[其他]狭缝X射线照相装置无效

专利信息
申请号: 85107484 申请日: 1985-10-11
公开(公告)号: CN85107484A 公开(公告)日: 1987-04-15
发明(设计)人: 西蒙·达英克;哈哥·夫拉斯布洛姆 申请(专利权)人: 老代尔夫特光学工业有限公司
主分类号: G03B42/02 分类号: G03B42/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人: 李强
地址: 荷兰代尔夫特*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 狭缝 射线 照相 装置
【权利要求书】:

1、狭缝X射线照相装置,它包括一种X射线源,该X射线源适于用在工作过程中进行扫描运动的平面扇形射束来照射被物体,该狭缝隔板被分成多个并列部分;探测装置,用于在工作过程中产生电输出信号,并且同设置在物体后面的X射线探测器相配合,该探测装置被分成相应于狭缝隔板各部分的部分;同探测装置相连的狭缝控制装置,用于控制同各个狭缝部分相配合的X射线衰减部件,其特征在于狭缝控制装置对于狭缝和探测装置的每对相对应的部分,都包含有激励电路,在这种激励电路的作用下,至少一个同特定的狭缝部分相配合的衰减部件的位置会发生变化,而且这种激励电路包括在控制电路中,该控制电路由通过这个狭缝部分、贯穿物体并照射到探测装置的相应部分上的辐射而闭合起来,这种控制电路还包括比较电路,该比较电路的输出端同激励电路耦合,它的一个输入端加有来自探测装置部分的电信号,另一个输入端加有预置的参考信号,激励电路受到了适当的控制,从而使比较电路的输入信号之差持续地趋向零值。

2、根据权利要求1的装置,其特征在于比较电路是差分放大器。

3、根据权利要求1或2的装置,其特征在于对于每个控制电路的比较电路,参考信号是相同的。

4、根据权利要求1或2的装置,其特征在于对于不同控制电路的比较电路,参考信号表现出预定的差别,这些差别取决于与装置有关的参数。

5、根据前面的权利要求中的一项的装置,其特征在于控制电路包括跨阻电路,在它上面加有来自控制装置的相应部分的电信号,该跨阻电路的输出信号被加到比较电路的所述一个输入端上。

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