[实用新型]一种芯片测试机的载料台结构

说明书

本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片测试机的载料台结构，包括料盒托板，所述料盒托板顶部的上下两侧均设置有料盒托盘，所述料盒托板顶部的右侧设置有载料板，所述料盒托板的底部固定安装有四个载台立柱，所述料盒托盘的数量为六个，所述料盒托板的顶部开设有六个凹槽，六个所述料盒托盘的侧表面分别与六个凹槽的内部相适配。该芯片测试机的载料台结构，通过四个载台立柱承载载料台并连接机架，料盒托板承载料盒托盘，由于料盒托板上下侧共设置有六个凹槽，可一次性在载料台上摆放六个料盒托盘，方便连续测试，降低了劳动强度，且载料板在料盒托盘和夹具之间起到中转的作用，废料盒收集测试不良品，便于芯片的高效测试。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试机的载料台结构。

背景技术

芯片测试机是一种用于电子与通信技术的电子测量仪器，整机采用自动入料、取放、分类及出料可确保测试良率及简化作业程序，适用于各类封装型式(QFP、SOP、PGA、BGA、PLCC等)的IC分检。

现有芯片测试机上的载料台在摆放料盒时不够方便，且料盒摆放位置较少，需人为频繁将装满的料盒供给到测试机工作位置上，劳动强度大，影响芯片测试的效率。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种芯片测试机的载料台结构，具备料盒摆放位置多、降低劳动强度、方便中转和提高测试效率等优点，解决了现有芯片测试机上的载料台在摆放料盒时不够方便，且料盒摆放位置较少，需人为频繁将装满的料盒供给到测试机工作位置上，劳动强度大，影响芯片测试效率的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试机的载料台结构，包括料盒托板，所述料盒托板顶部的上下两侧均设置有料盒托盘，所述料盒托板顶部的右侧设置有载料板，所述料盒托板的底部固定安装有四个载台立柱。

优选的，所述料盒托盘的数量为六个，所述料盒托板的顶部开设有六个凹槽，六个所述料盒托盘的侧表面分别与六个凹槽的内部相适配，六个凹槽分布在料盒托板表面的上下侧，可一次性在载料台上摆放六个料盒托盘，方便连续测试。

优选的，所述料盒托板顶部的中心处设置有废料盒，所述废料盒位于载料板的左侧，载料板在料盒托盘和芯片测试机夹具之间起到中转的作用，废料盒用于收集测试不良品。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种芯片测试机的载料台结构，具备以下有益效果：

该芯片测试机的载料台结构，通过四个载台立柱承载载料台并连接机架，料盒托板承载料盒托盘，由于料盒托板上下侧共设置有六个凹槽，可一次性在载料台上摆放六个料盒托盘，方便连续测试，降低了劳动强度，且载料板在料盒托盘和夹具之间起到中转的作用，废料盒收集测试不良品，便于芯片的高效测试。

附图说明

图1为本实用新型载料台左结构示意图；

图2为本实用新型载料台右结构示意图。

其中：1、料盒托板；2、料盒托盘；3、载料板；4、载台立柱；5、废料盒。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。