|
|
钻瓜专利网为您找到相关结果 624个，建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]管道壁厚的检测装置及检测方法-CN201911197797.8有效
-
胡晓东;汤雅惠;邹晶
-
天津大学
-
2019-11-28
-
2021-06-04
-
G01B15/02
- 一种管道壁厚的检测装置及检测方法，该检测装置包括环形架；带电小球；环设于被测管道外的线圈，其通电后产生的磁场使带电小球以管道外径和小球半径之和为半径做圆周运动；设置在环形架外部的两个平行金属板，用于提供电场并与通电后的线圈作用使带电小球绕管道做匀速圆周运动；设置在环形架上的探测单元，用于采集灰度图像；以及管道支承单元，用于支撑被测管道两端。本发明的检测方法有效快速、高效准确，无需管道旋转，就能获得精确管壁厚度，实现测量管道内壁厚度的同时，还可以分析密度变化即是否有腐蚀发生。
- 管道检测装置方法
- [实用新型]厚度测试仪-CN202022348595.3有效
-
李晓明
-
辽宁中博工程勘测有限公司
-
2020-10-21
-
2021-05-14
-
G01B15/02
- 本实用新型涉及厚度测试仪，包括测厚仪主体和测试探头，测厚仪主体后部设有支架，支架与测厚仪主体两侧通过铰接轴连接，所述铰接轴包括轴座、轴芯、压盖和轴盖，轴座设置于测厚仪主体上，轴座上设有轴芯孔，轴芯顶端带有圆形端面，轴芯圆形端面露出穿孔，轴盖上设有定位圆孔，定位圆孔与轴芯位置对应。本实用新型所述铰接轴可以转动，支架的角度转动来调节测厚仪主体的支撑倾斜角度；当轴芯对应上定位圆孔时，支架自动被固定，使用方便。
- 厚度测试仪
- [发明专利]一种检测镀钛金刚石颗粒表面镀层厚度的方法-CN201910535289.X有效
-
陈锋;徐俊;朱佳
-
东南大学
-
2019-06-20
-
2021-05-11
-
G01B15/02
- 本发明涉及一种检测镀钛金刚石颗粒表面镀层厚度的方法，具体步骤是：1.对镀钛金刚石颗粒进行超声清洗，去除油污后烘干；2.采用天平称取一定质量的镀钛金刚石颗粒置于稀硫酸溶液中，腐蚀Ti层，腐蚀结束后清洗、烘干金刚石颗粒，并称量金刚石颗粒质量；3.将步骤2得到的镀钛金刚石颗粒置于稀硝酸溶液中，腐蚀TiC层，腐蚀结束后清洗、烘干金刚石颗粒，并称量金刚石颗粒质量；4.通过去除金刚石颗粒表面的Ti层和TiC层后的失重，根据计算模型分别计算镀钛金刚石颗粒表面Ti层和TiC层的厚度。本发明检测镀钛金刚石颗粒表面镀层厚度的方法，工艺简单、成本低，可快速、准确地检测各种方法制备的镀钛金刚石颗粒表面Ti层和TiC层的平均厚度。
- 一种检测金刚石颗粒表面镀层厚度方法
- [发明专利]薄膜层厚度的测量方法-CN202011482840.8在审
-
张硕;周璐
-
长江存储科技有限责任公司
-
2020-12-16
-
2021-04-23
-
G01B15/02
- 本发明提供一种薄膜层厚度的测量方法，薄膜层形成在基底上，方法包括如下步骤：提供基准参数，基准参数是在基底上形成薄膜层之前对基底采用X射线光电子能谱分析而获得的特定元素的特征峰数据；对薄膜层采用X射线光电子能谱分析，以获得特定元素的特征峰数据，作为测量数据；建立测量数据与基准参数的函数；提供数据库，数据库包括在基底上形成薄膜层前后的特定元素的特征峰数据的函数与薄膜层厚度的对应关系；以函数作为索引，在数据库中获得薄膜层的厚度。本发明测量方法能够在基底与薄膜层之间不具有明显界面的情况下，测量薄膜层的厚度，且测量准确度高，无线上排货限制，并从物理层面上隔绝了目标薄膜层之下的多层厚膜对量测带来的干扰。
- 薄膜厚度测量方法
- [实用新型]测厚仪-CN202022163546.2有效
-
不公告发明人
-
无锡先导智能装备股份有限公司
-
2020-09-28
-
2021-04-20
-
G01B15/02
- 本申请公开了一种测厚仪，包括相对设置的发射机构和接收机构，基材自发射机构和接收机构之间穿过，发射机构发出的射线、穿过基材后被接收机构接收，根据接收到的射线辐射量，能够获知基材的厚度；其中，发射机构包括：放射源、源轴、保护盒以及旋转驱动组件，源轴上开有第一孔，放射源的放射端暴露在第一孔中，保护盒上开有第二孔；测厚时，旋转驱动组件驱动源轴旋转至第一孔与第二孔连通，放射源的放射端经由第二孔暴露后、发出的射线能够照射到基材上；测厚结束，旋转驱动组件再次驱动源轴旋转，使得第一孔远离第二孔，进而避免射线逸出；通过旋转驱动组件及源轴，能够带动放射源旋转实现射线的释放和封闭，进而简化设备、提高工作效率。
- 测厚仪
|
