控电源并读取程控电源的输出数据,通过可编程控制器控制所述程控电源输出的通断,控制光谱仪的操作并实时读取光谱仪的检测数据。本实用新型的技术方案,可以在大范围温变环境下对OLED模组的光学参数的测试,提高了老化寿命的测试结果的准确性,而且实现测试过程的自动化,提高了测试效率。
  • oled模组老化寿命测试系统
  • [发明专利]OLED模组的快速温变强化测试系统-CN201310754563.5有效
  • 苏萌;胡洪江;苏良河;杨林;刘群兴;蒋春旭;徐华伟;黄林轶;王颍凯;王深;刘嘉祁 - 工业和信息化部电子第五研究所
  • 2013-12-31 - 2014-04-09 - G09G3/00
  • 本发明提供一种OLED模组的快速温变强化测试系统,包括:工控机、可编程控制器、程控电源、光谱仪、光学探头、快速温变箱和OLED模组承载装置;OLED模组承载装置设于快速温变箱内,用于承载待测的OLED模组;工控机分别与程控电源、可编程控制器、光谱仪和快速温变箱连接;光学探头设于快速温变箱上方并连接光谱仪;程控电源用于对待测的OLED模组进行供电;工控机用于实时控制程控电源并读取程控电源的输出数据,通过可编程控制器控制所述程控电源输出的通断,控制光谱仪的操作并实时读取光谱仪的检测数据。本发明的技术方案,可以在大范围快速温变环境下对OLED模组的光学参数的测试,提高了测试结果的准确性,而且实现测试过程的自动化,提高了测试效率。
  • oled模组快速强化测试系统

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