[发明专利]金合金引线及其用途无效
| 申请号: | 97113568.1 | 申请日: | 1997-05-28 |
| 公开(公告)号: | CN1065001C | 公开(公告)日: | 2001-04-25 |
| 发明(设计)人: | 秋元英行 | 申请(专利权)人: | 田中电子工业株式会社 |
| 主分类号: | C22C5/02 | 分类号: | C22C5/02;H01L23/488;H01L23/50 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 徐汝巽 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 合金 引线 及其 用途 | ||
1.金合金引线,包括按重量比为0.2到5.0%的Pd,按重量比为1到100ppm的Bi,其余为金和不可避免的杂质。
2.按照权利要求1的金合金引线,其特征是,所述金的纯度按重量比至少为99.999%。
3.按照权利要求1的金合金引线,其特征是,Pd的所述含量按重量比是0.5到5.0%。
4.按照权利要求1的金合金引线,其特征是,按重量比,Bi的所述含量是1到40ppm。
5.按照权利要求1的金合金引线,其特征是,它还包括按重量比为3到250ppm含量的选自Y、La、Ca、Be中的至少一种元素。
6.按照权利要求5的金合金引线,其特征是,所述的至少一种元素的所述含量按重量比是3到70ppm。
7.按照权利要求5的金合金引线,其特征是,它还包括选自Y、La、Ca、Be中的至少三种元素。
8.按照权利要求5的金合金引线,其特征是,所述至少一种元素是Y、La、Ca三种元素。
9.权利要求1的金合金引线在形成金合金凸起中的用途,包括:
通过毛细管在金合金引线的末端形成熔珠,
降低所述的毛细管,把所述的熔珠压焊到IC芯片的电极上,
上拉所述的合金引线,从焊接到所述电极上的熔珠上面,拉断所述的合金引线,由此在所述IC芯片的所述电极上形成金合金凸起。
10.按照权利要求9的用途,其特征是,金合金引线中所述金的纯度按重量比是99.999%。
11.按照权利要求9的用途,其特征是,金合金引线中所述Pd的含量按重量比是在0.5到5.0%。
12.按照权利要求9的用途,其特征是,金合金引线还包括按重量比为3到250ppm含量的选自Y、La、Ca、Be组中的至少一种元素。
13.按照权利要求12的用途,其特征是,所述至少一种元素是Y、La、Ca三种元素。
14.权利要求1的金合金引线在形成金合金凸起中的用途,包括:
通过毛细管在金合金引线的末端形成球,
降低所述毛细管把所述球压焊到IC芯片的电极上,
把所述球上面的所述金引线切出凹槽,
上拉所述金合金引线,从焊接到所述电极上的所述凸起上面拉断所述金合金引线,因此形成位于所述IC芯片所述电极上的金合金凸起。
15.按照权利要求14的用途,其特征是,金合金引线中所述金的纯度按重量比是99.999%。
16.按照权利要求14的用途,其特征是,金合金引线中所述Pd的含量按重量比是在0.5到5.0%。
17.按照权利要求14的方法,其特征是,金合金引线还包括按重量比为3到250ppm的选自Y、La、Ca、Be组中至少一种元素。
18.按照权利要求17的方法,其特征是,所述至少一种元素是Y、La、Ca三种元素。
19.权利要求1的金合金引线在焊接中的用途。
20.按照权利要求19的用途,其特征是,所述金合金引线还包括按重量比为3到250ppm含量的选自Y、La、Ca、Be组中的至少一种元素。
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