[实用新型]一种半导体器件高效测试装置

说明书

本实用新型涉及半导体器件技术领域，具体为一种半导体器件高效测试装置，包括安装板，所述安装板的下表面固定连接有支架，所述支架的内壁固定连接有收集盒，所述安装板的一侧安装有测试板，所述收集盒的内壁设有收集结构，所述收集结构包括抽盒，所述抽盒的下表面与收集盒滑动连接，所述抽盒的上表面固定连接有支板，所述支板的短臂滑动贯穿有长杆，所述支架的内壁固定连接有限位框，所述长杆的圆弧面与限位框滑动连接，所述收集盒的一侧开设有侧孔，所述抽盒位于侧孔内，所述长杆的上端固定连接有连接绳，连接绳的另一端与支板固定连接。本实用新型，解决了收集盒与支架三为固定连接，因此后续人员拿取半导体测试件还需重新逐个拿取的问题。

技术领域

本实用新型涉及半导体器件技术领域，尤其涉及一种半导体器件高效测试装置。

背景技术

半导体器件是利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换，在一些电器设备中应用极为广泛。

现有技术诸如公告号为CN217404457U的实用新型，该专利公开了一种半导体分立器件的耐压测试装置，该专利采用支架一、支架二和支架三，所述支架一的两端均固定有连板，两个所述连板之间安装有传送带，所述支架二的上端转动连接有测试板，所述测试板上设置有测试引脚，所述支架三的放置有位于测试板端部下侧的收集盒，所述收集盒的外壁与测试板的下侧壁之间设有驱动机构，来解决如何连续半导体分立器件的耐压测试是目前亟需解决的问题。

发明人在日常工作中发现，半导体器件通过测试板测试完成后会掉落至收集盒内，然而收集盒与支架三为固定连接，因此后续人员拿取半导体测试件还需重新逐个拿取，从而会耗费人员较多时间的问题出现。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在收集盒与支架三为固定连接，因此后续人员拿取半导体测试件还需重新逐个拿取的缺点，而提出的一种半导体器件高效测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种半导体器件高效测试装置，包括安装板，所述安装板的下表面固定连接有支架，所述支架的内壁固定连接有收集盒，所述安装板的一侧安装有测试板，所述收集盒的内壁设有收集结构，所述收集结构包括抽盒，所述抽盒的下表面与收集盒滑动连接，所述抽盒的上表面固定连接有支板，所述支板的短臂滑动贯穿有长杆，所述支架的内壁固定连接有限位框，所述长杆的圆弧面与限位框滑动连接。

上述部件所达到的效果为：达到了对测试后的半导体器件进行整体拿取的效果，从而尽量避免收集盒与支架三为固定连接，因此后续人员拿取半导体测试件还需重新逐个拿取的问题出现。

优选的，所述收集盒的一侧开设有侧孔，所述抽盒位于侧孔内。

上述部件所达到的效果为：移动抽盒从侧孔内抽出，侧孔起到方便人员拿动抽盒的作用。

优选的，所述长杆的上端固定连接有连接绳，所述连接绳的另一端与支板固定连接。

上述部件所达到的效果为：长杆移动带动连接绳移动，连接绳达到辅助限位长杆以防遗落的效果。

优选的，所述抽盒的内壁均匀固定连接有若干个弹簧，若干个所述弹簧的另一端固定连接有斜板。

上述部件所达到的效果为：半导体器件掉落至斜板上通过弹簧的收缩使半导体器件掉落至抽盒一侧，弹簧起到避免半导体器件堆叠在一侧的作用。

优选的，所述测试板的一侧设有辅助结构，所述辅助结构包括连接板，所述连接板的一侧与测试板固定连接，所述连接板的上表面固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆的输出端位于测试板上方。

上述部件所达到的效果为：达到了对测试后不良品进行单独抽出的效果，因此不会再次掉落至收集盒内，避免了后期再挑出不良品的情况，从而提高装置的实用性以及人员劳动强度。