[实用新型]一种地质勘查用测量工具有效

专利信息
申请号: 202320476093.X 申请日: 2023-03-14
公开(公告)号: CN219300334U 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 张双建 申请(专利权)人: 北京中科国勘科技有限责任公司
主分类号: F16M11/04 分类号: F16M11/04;F16M11/32;F16M11/36;F16M11/34;G01C15/00
代理公司: 北京智沃律师事务所 11620 代理人: 吴志宏
地址: 100071 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 地质 勘查 测量 工具
【权利要求书】:

1.一种地质勘查用测量工具,包括支架座(1),其特征在于:所述支架座(1)的上侧装配有检测设备(2),所述支架座(1)的周侧转动连接有三个伸缩支腿(3),所述伸缩支腿(3)远离支架座(1)的一端固定连接有扎地钉(4),所述伸缩支腿(3)和扎地钉(4)之间设置有万向连接件(5),所述万向连接件(5)的外侧设置有压地盘(6)。

2.根据权利要求1所述的一种地质勘查用测量工具,其特征在于:所述万向连接件(5)包括有固定连接在伸缩支腿(3)和扎地钉(4)之间的圆杆(7),所述圆杆(7)的外侧固定连接有球形珠(8),所述压地盘(6)的中间位置开设有球形腔,所述压地盘(6)通过球形腔转动连接在球形珠(8)的外侧。

3.根据权利要求2所述的一种地质勘查用测量工具,其特征在于:所述压地盘(6)包括有两个半圆座(9),两个所述半圆座(9)相对的一侧均开设有半球腔,两个所述半圆座(9)之间通过螺钉(14)连接,两个所述半圆座(9)的外侧均固定连接有半圆盘(10)。

4.根据权利要求3所述的一种地质勘查用测量工具,其特征在于:两个所述半圆盘(10)的下侧均装配有多个抓地板(13)。

5.根据权利要求4所述的一种地质勘查用测量工具,其特征在于:所述抓地板(13)的为垂直于半圆盘(10)的平板结构,且两个所述半圆盘(10)下侧的多个抓地板(13)以半圆座(9)的轴心为圆心呈环形阵列,所述抓地板(13)的主侧面朝向半圆座(9)的轴线。

6.根据权利要求4所述的一种地质勘查用测量工具,其特征在于:所述半圆盘(10)上固定连接有多个螺纹定位件(11),所述螺纹定位件(11)的内部螺纹连接有内六角螺纹钉(12),所述抓地板(13)固定连接在内六角螺纹钉(12)的下部。

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