[其他]狭缝X射线照相装置

说明书

本发明涉及狭缝X射线照相装置，这种装置包括：适于通过被分成多个并列部分的狭缝隔板，并用在操作中进行扫描运动的平面扇形射束辐照被测物体的X射线源;在操作中产生电输出信号，并且同固定在物体后面的X射线探测器共同工作的探测装置（这些探测装置被分成与那些狭缝隔板的部分相对应的一些部分）;与探测装置相连的狭缝控制装置用于控制同每个狭缝部分共同工作的X射线衰减部件。

使用这样的装置（它由荷兰专利申请第84，00845号所提出）发射出的X射线，相应于狭缝隔板的每个部分可以根据被测物体的吸收的变化而调整，这样最后的像的质量可以得到显著的提高。以这种形式所得到的像在暗的和亮的区域可以具有充分的反差，从而能很清楚地看出细节。

荷兰专利申请第84，00845号提出了一些实施方案，其中或者是衰减部件的位置通过产生适当的磁场而得到控制，或者是衰减部件是压电片，它的位置由加在其上的适当电压决定。对于每个部分，调整衰减部件位置的控制信号的瞬时幅度，是由来自与特定部分相联系的探测装置的信号同预置的参考信号之差来决定的。

具有以上类型装置的最佳操作，要求加到衰减部件上的控制信号和这些部件的位置之间的关系是单值的，以便实现对衰减部件位置的可重复控制。

用磁场控制衰减部件的位置会导致磁滞效应的出现，同衰减部件耦合的复位弹簧也表现出（力学的）滞后效应。上述事实也出现于弹簧片状的衰减部件上。

此外，压电片也类似地表现出滞后效应。

这种滞后效应造成的结果是，衰减部件的位置和控制信号之间没有单值性非关系。而且，控制信号减到零不能保证衰减部件回到它的静止位置。

因此，不论是否发生滞后效应，都要求狭缝控制装置在任何时候都能使衰减部件到达产生所需要之衰减的位置。

本发明的目的就是满足这个要求。为此，按照本发明，对于每一对相对应的探测装置部分和狭缝部分，狭缝控制装置都包含有激励电路，在这个激励电路的影响下，至少一个同特定的狭缝部分相配合的衰减部件的位置会发生变化，而且，这个激励电路是包括在控制电路之中的，该控制电路由穿过狭缝部分、贯穿被测物体并照在探测装置上相应部分的辐射闭合起来;这个控制电路还包括比较电路，该比较电路的输出端同激励电路耦合，它的一输入端加有来自探测装置部分的电信号，另一个输入端加有预置的参考信号，激励电路被控制成使比较电路的输入信号之差持续地趋向零值。

下面参照附图对本发明作更详细些的描述。

图1是关于本发明装置的基本示意图。

图2显示了用于狭缝X射线照相的装置的例子，该装置包括关于本发明的控制装置的实施方案。

图3a和3b分别显示了狭缝隔板的前视图和剖视图，上述隔板包括簧片形的衰减部件。

图1是根据本发明的装置的基本示意图。该装置包括X射线源1，X射线源1适于将X射线通过狭缝隔板2投射到被测物体L上，上述隔板2可由（比如）具有细长狭缝S的铅板构成。在图中，狭缝S沿垂直于该图所在平面的方向延伸。在物体L的后面设置有一个盒子，这个盒子对X射线透明的前板在图中用4表示。在这个基本示意图中，没有表示出来的X射线探测器固定在前板4的后面。在这个板4的后面，还固定着适于产生电信号的探测装置5，该信号在每个时刻都正比于在那个时刻照射在X射线探测器上的X射线。

由于狭缝S是细长的，因而产生了平面扇形射束6。

在操作过程中，被测物体L受到这个射束的扫描，扫描可以沿着垂直于狭缝S之纵向的方向。为此，例如狭缝隔板和X射线源的组合体可以沿着垂直于本图所在平面的轴旋转，如图中的箭头7所示。

然而，扫描也可以用其它的方法来实现。当使用产生锥形X射线束的X射线源时，该X射线源可以相对于隔板（如果必要的话沿着弯曲的路径），上下移动，或者隔板可以相对于X射线源（如果必要的话沿着弯曲的路径）上下移动。进一步地，还可以上下移动X射线源和狭缝隔板的组合体（如果必要的话沿着弯曲的路径）。