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[实用新型]一种透风不透光LED显示装置-CN201620739909.3有效
发明人：王祥付;刘垣贤;严向阳;陈祥江 -专利权人：深圳市联建光电股份有限公司;深圳市联建光电有限公司
申请日： 2016-07-13 - 公布日： 2017-01-25 - 主分类号： G09F9/33 文献下载
摘要：一种透风不透光LED显示装置，包括由设置LED灯珠的多个帽檐条组成的面罩、PCBA板以及底壳，所述底壳上设置有延伸至底壳外部的至少一个第一孔，所述PCBA板上设置有至少一个第二孔，所述帽檐条设置在所述面罩上，并与所述面罩具有夹角，在至少一个所述帽檐条与所述面罩垂直的平面上设置有至少一个第三孔；所述第一孔、第二孔及第三孔依次导通。采用本实用新型LED显示装置解决了纯户外安装环境中LED显示装置的透风问题，降低了LED显示装置因风力造成的垮塌事故发生的可能性；并在不增加产品成本的情况下，有效解决了LED显示装置后面的散热问题，改善了LED显示装置的显示效果，延长了LED显示装置的使用寿命。
一种透风不透光 led 显示装置

[实用新型]一种半导体元器件的多工位测试装置-CN201620552944.4有效
发明人： 严向阳;区永强;肖志华 -专利权人：佛山市蓝箭电子股份有限公司
申请日： 2016-06-08 - 公布日： 2016-11-16 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体元器件多工位测试装置，其中，包括至少三个独立的测试工位和至少一导轨；每个工位，对应于被测试半导体元器件的各个引脚，设有多个导电测试爪；所述测试爪通过导线与一主机控制器连接，并接受一测试爪驱动机构驱动而移动，与所述被测试半导体元器件引脚电接触。由于设置了至少三个工位以及工位切换导轨，本实用新型的半导体元器件多工位测试装置，可以一次性完成所测试的半导体元器件所有参数的测量，从而提高了工作效率，并降低了测试的成本，从而保证了产品的品质。
一种半导体元器件多工位测试装置

[实用新型]可实现多向调节功能的显示屏固定装置-CN201520289031.3有效
发明人：周桂锋;严向阳;李存知 -专利权人：深圳市联建光电股份有限公司;深圳市联建光电有限公司
申请日： 2015-05-06 - 公布日： 2015-11-11 - 主分类号： F16M13/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了可实现多向调节功能的显示屏固定装置，包括底座、滑座、导向结构与位移调节结构，滑座用于连接显示屏，其可通过导向结构相对底座沿X轴、Y轴与Z轴方向移动，位移调节结构用于调节滑座沿X轴与Z轴方向移动的距离，并可将其固定在当前位置。本实用新型可以实现显示屏的多向调节，操作方便、快捷，显示屏的拼接精度高，有助于提高安装效率，减少人力成本。
实现多向调节功能显示屏固定装置

[实用新型]一种可进行翻转前维护的LED显示屏及其翻转装置-CN201420566100.6有效
发明人：周桂锋;严向阳;刘汉平 -专利权人：深圳市联建光电股份有限公司;深圳市联建光电有限公司
申请日： 2014-09-28 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： F16M13/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可进行翻转前维护的LED显示屏及其翻转装置，其中翻转装置包括固定件，固定件上设有横向滑孔，横向滑孔的中部开设有一进口，固定件对应横向滑孔安装有可上下移动的锁紧件，锁紧件设置有可与横向滑孔一端配合用于抱紧被夹物的缺口，锁紧件与固定件之间设置有驱动锁紧件向上移动的弹性装置，锁紧件的侧端设有方便拉动锁紧件向下移动的拉耳，固定件上还设置有翻转固定孔。本实用新型结构简单，生产成本低，模组与翻转装置采用挂接式安装，可快速固定和快速拆装，使用方便快捷，而且可以应用于幕墙屏、贴墙屏等，应用范围广。
一种进行翻转维护 led 显示屏及其装置

[实用新型]一种双二极管串联连接的器件-CN201420109032.0有效
发明人：杨林;严向阳;张国光;徐庆文;张国俊 -专利权人：佛山市蓝箭电子股份有限公司
申请日： 2014-03-11 - 公布日： 2014-07-16 - 主分类号： H01L25/07 文献下载
摘要：本实用新型属于半导体元器件制造领域，特别是一种双二极管串联连接的器件，包括二极管芯片、载芯板、引线框架、引脚和塑封，所述二极管芯片包括左芯片和右芯片，左芯片的阴极通过背面金属和焊料与载芯板连接，左芯片的阳极通过焊料和第一引线与第一引脚连接；右芯片的阴极通过背面金属、焊料和第二引线与第三引脚连接，右芯片的阳极通过焊料、铜柱与载芯板连接；所述的载芯板与第二引脚连接。本实用新型可以有效提高半导体器件集成度，提高客户装配效率，降低制造和使用成本。
一种二极管串联连接器件

[实用新型]可调节通透量的LED显示模组-CN201320524358.5有效
发明人：周桂峰;严向阳;孙慧洁 -专利权人：深圳市联建光电股份有限公司
申请日： 2013-08-27 - 公布日： 2014-02-12 - 主分类号： G09F9/33 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种可调节通透量的LED显示模组，包括显示模组主体，所述LED显示模组还包括固设于其显示面上的底壳及可调地固设于所述底壳上的百叶板，底壳上的第一透光孔与百叶板上的第二透光孔交错配合形成不同的透光形式。本实用新型实施例的可调节通透量的LED显示模组通过采用设置底壳及在底壳上可调地固设百叶板,底壳上的第一透光孔与百叶板上的第二透光孔交错配合形成不同的透光形式的技术手段，达到了根据不同时段、场合对不同通透量的需要灵活进行调节的技术效果。
调节通透 led 显示模组

[发明专利]多进程通信系统及其建立和通信方法-CN201210183563.X在审
发明人： 严向阳 -专利权人：上海斐讯数据通信技术有限公司
申请日： 2012-06-05 - 公布日： 2013-12-18 - 主分类号： G06F9/54 文献下载
摘要：本发明公开了一种多进程通信系统及其建立和通信方法。其中多进程通信系统包括一中央进程和多个进程；其中各个所述进程分别通过IPC方式连接至所述中央进程；所述中央进程将各个进程的通信连接标识和进程标识的写入一对应关系表；当所述进程中任一个进程作为发送进程向所述进程中与所述发送进程不同的作为接收进程的另一个进程发送一数据时，所述中央进程接收所述数据，并通过所述接收进程的进程标识从所述对应关系表中查找所述接收进程的通信连接标识，并通过所述接收进程的通信连接标识将所述数据发送至所述接收进程。本发明在多个进程之间构建一种星型的通信连接结构，所以不再需要在各个进程中建立大量的IPC实例来实现进程间的数据通信。
进程通信系统及其建立方法

[实用新型]半导体器件高温性能的测试和分选装置-CN201320390760.9有效
发明人：杨林;严向阳;陈祺 -专利权人：佛山市蓝箭电子股份有限公司
申请日： 2013-07-02 - 公布日： 2013-12-18 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型涉及半导体器件的测试技术领域，特别是半导体器件高温性能的测试和分选装置，包括保温系统、器件输送管道、器件测试系统和分选系统，保温系统包括保温箱，在保温箱内顺序设置升温舱、保温舱、降温舱；器件输送管道从保温箱的入口进入升温舱、保温舱和降温舱后，从保温箱出口穿出，在输送管道通过保温箱的入口、出口和通过各个舱室的关口分别设置舱门；半导体器件顺序放置在输送管道内，器件的引脚从输送管道侧面的开口伸出；器件测试系统包括对器件的引脚实现电接触的测试爪机构和设置在保温箱外的器件性能测试仪。本实用新型能有效实现产品百分之百的连续检测，保证产品质量。
半导体器件高温性能测试分选装置

[实用新型]一种带栅极保护的IGBT器件-CN201320085846.0有效
发明人：杨林;严向阳 -专利权人：佛山市蓝箭电子股份有限公司
申请日： 2013-02-25 - 公布日： 2013-07-31 - 主分类号： H01L25/065 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种带栅极保护的IGBT器件，由三个电极组成，分别是栅极G、集电极C和发射极E，其特征是，在IGBT器件的栅极G与发射极E之间并联有双向稳压二极管D，该双向稳压二极管D与IGBT器件封装在一起，这样的设计，将双向稳压二极管以并联的方式封装在一起，形成一个集成度更高的IGBT分立器件，可简化外围电路、降低使用成本、提高装配效率的同时，避免脉冲尖峰、浪涌导致的失效现象发生，提高产品的可靠性。
一种栅极保护 igbt 器件

[实用新型]一种复合封装的IGBT器件-CN201220726212.4有效
发明人：杨林;严向阳;张国光 -专利权人：佛山市蓝箭电子股份有限公司
申请日： 2012-12-25 - 公布日： 2013-06-12 - 主分类号： H01L25/16 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种复合封装的IGBT器件，包括IGBT芯片和二极管芯片、底板和三个引脚，所述底板与第二引脚连接、与第一引脚和第三引脚隔离，所述IGBT芯片和二极管芯片通过焊料粘接到底板上；所述的IGBT芯片的集电极与二极管芯片的阴极分别通过焊料与底板实现电气连接，IGBT芯片的发射极与二极管芯片的阳极分别通过导电引线与第三引脚的打线区实现电气连接，IGBT芯片的栅极通过导电引线与第一引脚的打线区实现电气连接。本实用新型将上述的两个芯片以反并联的方式封装在一起，形成一个集成度更高、带逆向导通二极管的IGBT分立器件，有效降低整机内部引线电感，提高产品的功率密度，具有结构精巧简单，节省空间，可靠性高等优点。
一种复合封装 igbt 器件

[实用新型]LED灯条、显示模组及其显示屏-CN201220509304.7有效
发明人： 严向阳;周桂峰;刘汉平 -专利权人：深圳市联建光电股份有限公司
申请日： 2012-09-27 - 公布日： 2013-05-15 - 主分类号： F21S4/00 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种LED灯条，包括壳体和设于壳体内的LED灯板，所述LED灯板两端各设置有一电源转换器。本实用新型实施例同时还公开了一种由若干上述LED灯条通过安装组件组合挂接形成的LED显示模组及由若干如上所述LED显示模组相互拼接形成的LED显示屏。本实用新型实施例的LED灯条通过于LED灯板两侧各设置一电源转换器并将像素组分设为两组独立的子像素组，实现电源及显示信号的双备份，有效降低维护次数，同时通过挂钩安装组件实现LED灯条的挂接，安装简便安全，更适于高层楼面亮化工程的安装需求。
led 显示模组及其显示屏

[发明专利]一种IGBT器件的复合装载连线方法-CN201210572126.7有效
发明人：杨林;严向阳;张国光;袁凤江;杨全忠;黄荣华;姚剑锋;王光明 -专利权人：佛山市蓝箭电子股份有限公司
申请日： 2012-12-25 - 公布日： 2013-04-24 - 主分类号： H01L21/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种IGBT器件的复合装载连线方法，包括有IGBT芯片、二极管芯片、底板、打线区和三个引脚，根据底板的长宽尺寸和IGBT芯片和二极管芯片焊料的长宽尺寸确定IGBT芯片和二极管芯片在底板上的装载位置，通过导电引线将IGBT芯片的发射极E与第三引脚的打线区实现电气连接，通过导电引线将二极管芯片的阳极A与第三引脚的打线区实现电气连接，通过导电引线将IGBT芯片的栅极G与第一引脚的打线区实现电气连接，实现IGBT芯片与二极管芯片以反并联的方式连接在一起，这样的方法，形成一个集成度更高、带逆向导通二极管的IGBT分立器件，降低整机内部引线电感，提高产品的功率密度，具有结构精巧简单，节省空间，可靠性高等优点。
一种 igbt 器件复合装载连线方法

[实用新型]一种带抗饱和网络的高反压晶体管-CN201220535054.4有效
发明人：杨林;严向阳;张国光;庞学景;徐庆文;刘晓荣 -专利权人：佛山市蓝箭电子股份有限公司
申请日： 2012-10-18 - 公布日： 2013-04-03 - 主分类号： H03K17/56 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种带抗饱和网络的高反压晶体管，其晶片上以NPN晶体管为主晶体管，其特征在于：晶片上还集成有由PNP晶体管和二极管构成的有源抗饱和电路，其中，PNP晶体管的发射极与NPN晶体管的基极连接，PNP晶体管的集电极与NPN晶体管的发射极连接，PNP晶体管的基极与NPN晶体管的集电极连接，这样的设计，改善高反压晶体管的开关特性，降低工作温升，减少晶体管的损耗，提高大批量生产时的工艺宽容度，具有结构精巧简单，可靠性高，高温特性好等优点。
一种饱和网络高反压晶体管

[实用新型]电子元器件落料缓冲机构-CN201220196995.X有效
发明人：卓维煌;严向阳;余辉灿 -专利权人：佛山市蓝箭电子股份有限公司
申请日： 2012-05-04 - 公布日： 2013-03-13 - 主分类号： B65G51/02 文献下载
摘要：一种电子元器件落料缓冲机构，所述机构由缓冲垫、上盖板、底盖板、连接柱、旋转块、支撑板A、支撑板B、连接块组成，其中所述旋转块与上盖板连接，并与支撑板B形成旋转关节。通过电子元器件在气流的作用下从上方吹下，经过缓冲垫时，在缓冲垫内壁会有无规则的碰撞，在此过程中电子元器件的速度有显著的下降；缓冲垫材料采用硅胶，硅胶材质较软，有很好的弹性，在碰撞过程中对电子元器件起到很好的保护作用。
电子元器件缓冲机构

[发明专利]半导体三极管内部偏置电阻的测试方法-CN201210449196.3无效
发明人：杨林;严向阳;张国光;庞学景;徐庆文;姚剑锋;刘晓荣;张国俊;杨谱;陈祺;代新鹏 -专利权人：佛山市蓝箭电子股份有限公司
申请日： 2012-11-12 - 公布日： 2013-02-27 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种判定半导体三极管内部偏置电阻值的测试方法，在三极管eb结上加反向电压，反向电压小于反向击穿电压，eb结上产生反向电流，把测得的三极管eb结上两端所加电压的差值与电流差值相比，得到第一电阻与第二电阻的和值，加大反向电压，使反向电压大于反向击穿电压，三极管eb结雪崩击穿，eb结上并联的第二电阻被短路，测得相应的反向电流，该电压值与电流值相比就是第一电阻的阻值，根据电阻的阻值是否落入标准电阻值的误差范围来判别三极管是否符合规格要求，这样的方法，实现准确测量三极管偏置电阻值的大小，保证产品质量、提高检测效率、降低生产成本，为实现以自动化设备来测试筛选三极管偏置电阻提供可能。
半导体三极管内部偏置电阻测试方法