[发明专利]露点测量法及露点测量计无效

专利信息
申请号: 96195693.3 申请日: 1996-07-16
公开(公告)号: CN1097730C 公开(公告)日: 2003-01-01
发明(设计)人: 德莱弗亚京·亚历山大·米哈洛维奇;哥拜诺夫·亚历山大·高杰维奇;斯特潘诺夫·安德烈·罗伯托维奇;塞莱兹涅夫·谢尔盖·维克托洛维奇 申请(专利权)人: 德莱弗亚京·亚历山大·米哈洛维奇
主分类号: G01N25/68 分类号: G01N25/68
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 郑修哲
地址: 俄罗斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 露点 测量 测量计
【说明书】:

技述领域

发明涉及测量技术领域,更具体说,涉及露点法测量法及露点测量计。

背景技术

已知的露点测量法是将被研究气体送至光学透明体的冷却部分,通过透明体射入光流,记录下光流强度的变化,据此判断露点的来临(前苏联发明证书SU No.593 127,1975年)。

然而,在使用该方法时,在露点湿度计内由于冷却镜的沾污而使测量可靠性大大降低。

已知的测量露点装置具有两个带光导芯的光导管,在它们端头的间隙内设置了冷凝镜,其冷凝表面涂一层不沾水的膜,还具有冷却装置和露点记录器,而且光导管端头的下部位于冷凝表面的平面上(SU No.1806364,1990年)。

可是在使用此装置时可能出现镜面被杂杂沾污的情况,从而降低测量精度。

已知的露点测量法是将被研究的气体送至光学透明体的冷却部分,通过透明体射入光流,记录下光流强度的变化,据此判断露点的来临,以及按该方法实现的露点测量计具有光学透明体的冷却部分,它固定在壳体上和通过光导管与辐射器和光流转换器连接,而转换器又与记录器连接,还具有冷却剂和温度传感器(SU No.744 618,1989年)。

已知的技术方案的缺点是可靠性不高,这是由于光学透明体有可能被研究气体的杂质所沾污,从而产生不希望的沉积层,它可能导致测量不精确和丧失工作本领。

发明内容

本发明的目的是提高测量过程的精度和建立一种在高可靠性条件下能保证所需测量精度的装置。

为实现本发明的目的,本发明提供了一种测量被测的气体的连续流的露点的露点测量方法,包括将被测气体送至光学透明体的冷却部分,通过光学透明体射入光流和记录光流强度的变化,据此判断露点的来临,其中为了限制送至光学透明体的冷却部分的被测气体的流速,所述的气体供入一个取样管,所述的取样管内截面与取样管长度的平方之比满足公式l2/s>25。

为实现本发明的目的,本发明还提供了一种露点测量计,包括一个光学透明体冷却部分,所述的光学透明体的冷却部分固定在壳体上和通过光导管与辐射器和光流转换器连接,该转换器与记录器连接,所述的露点测量计还包括一个温度传感器,其特征在于还配备有一个取样管,取样管的一端固定在壳体上包住光学透明体冷却部分,而另一端设成沿铅垂方向向下,所述的取样管内截面面积与光学透明体冷却部分表面面积的比例超过5,并且l2/s>25,式中l-取样管的长度,S-取样管内截面面积。

附图说明

下面通过实施例和附图说明本发明,附图中:

图1示出了本发明露点测量计的结构。

具体实施方式

露点测量法是将被研究气体送至光学透明体的冷却部分,通过光学透明体射入光流和记录下光流强度的变化,据此判断露点的来临。本方法的特点是在通过光学透明体冷却部分射入光流之前,用限制送进被研究气体的速度为零的方法在其附近形成被研究气体的停滞区,而且保持着被研究气体分子对光学透明体冷却部分的扩散。

建立停滞区使气体中各种杂质不能沉积在光学透明体冷却部分的表面上,因为重力向相反一边作用,这样就促进了露点测量精度的保持,从而也提高了可靠性。

露点测量计(图1)具有光学透明体冷却部分1,它固定在壳体2上,通过光导管3和4分别与辐射器5和光流转换器6连接,转换器的输出端与记录器7连接。在壳体2上安置有温度传感器8和冷却剂9。露点测量计还配备有取样管10,管的一端固定在壳体上光学透明体冷却部分的周围,而另一端制成坡口形和沿重力作用方向安装、取样管10以坡口对着被研究气流安装,它具有向冷却部分1传送被研究气体的3个区域11,12,13。

工作时该装置安装在导管14的孔内,导管14具有凸缘15,借助焊接接头16使导管14固定。

取样管10的坡口对着被研究气流安装,而且取样管内截面面积S与光学透明体冷却部分l的表面面积SK之比超过5,而l2/s>25,式中l-取样管10的长度,S-取样管10的内截面面积。

可以用弯曲的光学纤维作为光学透明体冷却部分1,和用1076型发光二极管作为辐射器5。

露点测量计的工作方式如下。

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