[其他]陶瓷及其同类材料的热变形测量系统无效
| 申请号： | 85103687 | 申请日： | 1985-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN85103687A | 公开（公告）日： | 1986-11-12 |
| 发明（设计）人： | 京田洋;远藤容弘;藤原祯一;三村岁贞;西川喜八郎;西沢章一 | 申请（专利权）人： | 品川白炼瓦株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人： | 栾本生,赵蓉民 |
| 地址： | 日本东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 陶瓷 及其 同类 材料 变形 测量 系统 | ||
【权利要求书】：
1、陶瓷及其同类材料的热变形测量装置至少包括一个给样品端部投射光束的照明器，至少有一个装有套筒透镜的变形测量照橡机以及能消除红外线的滤光片和数据处理装置。
2、陶瓷及其同类材料的热变形测量装置至少包括一个给样品端部投射光束的照明器，至少有一个装有套筒透镜的变形测量照像机以及能消除红外线的滤光片，偏光装置和数据处理装置。
3、如权项1或2所叙述的陶瓷及其同类材料的热变形测量系统，每个变形测量照像机都带有固体光电管线性阵列。
4、如权项1或2所描述的陶瓷及其同类材料的热变形测量系统，每个变形测量照像机都带有光电倍增管。
5、如权项1或2所描述的陶瓷及其同类材料的热变形测量系统，它与数据处理装置、计算机以及数字绘图器相联接。
6、如权项1或权项2所描述的陶瓷及其同类材料的热变形测量系统，滤光片能消除红外区内波长大于0.8um的光。
7、如权项1或2所描述的陶瓷及其同类材料的热变形测量系统，套筒透镜的自由工作距离为200-700mm。
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