[发明专利]X射线残余应力测定装置和方法无效

专利信息
申请号: 97101150.8 申请日: 1997-02-03
公开(公告)号: CN1049496C 公开(公告)日: 2000-02-16
发明(设计)人: 周上祺;任勤;郑林 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 重庆大学专利事务所 代理人: 张荣清,郭吉安
地址: 400044 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 射线 残余 应力 测定 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线残余应力测定装置,包括X射线管,测角仪,入射光阑,工作台,接收狭缝,辐射探测器,X射线发生器电源,计数率器,打印机,微机和稳压电源,其特征是:(1)X射线管为短波长X射线管,其阳极靶的材质为Cu、Mo、Ag、W等金属,最高管电压为200~300KV,最大管电流为8~10mA,最低管电压10~20KV,最低管电流1~2mA,并连续可调;(2)接收狭缝为限位接收狭缝;(3)工作台由微机控制或手动,可作X、Y、Z三维方向运动。

2.根据权利要求1所述的X射线残余应力测定装置,其特征是:平行限位接收狭缝由三个互相同向平行的钼、钽等材料制成的狭缝组成,狭缝(1)和狭缝(2)之间距离为13~15mm,狭缝(2)和狭缝(3)之间距离为3~5mm,其中正对X光的第(1)、第(2)狭缝宽度相等,其尺寸为(8~10)×(0.15~0.3)mm,第(3)狭缝的宽度比第(1)、(2)狭缝的宽度大1~3mm。

3.根据权利要求1所述的X射线残余应力测定装置,其特征是:锥度限位接收狭缝的上端开口与位敏探测器有效探测面积相等,锥度限位接收狭缝的下端安装孔径可调的光圈,锥度限位接收狭缝的锥度,与位敏探测器有效探测张角一致,锥内沿径向均匀安装2~6片钼、钽薄片。

4.一种实施权利要求1所述装置的X射线残余应力测定方法,包括(1)试样表面处理;(2)置试样于工作台,调整试样表面被测点与探头距离,使被测点位于测角仪圆的圆心;(3)选择辐射和衍射条件,搜集衍射谱和被测点的坐标位置;(4)控制工作台作X、Y、Z三维方向移动,按需要测定穿透范围内任意一点的残余应力;(5)由微机进行数据处理,打印输出各点的残余应变和残余应力,也可输出工件中残余应变和残余应力分布图,其特征是:(1)采用Cu、Mo、Ag和W等短波长标识X射线管;(2)被测点可以在工件表面,也可是工件内任何一点,且必须位于测角仪圆圆心;(3)采用平行限位接收狭缝或锥度限位接收狭缝,只允许被测点的衍射线进入辐射探测器。

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