[发明专利]高密度并联式只读存储器无效
| 申请号: | 96109642.X | 申请日: | 1996-09-03 |
| 公开(公告)号: | CN1175774A | 公开(公告)日: | 1998-03-11 |
| 发明(设计)人: | 吴启勇;陈领;彭詠钿 | 申请(专利权)人: | 合泰半导体股份有限公司 |
| 主分类号: | G11C17/00 | 分类号: | G11C17/00 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 徐娴 |
| 地址: | 中国*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 高密度 并联 只读存储器 | ||
1、一种高密度并联式只读存储器,其包括有:
(1)字元线,其为至少一个呈横向相互平行的多晶硅构成;
(2)位元线,其为至少一个呈纵向相互平行的埋层N+构成,并与字元线垂直交叉而成只读存储器单元矩阵;
(3)金属导线,设置于每相隔一条埋层N+的上层平面并连结金属接触区;
(4)选择线,由多晶硅所构成,并设置于只读存储器单元矩阵基体的上、下方,可作为该只读存储器区块的选择;
(5)埋层延伸区,设于该金属接触区的下方,并延伸至该选择线上;
(6)离子植入区,将该选择线上不必要的选择门或转换门以埋层P+的离子植入方式达到绝缘状。
2、如权利要求1所述的高密度并联式只读存储器,其特征在于,所述单元矩阵上、下方分别各设置有二条选择线。
3、如权利要求1所述的高密度并联式只读存储器,其特征在于,所述埋层N+位元线亦包括有一延伸区,且每隔一条埋层N+位元线分别向上延伸至所述选择线。
4、如权利要求3所述的高密度并联式只读存储器,其特征在于,所述每一条埋层N+位元线仅设一向上的延伸区。
5、如权利要求1所述的高密度并联式只读存储器,其特征在于,所述埋层延伸区仅延伸至一条选择线上。
6、如权利要求1所述的高密度并联式只读存储器,其特征在于,所述埋层延伸区延伸至二条选择线上。
7、如权利要求1所述的高密度并联式只读存储器,其特征在于,所述离子植入区的埋层P+的离子植入仅植入至所述单一条选择线不必要的选择门或转换门内。
8、如权利要求1所述的高密度并联式只读存储器,其特征在于,所述离子植入区的埋层P+的离子植入至所述二条选择线不必要的选择门或转换门内。
9、如权利要求1所述的高密度并联式只读存储器,其特征在于,所述埋层N+位元线亦包括有一延伸区,且每隔一条埋层N+位元线分别向下延伸至所述选择线。
10、如权利要求4所述的高密度并联式只读存储器,其特征在于,所述每一条埋层N+位元线仅设一向下的延伸区。
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