[实用新型]一种半导体器件高效测试装置有效

专利信息
申请号: 202320149825.4 申请日: 2023-02-08
公开(公告)号: CN219292103U 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 李伟进 申请(专利权)人: 深圳市时时发控股有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
代理公司: 广东中禾共赢知识产权代理事务所(普通合伙) 44699 代理人: 苗昂
地址: 518000 广东省深圳市福*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体器件 高效 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体器件高效测试装置,包括安装板(1),其特征在于:所述安装板(1)的下表面固定连接有支架(2),所述支架(2)的内壁固定连接有收集盒(3),所述安装板(1)的一侧安装有测试板(4),所述收集盒(3)的内壁设有收集结构(5),所述收集结构(5)包括抽盒(51),所述抽盒(51)的下表面与收集盒(3)滑动连接,所述抽盒(51)的上表面固定连接有支板(52),所述支板(52)的短臂滑动贯穿有长杆(53),所述支架(2)的内壁固定连接有限位框(54),所述长杆(53)的圆弧面与限位框(54)滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体器件高效测试装置,其特征在于:所述收集盒(3)的一侧开设有侧孔(55),所述抽盒(51)位于侧孔(55)内。

3.根据权利要求1所述的一种半导体器件高效测试装置,其特征在于:所述长杆(53)的上端固定连接有连接绳(56),所述连接绳(56)的另一端与支板(52)固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体器件高效测试装置,其特征在于:所述抽盒(51)的内壁均匀固定连接有若干个弹簧(57),若干个所述弹簧(57)的另一端固定连接有斜板(58)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体器件高效测试装置,其特征在于:所述测试板(4)的一侧设有辅助结构(6),所述辅助结构(6)包括连接板(61),所述连接板(61)的一侧与测试板(4)固定连接,所述连接板(61)的上表面固定连接有伸缩杆(62),所述伸缩杆(62)的输出端位于测试板(4)上方。

6.根据权利要求5所述的一种半导体器件高效测试装置,其特征在于:所述伸缩杆(62)的输出端固定连接有扩板(63),所述扩板(63)的下表面与测试板(4)滑动连接。

7.根据权利要求5所述的一种半导体器件高效测试装置,其特征在于:所述测试板(4)的上表面均匀固定连接有两个连接杆(64),两个所述连接杆(64)的上端固定连接有导流板(65)。

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