专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种晶棒自动粘接设备-CN202310068094.5有效
  • 甄伟;赵松彬;张锐;张诚 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2023-01-17 - 2023-10-17 - B28D5/00
  • 本发明公开了一种晶棒自动粘接设备,其中,运输装置将晶棒输送至粘接装置中;晶向测量单元测量晶棒的晶向,得到X轴方向偏差角和X轴偏差方向;粘接通信控制单元将X轴晶向偏差角和X轴晶向偏差方向发送给涂胶通信控制单元;涂胶单元将缓冲板的下表面通过粘接剂粘贴在料座上,以及在缓冲板的上表面涂上粘接剂,从而形成料座组件;其中,缓冲板的轴线朝第一方向偏离料座的轴线的夹角为X轴晶向偏差角,第一方向与X轴晶向偏差方向相反;缓冲板的上表面呈与晶棒侧面相适配的向下表面凹陷的弧面;运输装置将料座组件输送至粘接装置中;粘接单元将料座的轴线朝X轴晶向偏差方向转动X轴晶向偏差角,并将晶棒粘接在缓冲板的上表面。
  • 一种自动设备
  • [实用新型]垫条清洁测量机构-CN202321300298.9有效
  • 张诚;张锐;甄伟;赵松彬 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2023-05-26 - 2023-09-12 - B08B1/02
  • 本实用新型公开了垫条清洁测量机构,包括支架、主动机构、从动机构、传动带和清洁结构,主动机构和从动机构分别装配于支架上表面两端的轴承座上,清洁结构装配于支架的上表面中部,传动带套接于主动机构与从动机构上,且传动带穿过清洁结构,支架的上表面前后两侧均固定安装有侧支板,侧支板的上表面装配有清洁前传感器和清洁后传感器,且清洁前传感器与清洁后传感器分别位于清洁结构的右侧和左侧,传动带上固定安装有挡块,本实用新型采用毛刷辊逆向刷配合风刀吹扫方式清洁垫条表面,取消了人工作业的方式,也取消了酒精的使用,提高了垫条表面清洁度的稳定性,提高了工作效率,降低了作业区的安全风险。
  • 清洁测量机构
  • [实用新型]料座表面自动涂胶机构-CN202321300712.6有效
  • 张诚;张锐;甄伟;赵松彬 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2023-05-26 - 2023-09-08 - B05C5/02
  • 本实用新型公开了料座表面自动涂胶机构,包括平板、涂胶机构、运输机构和检测机构,涂胶机构和运输机构均安装于平板上,检测机构安装于涂胶机构上,本实用新型设计了可进行左右移动和升降的涂料机构,以及可前后移动和转向的运输机构,可以在预设指定位置准确涂胶,提高了涂胶速度和涂胶粘接的稳定性,降低了工人的劳动强度,为自动化粘接工艺提供了技术上的支持,还对胶阀进行了设计,采用螺杆胶阀加压盘泵的组合,在同样的使用条件下节约了胶水的用量,提高了胶水混合比例的准确性,保证了粘接效果的一致性,可以更准确的控制出胶量和出胶速度。
  • 表面自动涂胶机构
  • [实用新型]一种垫条切割机构-CN202321301872.2有效
  • 张诚;张锐;甄伟;赵松彬 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2023-05-26 - 2023-09-08 - B23D45/00
  • 本实用新型属于切割设备技术领域,特别提供了一种垫条切割机构,包括防护罩和切割机主体,防护罩装配于切割机主体的外部;切割机主体包括机架、主输送带、副输送带、升降驱动机构、切割锯、锁紧机构和限位板,防护罩包括主壳体、副壳体和活动门。本切割机构采用升降驱动机构驱动带动切割锯升降,通过自下而上进给,实现对垫条的切割分离工作;采用输送带运输和支撑垫条,采用锁紧机构将垫条扣压在输送带上,达到固定垫条的效果,以防止垫条在切割过程中发生偏移;采用防护罩隔离切割机主体,防止切割过程中飞沫外溅;整体提高了切割效率和切割准确性,改善了工作环境,降低了作业人员受伤的风险,提高了垫条的利用率。
  • 一种切割机构
  • [发明专利]一种自动晶体定向测量及多晶棒粘接复检设备-CN202111294958.2有效
  • 甄伟;赵松彬 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2021-11-03 - 2023-05-09 - B28D5/00
  • 本发明提供一种自动晶体定向测量及多晶棒粘接复检设备,该自动晶体定向测量及多晶棒粘接复检设备,包括测量机构、摆转机构、粘接机构、壳体机构和夹手机构。该自动晶体定向测量及多晶棒粘接复检设备,实现了晶棒的粘接测量复检等工序在同一机台完成,料板座只需一次装夹,粘接精度得到提高;能够对粘接的多个晶棒进行逐棒复检;粘接过程中晶体相向的偏角有自动计算自动补偿功能;测量过程中实现自动寻峰判峰功能;粘接过程中晶体的偏差角通过胶水固化填充,无需其他辅助工序;通过机台自动完成粘接操作,屏蔽人为因素的影响,粘接结果稳定性好;机台校准后,粘接准确性好;设备对每根晶棒进行复检,提高粘接成品的合格率。
  • 一种自动晶体定向测量多晶棒粘接复检设备
  • [实用新型]一种多晶衍射测量的微调机构-CN202222018415.4有效
  • 甄伟;赵松彬 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2022-08-02 - 2023-02-10 - G01N23/207
  • 本实用新型公开了一种多晶衍射测量的微调机构,涉及多晶衍射测量技术领域,包括X光发射器,还包括支撑板,支撑板包括水平部与竖直部,竖直部活动安装于X光发射器上,竖直部相对于X光发射器的一侧设置有第一挡光板,水平部上活动设置有第一晶柱,第一晶柱上设置有第一衍射晶片。本实用新型提供的多晶衍射测量的微调机构,设置第一挡光板、第二挡光板和第三挡光板来约束调节X光穿过三个挡光板的照射范围,设置可旋转的第一晶柱放置第一衍射晶片,以便通过调节第一晶柱来调节第一衍射晶片的角度,通过设置调节板来调节第二晶柱的角度,以便于调节第二衍射晶片的角度,实现多角度调节测试,第一晶柱与第二晶柱的配合可以同时测量复数的晶片。
  • 一种多晶衍射测量微调机构
  • [实用新型]一种自动测量的联动机构-CN202221953544.6有效
  • 甄伟;赵松彬 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2022-07-27 - 2023-02-07 - G01N23/04
  • 本实用新型公开了一种自动测量的联动机构,涉及晶体自动定向测量技术领域,包括底板,底板上对称设置有第一弧形导轨,且两个第一弧形导轨同心,底板上分别设置有用于检测晶体质量的X光发射器和X光接收器,X光发射器和X光接收器均设置有磁栅头,底板上设置有呈弧形分布的且与磁栅头配合的磁栅条,磁栅条与第一弧形导轨同心,X光发射器和X光接收器受驱移动以检测晶体质量。本实用新型提供的自动测量的联动机构,在使用时,先将待测晶体放置在适当位置上,并位于第一弧形导轨的圆心处,此时驱动X光发射器和X光接收器沿着第一弧形导轨移动,同时磁栅头与磁栅条配合,记录X光发射器和X光接收器的运动角度,再根据后续信息处理测得晶体的质量。
  • 一种自动测量联动机构
  • [实用新型]一种具有多方向调整功能的料座定位机构-CN202221202701.X有效
  • 甄伟;赵松彬;张诚 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2022-05-19 - 2023-01-10 - B28D5/00
  • 本实用新型公开了一种具有多方向调整功能的料座定位机构,涉及晶体自动定向测量加工领域,包括料板定位组件,所述料板定位组件的底端装配有回转组件,所述回转组件的底端设置有摆角组件,所述摆角组件的底端连接有升降组件;所述回转组件包括:摇篮支架,所述摇篮支架用以支撑本组件,并与摆角组件相连,本组件会随着摇篮支架的运动而同步运动,所述摇篮支架的顶端装配有回转工作台,所述回转工作台设有中空结构,上方连接料板定位组件中的底板,并驱动所述底板进行回转运动。本实用新型便于实现晶棒切割新工艺,此工艺切割时,使切割后的晶片稳定性好,极大降低了后续加工的难度,提高了成品质量和成品率。
  • 一种具有多方调整功能定位机构
  • [实用新型]一种高精度高分辨率的倾角回转机构-CN202221908142.4有效
  • 甄伟;赵松彬 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2022-07-22 - 2023-01-10 - H01L21/687
  • 本实用新型公开了一种高精度高分辨率的倾角回转机构,涉及半导体加工技术领域,包括底板以及对称固定安装于底板上的轴承支架和支撑架,支撑架朝向轴承支架的一侧设置有侧立回转台,侧立回转台的旋转部件上固定安装有转接架,转接架上设置有水平回转台,转接架朝向支撑架的一侧设置有编码器转接轴,编码器转接轴的另一端设置有联轴器,联轴器的另一侧设置有编码器本体。本实用新型提供的双向倾角及回转机构,倾角正反运动时无行程间隙,倾角后有自保持功能,通过采用中空回转台侧向安装的方式实现倾角运动,电机与高精度编码器本体配合实现高精度高分辨率控制,转接架上方水平布置回转工作台,实现载物台的回转功能。
  • 一种高精度高分辨率倾角回转机构
  • [发明专利]一种半导体级单晶硅晶棒定向测试系统-CN201810915272.2有效
  • 甄伟;赵松彬 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2018-08-13 - 2022-12-02 - B28D5/00
  • 本发明公开了一种半导体级单晶硅晶棒定向测试系统,包括料板机构、料板旋转机构、升降机构、摆转机构和驱动机构,所述摆转机构包括安装座,安装座的顶部安装有减速机,减速机的顶部设有与减速机连接的第二电机,第二电机的一侧安装有第一编码器,驱动机构设置于第二电机的另一侧,第二电机靠近驱动机构的一侧还安装有水平设置的定位探针,安装座的底部还安装有第二直线导轨,第二直线导轨的一侧活动安装有丝杠,丝杠的一端通过第一联轴器安装有第三电机,所述驱动机构包括行走部分、两组跟随行走部分运动的X光发生部分以及两组信号系统。本发明设计合理,使切片后精度控制在±3′以内,以满足半导体级单晶硅的切片制品精度日益提高的需要。
  • 一种半导体单晶硅定向测试系统
  • [实用新型]一种晶棒运输治具-CN202221256477.2有效
  • 甄伟;赵松彬;张诚 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2022-05-24 - 2022-09-16 - B28D5/00
  • 本实用新型公开了一种晶棒运输治具,涉及半导体加工领域,包括底板,所述底板上方对称安装有两组侧板,两组所述侧板的另一端均装配有第一轴承轮,所述底板外壁装配有第二轴承轮,对称安装的所述侧板中间设置有两组直线导轨,所述直线导轨的上方均安装有齿条,所述齿条上均设置有锁紧支架,两组所述侧板中间位置处并位于底板的上方安装有阻尼器,所述阻尼器的外壁安装有齿轮。本实用新型便于锁紧支架在晶棒的前后端面夹持,所以保证了治具在运输过程中短晶棒不会发生倾覆,提高了运输的安全性。
  • 一种运输
  • [实用新型]一种大扭矩高精度的机械手摆角机构-CN202121137269.6有效
  • 张诚 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2021-05-26 - 2022-02-01 - B25J18/00
  • 本实用新型提供一种大扭矩高精度的机械手摆角机构,支臂和谐波减速机;所述支臂的前端通过安装板与所述谐波减速机的后端连接;其中还包括有支座;所述支座设置在所述谐波减速机的前端,所述支座的上方设置有转接支架,其中转接支架的另一端连接到支臂内。本实用新型中,通过设置谐波减速机驱动和编码器进行高精度控制,能够实现支臂的摆角功能,电机有自保持力矩,通过减速机传动比放大,使支臂摆角后在偏载外力作用下不发生变形,实现摆角保持功能;从而提供一个高精度,大扭矩,性能稳定的摆角机构,正反运动时无空程间隙,摆角后具有保持功能,不仅能够节省成本且可大力发展和普及。
  • 一种扭矩高精度机械手机构
  • [实用新型]一种自动寻峰测量的驱动机构-CN202121137276.6有效
  • 张诚 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2021-05-26 - 2021-12-07 - G01N23/207
  • 本实用新型提供一种自动寻峰测量的驱动机构,包括底板,所述底板的上方对称式开设有两个内弧形导轨,其中两个内弧形导轨上滑动连接有滑块,滑块能够在内弧形导轨上延弧形方向滑动,且两个滑块上均连接有涡轮片,两个所述涡轮片的上方一侧又啮合连接有驱动蜗杆。本实用新型中,采用圆弧导轨控制发射器和接收器的同心运动,采用涡轮蜗杆分别驱动发射器和接收器的相对运动,通过高精度的编码器来计算发射器和接收器的移动距离,可实现自动控制,无需手动调节,通过反馈信息和控制系统可以计算出测量的晶体晶向的数值,不会存在系统测量的偏差,准确性更高。
  • 一种自动测量驱动机构
  • [实用新型]一种带翻转功能的移动机构-CN202121137267.7有效
  • 张诚 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2021-05-26 - 2021-11-23 - F16M11/04
  • 本实用新型提供一种带翻转功能的移动机构,包括:摆转底座、两个直线导轨和一个滚珠丝杆,所述摆转底座的底部两侧均设置有滑块,滑块分别与两个直线导轨滑动连接,所述摆转底座的底部中间位置处通过连接组件可拆卸连接有丝母。本实用新型中,通过直线导轨和滚珠丝杆的组合来驱动整体机构的前后移动,通过减速机带动旋转主轴实现翻转功能,同时设置编码器能够控制翻转的角度和精度;即通过电机驱动减速电,带动旋转主轴转动,通过编码器控制旋转主轴的摆转角度,从而实现不同方向的测量,且可以达到很高的精度,进而弥补减速机传动间隙对对摆转精度的影响,采用上述设置可使得测量更加精准,稳定性高。
  • 一种翻转功能移动机构
  • [发明专利]一种半导体级单晶硅晶棒定向测试系统-CN202110555613.1在审
  • 甄伟;赵松彬 - 丹东新东方晶体仪器有限公司
  • 2021-05-21 - 2021-08-24 - G01N23/00
  • 本发明公开了一种半导体级单晶硅晶棒定向测试系统,包括装置主体、输送带、支撑板以及控制面板,所述输送带固定安装在装置主体的上端面,所述控制面板固定连接在装置主体的前端面,所述支撑板固定连接在控制面板的下端面,所述输送带的上端面开设有承载槽,所述承载槽的内部放置有承载装置,所述承载装置的内部承载有晶棒,所述输送带的末端设有分离收集装置,所述分离收集装置固定连接在装置主体的上端面,所述装置主体的上端面中部还固定连接有定位环,且所述定位环位于分离收集装置的上方一侧,所述装置主体的上端面固定连接有夹持装置,所述夹持装置位于分离收集装置的一侧,实现对晶棒的快速定向测试。
  • 一种半导体单晶硅定向测试系统

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