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[发明专利]用于ISO7811协议中磁介质信号接收的解码电路-CN201610427625.5有效
发明人：王吉健 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2016-06-16 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： H04B5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种应用于ISO7811协议中磁介质信号接收的解码电路，包括：峰位置值合并电路，去孤点电路，阈值调整与判决电路以及数据合并电路；输入信号首先通过峰位置值合并电路把紧邻的正峰位置值合并成一个值，同样把紧邻的负峰位置值合并成一个值。然后通过去孤点电路，把那些与旁边的峰距离太远的峰位置值滤掉。去除孤点后的峰位置值序列送给阈值调整与判决电路，此电路实时调整峰间隔的判决阈值，输出短间距峰和长间距峰的判决结果，最后用数据合并电路从第一个短间距峰开始把连续的两个短间距峰解码为1，把长间距峰解码为0输出。本发明能够提高抗干扰能力，正确解调出数据；适用于控制类安全芯片的磁头信号解码。
用于 iso7811 协议介质信号接收解码电路

[发明专利]一种可靠性同测装置及其控制方法-CN202110084786.X在审
发明人：戴昭君;蒋艳;宗磊;葛文启;吕瑞恩 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： G06F11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种可靠性同测装置及其控制方法，用于微控制器芯片内置大容量存储器可靠性测试，可实现多芯片并行测试。同时以测试区间可配置的形式，可选择全部覆盖存储空间，也可以选择以不同芯片不同区间的等效方式以覆盖全面，从同测数与测试空间配置两方面兼顾测试效率、优化测试时间。记录测试结果的同时，保存所有在测芯片的失效现场信息，便于对任何一个失效芯片进行分析。该方法基于测试硬件主控制板、上位机控制，还包括被测微控制器存储器测试程序。以较小的成本实现批量微控制器的存储器测试，广泛应用于各类微控制器芯片耐久力等可靠性自验证中。
一种可靠性装置及其控制方法

[发明专利]一种卷积编码的GFSK信号的联合解调和译码方法-CN201810862043.9有效
发明人：车小林 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2018-08-01 - 公布日： 2021-05-18 - 主分类号： H04L27/14 文献下载
摘要：本发明涉及无线通信技术领域，公开了一种卷积编码的高斯频移键控(GFSK)信号的联合解调和译码方法。通过对GFSK信号的相位进行近似，忽略相邻符号间的相位干扰，从而简化了路径度量的计算，使得路径度量的计算复杂度较低。根据卷积码的网格图，基于幸存路径处理的方法，计算每条幸存路径的路径度量。对于每条幸存路径，维持一个路径度量以及该幸存路径对应编码序列之和，编码序列之和用于构造分支上的发射GFSK信号。计算分支上的接收信号和对应发射信号的相关值获得该分支的分支度量。本发明的卷积编码GFSK信号的联合解调和译码方法，实现了卷积码的编码增益。与GFSK信号硬判决分离解调和译码方法相比，本发明的联合解调和译码方法可以获得明显的性能增益。
一种卷积编码 gfsk 信号联合解调译码方法

[发明专利]一种多联张非接触智能卡同测设备及实现方法-CN201910973708.8在审
发明人：段松涛;葛文启;戴昭君 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2019-10-14 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G06K7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种多联张非接触智能卡同测设备的实现方法，特别适用于在多联张非接触智能卡同测设备的设计中使用。本发明使用MCU控制多个读卡芯片，连接多个天线线圈与待测卡片进行通讯，每个读卡芯片将MCU发送的测试指令转换为13.56MHz的RF信号，经过滤波和匹配后通过宽带变压器耦合后将RF信号经过RF线缆传送到对应天线线圈上去,对相应的卡片进行测试。本发明架构简单，控制方便，能够隔离各个RF测试通道之间的干扰，实现同时测试多张卡片，成倍的提高测试速度，并支持较长的RF线缆连接天线线圈，可灵活地放置天线线圈的位置。特别适用于多联张智能卡的测试，尤其是用于对干扰较敏感的TYPE B类型的智能卡的同时测试。
一种多联张非接触智能卡设备实现方法

[发明专利]一种支持7816与14443接口的参数、指令与加密的测试读卡器-CN201910976062.9在审
发明人：戴昭君 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2019-10-15 - 公布日： 2021-04-16 - 主分类号： G06K7/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种智能卡测试读卡器，可实现符合ISO7816规范的接触接口与符合ISO14443规范的非接接口同时通讯，在可设置接触电压以及非接参数的同时，可实现指令流乱序测试，同时可内嵌终端安全控制模块，实现卡片安全所需要的内外部认证。读卡器提供可供上层测试应用调用的指令，可供使用者灵活地选择脚本语言，实现自动化测试。弥补了验证目前的商用测试仪均为单接口通讯，且为默认参数以及常规流程应用的缺点。该测试读卡器由硬件、驱动与用户指令程序三部分组成，可满足双界面智能卡片各种功能性能测试要求。
一种支持 7816 14443 接口参数指令加密测试读卡器

[发明专利]一种自适应非易失性存储器时序的程序加载结构和方法-CN201711150979.0有效
发明人：叶宏伟;王吉健 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2017-11-18 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： G06F9/445 文献下载
摘要：本发明公开了一种适应不同非易失性存储器快速读指令的程序加载方法，包括：一SOC内嵌高速SPI硬件或软件接口，一外部非易失性存储器通用读驱动程序，一外部非易失性存储器快速读驱动程序，一包含自身快速读驱动程序的外部非易失性存储器。本发明利用一SPI接口非易失性存储器，存有系统应用程序和自身快速读驱动程序，在嵌入式系统加载程序期间SOC芯片内的MCU首先执行内部ROM中片外非易失性存储器通用驱动程序，采用普通读时序把片外非易失性存储器内的快速读驱动程序加载到SOC芯片内的SRAM中，然后通过执行此快速读驱动程序实现从外部非易失性存储器中快速加载应用程序到SOC内存的功能，这种程序加载方法能适应各种外部非易失性存储器的快速加载时序。
一种自适应非易失性存储器时序程序加载结构方法

[发明专利]一种锁相环自校准电路-CN201711133774.1有效
发明人：周亚莉;衣晓峰 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2017-11-16 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： H03L7/085 文献下载
摘要：本发明公开了一种锁相环(简称PLL)自校准电路，包括：第一计数器对晶振(简称XTAL)输出时钟进行计数；第二计数器对压控振荡器(简称VCO)的分频时钟进行计数；二分查找电路输出预设频点对应的电感电容振荡器的开关电容控制字；查找表电路输出目标频点相对于中心频点的开关电容控制字差值；精调控制电路根据二分查找电路、查找表电路和模拟比较器输出得到目标频率对应的开关电容阵列控制字。本发明通过数字电路控制电感电容振荡器中开关电容阵列的容值，将频率调谐曲线从一条扩展成多条，通过保存中心频点开关电容阵列控制字以及目标频点和中心频点的开关电容阵列控制字差值，实现在频点切换时，仅进行精调就能完成锁相环的快速锁定。
一种锁相环校准电路

[发明专利]一种测量智能卡芯片EEPROM擦写电压的方法和电路-CN202011264810.X在审
发明人：段松涛;葛文启;蒋艳 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2020-11-13 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量智能卡芯片EEPROM擦写电压的方法和电路，特别适用于在智能卡芯片的测试设备上实现对智能卡芯片EEPROM擦写电压进行精确测量。本发明通过采样EEPROM擦写电压的输出电流，并通过此电流计算出对应的内部损耗电压，然后补偿到采集到的EEPROM擦写电压的输出电压上，来得到准确的EEPROM擦写电压。本发明的测量电路不需要使用高于EEPROM擦写电压的供电电源，并降低了测量电路对EEPROM擦写电压输出的影响，提高对EEPROM擦除电压测量的准确度，降低因测量偏差造成的误判。特别试用于智能卡芯片的测试设备对智能卡芯片进行EEPROM筛选测试中判断EEPROM擦写电压是否达到合规范围。
一种测量智能卡芯片 eeprom 擦写电压方法电路

[发明专利]一体式测试终端设备及其控制方法-CN202011385590.6在审
发明人：陈宣成;张修远;崔丽华;林秋 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2020-12-01 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本发明公开了一体式测试终端设备及其控制方法。随着技术的日益发展，市面上使用支持可编程仪器命令的仪器设备越来越多，同时为后期提高效率减少人力与时间成本投入，提高仪器测试的自动化程度的需求也日益增加。由于自动化测试需要搭建测试环境，并根据测试场景的需求对支持可编程的仪器进行二次开发，前期需投入大量的时间和人力成本。本发明主要解决上述诉求，降低可编程仪器仪表的自动化测试门槛，且对比同类型产品具有低成本、高扩展性，便携等特点。
体式测试终端设备及其控制方法

[发明专利]一种基于判决反馈、低复杂度的GFSK信号的解调方法-CN201810861795.3有效
发明人：车小林 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2018-08-01 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： H04L25/03 文献下载
摘要：本发明涉及无线通信技术领域，公开了一种基于判决反馈、低复杂度的高斯频移键控(GFSK)信号的解调方法。根据GFSK信号的表达式，对GFSK信号的相位进行近似，忽略相邻符号间的相位干扰，得到简化的GFSK信号的表达式；基于判决反馈原理，接收信号当前的采样值中，抵消已经检测的符号，得到与当前传输数据符号相关的信号；根据该信号，判决当前信号所传输的数据符号。与传统的差分解调、判决反馈差分解调、极大似然非相干解调相比，本发明的GFSK解调方法具有较高的性能，计算复杂度仅需两个乘法；当GFSK信号的调制指数为0.5时，本发明的GFSK解调方法不需要乘法计算，直接根据GFSK信号的实部或虚部判决数据符号；因此，本发明的GFSK解调方法非常适于数字集成电路实现。
一种基于判决反馈复杂度 gfsk 信号解调方法

[发明专利]一种用于PUF的快速软判决取值生成方法-CN201711072601.3有效
发明人：柴佳晶;何玉明 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2017-11-04 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： H04L9/32 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于PUF的快速软判决取值生成方法，并给出了采用该方法的一个用于PUF的快速软判决取值生成方法的实现实例。用于PUF的快速软判决取值生成方法如下：只需要在注册阶段对每个挑战进行若干次PUF特征结果的提取，通过将PUF特征结果均值和响应判断阈值进行比较，就能够计算得到每个比特位对应的软判决值。在电路噪声相对工艺偏差较小的情况下，甚至只需要一次PUF特征结果提取就能得到软判决值。从而能够在保证应用阶段纠错失败概率足够小的前提下，大幅减少注册阶段响应和辅助数据的采集生成时间。
一种用于 puf 快速判决生成方法

[发明专利]一种数字模拟转换器增益自校准电路-CN201711133897.5有效
发明人：周亚莉;衣晓峰 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2017-11-16 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种数字模拟转换器(简称DAC)增益自校准电路，包括：第一计数器对晶振(简称XTAL)输出时钟进行计数，控制DAC增益校准电路的状态跳转；DAC控制电路输出DAC的输入信号；分频电路完成对压控振荡器(简称VCO)输出时钟的分频；第二计数器完成对分频电路输出时钟的计数；第一查找表输出预设频点对应DAC增益控制字；第二查找表输出目标频点和中心频点DAC增益控制字差值；精调控制电路输出目标频点的DAC增益控制字。本发明能够通过对DAC增益进行校准来改变电感电容振荡器中变容管的容值，最终改变VCO的频率调谐曲线，得到目标频率信号，还能够根据三条频率调谐曲线的DAC增益校准结果，自动完成多条频率调谐曲线的DAC增益的快速校准。
一种数字模拟转换器增益校准电路

[发明专利]功耗阶跃抑制电路-CN201611230927.X有效
发明人：叶宏伟 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2016-12-27 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G05F1/66 文献下载
摘要：一种功耗阶跃抑制电路，包括RF工作状态识别电路，控制电路和电源管理电路，RF通信前，RF工作状态识别电路接收到RF关闭信号，启动电源管理电路关闭芯片上大功耗模块，控制电路将整个芯片的功耗调至最小，RF通信结束后，RF工作状态识别电路接收到RF开启信号后，电源管理电路打开RF通信前关闭的模块，恢复芯片在通信前的功耗状态。
功耗阶跃抑制电路

[发明专利]一种MCU芯片功耗评估的方法-CN202010798697.7在审
发明人：邹伟玉;舒海军 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2020-08-11 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G06F30/30 文献下载
摘要：本发明涉及芯片低功耗技术领域，公开了一种MCU芯片功耗评估的方法。首先，把芯片把MCU芯片的功耗划分成三大组成部分，即：模拟电路功耗、数字电路功耗和memory电路功耗；其次，根据CMOS电路功耗的三大来源，即：动态功耗、静态功耗和短路功耗，分别给出三大功耗组成部分功耗的评估方法；然后，根据MCU芯片处在运行(Run)、睡眠(Sleep)、停止(Stop)和停机(Standby)各种工作模式，分析并确定各个模块的运行及电源状态；最后，根据评估方法及模块状态，分别评估出MCU芯片在各种工作模式下的功耗。
一种 mcu 芯片功耗评估方法

[发明专利]一种芯片降低功耗提升性能的FLASH加速方法-CN202010958159.X在审
发明人：时颖;舒海军;吴明勋 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2020-09-14 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G06F9/28 文献下载
摘要：本发明提出Flash加速控制器的设计，采用数据预取缓存、指令现场保存和替换算法可控加速方案。通过软件配置或自适应动态切换，来选择加速方案，实现嵌入式应用中不同场景需求下的系统性能提升。本文工作的主要创新点如下:1)Flash预取操作：对于顺序预取数据，综合使用预取操作，实现读取加速；对于非顺序预取数据，提出指令缓存技术和最近最少使用算法替换数据原则，降低预取缺失代价；2)高频指令缓存操作：可单独控制使能，减少对取指操作影响，提高性能。3)通过软件控制流程单独实现取指和取数独立加速方案。
一种芯片降低功耗提升性能 flash 加速方法