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[发明专利]信息积累装置、信息积累方法以及程序-CN201780069436.8有效
发明人：柏木启一郎;泷泽允;田中裕之;中村隆幸;吉田由唯 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2017-11-09 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G06F16/28 文献下载
摘要：在一个方式中，信息积累装置具有：脚本执行环境；积累检索部，其对数据进行积累，进行针对积累的数据的检索；通知部，其在新积累于积累检索部的数据符合条件时输出通知；脚本；以及动作对应信息。脚本执行环境具有能够利用执行的脚本而记述对数据进行检索的指示以及通过网络进行通信的指示的特征。信息积累装置还具有：收集部，其通过网络对数据进行收集并登记于积累检索部；以及脚本执行部，其接收通知，利用所述脚本执行环境并根据动作对应信息而执行与条件关联的脚本。
信息积累装置方法以及程序

[发明专利]调色剂、显影剂、处理盒和图像形成设备-CN201310083041.7有效
发明人：井上竜太;加藤博秋;关匡宏;斋藤俊;关口良隆;御厨义博;不破一兴;小川哲;深尾朋宽;中村隆幸 -专利权人：株式会社理光
申请日： 2013-03-15 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： G03G9/08 文献下载
摘要：本发明涉及调色剂、显影剂、处理盒和图像形成设备。所述调色剂包括：粘结剂树脂；包封脱模剂的囊；和着色剂，其中所述包封脱模剂的囊各自包括：由不同于所述粘结剂树脂的树脂(I)形成的囊；和包封在所述囊中的脱模剂(RA)，以及所述包封脱模剂的囊存在于所述粘结剂树脂中，并且其中50%～100%的所述包封脱模剂的囊存在于从所述调色剂的表面到所述调色剂的0.10倍体均粒径的深度的区域内。
调色显影剂处理图像形成设备

[发明专利]具有测长功能的扫描型电子显微镜以及试样尺寸测长方法-CN200880004555.6无效
发明人： 中村隆幸;岩井俊道;信太总一;广山三津雄 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2008-02-18 - 公布日： 2009-12-16 - 主分类号： H01J37/28 文献下载
摘要：本发明提供一种具有测长功能的扫描型电子显微镜以及试样尺寸测定方法，能够减少由测定对象的图案形状引起的测长值的变动并提高测长精度。具有测长功能的扫描型电子显微镜具有：电子枪，其发射电子束；测定对象区域设定部，其设定形成在试样上的图案的测定区域；存储部，其记录所指定的测定区域；束闸部，其根据测定区域来控制电子束的照射；以及控制部，其从存储部提取所指定的测定区域，对于该测定区域以外的区域，由束闸部来阻断电子束，对于该测定区域，使通过了所述束闸部的电子束照射在试样上来取得该测定区域的图像，并进行图案的测长。也可以是，测定区域是一对测定区域，各测定区域的面积相等。
具有功能扫描电子显微镜以及试样尺寸方法

[发明专利]电子束长度测量装置和长度测量方法-CN01804835.8无效
发明人：松本纯;中村隆幸;平野基司 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2001-04-24 - 公布日： 2003-03-05 - 主分类号： G01B15/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种可以高精度地对长度测量对象上的预定部分实施长度测量的电子束长度测量装置和长度测量方法。本发明提供的一种电子束长度测量装置可以具有形成有包括基准部分的基准尺寸图样的基准基板(13)；搭载基准基板(13)和长度测量对象(12)用的显微镜载物台(14)；使电子束在包含基准基板(13)上的基准部分的预定位置处实施扫描，依据二次电子变化状况对电子束照射至基准部分处的照射时间实施检测，进而依据该时间和基准部分的长度对时间与长度间的对应关系实施检测的校正控制部(64)；以及使电子束在长度测量对象(12)上实施扫描，依据二次电子变化状况对电子束照射至长度测量对象(12)上预定部分处的照射时间实施检测，进而依据对应关系对长度测量对象上预定部分的长度实施检测的长度测量控制部(58)。
电子束长度测量装置测量方法