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[发明专利]光纤光学相干测距装置和光纤光学测距方法-CN201310654868.9在审
发明人：袁海骏;杨德志;周伟;凌清;任伟;王克银 -专利权人： 上海舜宇海逸光电技术有限公司
申请日： 2013-12-05 - 公布日： 2015-06-10 - 主分类号： G01S17/32 文献下载
摘要：本发明公开了一种光纤光学相干测距装置和光纤光学相干测距方法，该测距装置包括：带波长扫描的解调单元、光学头、以及用于将解调单元发出的激光传导至光学头上的单模光纤传导单元，其中，光学头包括准直透镜系统和参考面，其中准直透镜系统用于将单模光纤传导单元的光纤端面输出的激光准直；参考面用于将经过准直的激光的一部分反射回光纤端面并耦合进入单模光纤；以及解调单元用于检测单模光纤内的相干光并且用于根据相干光计算参考面与被测表面之间的距离，其中，相干光由从被测表面反射或者散射的光和从参考面反射的光耦合进入同一单模光纤中进行相干形成。本发明可对非光学反射表面如非抛光的金属、塑料等表面进行测距。
光纤光学相干测距装置方法

[实用新型]压力传感器-CN201420249553.6有效
发明人：袁海骏;任伟;赵文建;杨德志 -专利权人： 上海舜宇海逸光电技术有限公司
申请日： 2014-05-15 - 公布日： 2014-12-31 - 主分类号： G01L7/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种压力传感器。该压力传感器包括：压感单元感应作用在压感单元上的压力并产生形变，具有能反射或散射扫描光的测量面；光检测单元包括光发射器和基准光反射面，光发射器向压感单元发射频率周期性变化的扫描光，基准光反射面位于光发射器和压感单元之间，基准光反射面将光发射器发出的扫描光部分反射并耦合回光纤形成基准光，测量面将未被基准光反射面反射的扫描光反射或散射，反射或散射光耦合回光纤形成测量光，基准光和测量光之间发生干涉形成干涉光；光电处理单元接收干涉光并根据干涉光计算出压感单元的测量面与基准光反射面之间的距离变化量，根据距离变化量计算出压感单元上作用的压力。通过该压力传感器能够精确测量。
压力传感器

[发明专利]导体电流测量装置-CN201110388162.3有效
发明人：袁海骏;刘伟;杨德志;张韦;韩小逸 -专利权人： 上海舜宇海逸光电技术有限公司
申请日： 2011-11-29 - 公布日： 2013-06-05 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种导体电流测量装置，该装置包括：均磁部件，用于套设在被测导体上，具有一个或多个开口；传感器，设置于均磁部件产生的磁场内，用于检测磁场的磁信号；信号传输部件，与传感器相连接；以及信号处理模块，与信号传输部件相连接，用于根据传感器检测的磁信号计算被测导体的电流。通过本发明，均磁部件套设在被测导体上，并且在均磁部件上设置一个或多个开口，能够保证均磁部件在整个电流测量范围内不会饱和，并具有足够的抗干扰的能力，使得测量导体电流抗干扰性强，测量误差小，测量精度高。
导体电流测量装置

[发明专利]电流测量装置-CN201210323214.3在审
发明人：袁海骏;张韦;杨德志;凌清 -专利权人： 上海舜宇海逸光电技术有限公司
申请日： 2012-09-04 - 公布日： 2012-12-19 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种电流测量装置，该电流测量装置包括：屏蔽磁环，具有用于使被测导体穿过的通孔；磁场传感器，设置通孔中，用于获取被测导体中通过的电流产生的感应磁场的磁场强度；信号处理模块，通过传输部件与磁场传感器连接，用于利用磁场传感器获取的磁场强度计算被测导体中通过的电流。利用屏蔽磁环对除被测导体内电流产生的磁场之外的干扰磁场进行屏蔽，提供了有利于进行测量的稳定均匀的磁场环境，减少了由于外部干扰源造成的电流测量误差，提高了电流测量精度。
电流测量装置

[实用新型]电磁测量系统-CN201220163638.3有效
发明人：袁海骏;付美玲;杨德志;张韦;韩小逸 -专利权人： 上海舜宇海逸光电技术有限公司
申请日： 2012-04-17 - 公布日： 2012-12-05 - 主分类号： G01R33/032 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电磁测量系统，该电磁测量系统包括：第一发射器，用于向测量点发射第一激光；第二发射器，用于向测量点发射第二激光，其中，第一激光与第二激光波长不同；接收器，设置在第一激光和第二激光的发射路径上，用于接收第一激光和第二激光穿过测量点后的激光；以及测量器，连接至接收器，用于通过接收器接收到的激光测量测量点的电磁信号。通过本实用新型，达到了准确测量的效果。
电磁测量系统

[发明专利]电流测量装置及电流测量方法-CN201010581549.6有效
发明人：袁海骏;韩小逸;杨德志;欧阳翔 -专利权人： 上海舜宇海逸光电技术有限公司
申请日： 2010-12-09 - 公布日： 2011-05-18 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种电流测量系统及电流测量方法，其中，电流测量系统包括：两个或两个以上磁场传感器，等距分布于被测导体的外侧，每个磁场传感器用于获取流经被测导体的电流所产生的感应磁场的磁场强度；信号处理模块，经信号传输部与各个信号传输模块连接，将所获取的每个磁场强度进行线性累加，基于累加所获得的累加磁场强度计算被测导体内的电流值。本发明降低导体的形状对获取的磁场强度的影响，并且降低了外部电流源对测量结果的影响。因此，解决了利用现有技术的电流测量方式测量电路时，测量中的干扰因素没有规律性，无法进行补偿，进而导致了测量的重复精度较低的问题。
电流测量装置测量方法

[发明专利]光纤直流磁光探测系统和方法-CN200910202166.0有效
发明人：袁海骏 -专利权人： 上海舜宇海逸光电技术有限公司
申请日： 2009-12-31 - 公布日： 2010-07-07 - 主分类号： G01R33/032 文献下载
摘要：本发明提供了一种光纤直流磁光探测系统和方法，属于光学应用领域。所述系统包括：电源和信号处理模块、光纤装置、磁光探头和参考装置，本发明在所述系统中安装了参考装置，通过该参考装置产生的参考磁场脉冲信号可以校正测量到的信号，来去除环境因素对测量的影响，进而得到准确的测量数据，提高了系统的测量精度。
光纤直流探测系统方法

[发明专利]光纤磁光探测系统和方法-CN200910202165.6有效
发明人：袁海骏 -专利权人： 上海舜宇海逸光电技术有限公司
申请日： 2009-12-31 - 公布日： 2010-06-30 - 主分类号： G01R33/032 文献下载
摘要：本发明提供了一种光纤磁光探测系统和方法，属于光学应用领域。所述系统包括：参考装置，用于在测量点产生幅值和形状已知的参考磁场信号；磁光探头，用于检测测量点的磁场信号，将磁场信号转变为光信号，并承载在接收到的激光上发送；光纤装置，用于传输激光并将磁光探头发送的光信号传送到电源和信号处理模块；电源和信号处理模块，用于发激光及接收到光信号后，将光信号转变为电信号，对电信号进行解调和分析，得到测量点自身的磁场信息和/或电流信息。本发明在所述系统中安装了参考装置，通过该参考装置产生的参考磁场信号可以校正测量到的信号，来去除环境因素对测量的影响，进而得到准确的测量数据，提高了系统的测量精度。
光纤探测系统方法

[发明专利]磁光晶体及其制备方法以及磁光晶体的应用装置-CN200910056802.3有效
发明人：袁海骏 -专利权人： 上海舜宇海逸光电技术有限公司
申请日： 2009-01-04 - 公布日： 2009-06-17 - 主分类号： G02F1/09 文献下载
摘要：本发明提供了一种磁光晶体及其制备方法以及磁光晶体的应用装置，该磁光晶体表面设置了具有永久磁畴的磁性薄膜，永久磁畴包括具有磁场方向的条纹，条纹包括以下至少之一：点、连续或不连续的线条，并且条纹之间的间隙与磁光晶体自由能状况或自然形成的条状复合磁畴的间隙相匹配。本发明因为采用具有永久磁畴的磁性薄膜，所以克服了现有的磁光晶体的复合磁畴变化后不能完全复原导致的随机误差问题，进而达到了测量精度的效果。
晶体及其制备方法以及应用装置

[发明专利]光纤磁光探测装置-CN200910056801.9有效
发明人：袁海骏 -专利权人： 上海舜宇海逸光电技术有限公司
申请日： 2009-01-04 - 公布日： 2009-06-17 - 主分类号： G01R33/032 文献下载
摘要：本发明提供了一种光纤磁光探测装置，包括：导光输入部分，用于导入偏振光；法拉第磁光旋转器，其是磁光晶体，用于随着磁场变化而影响偏振光的光强；导光输出部分，用于导出偏振光；还包括：补偿单元，用于对导入的偏振光进行旋转，以避免近零失敏，并补偿磁光晶体的温度误差，其设置在导光输入部分与法拉第磁光旋转器之间，或者设置在法拉第磁光旋转器与导光输出部分之间。本发明的光纤磁光探测装置增加了补偿单元，能将由于温度变化而造成的测量误差进行补偿，从而解决了现有技术的温度误差问题。
光纤探测装置

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