[实用新型]一种稳定的芯片测试装置

权利要求书

1.一种芯片测试装置，其特征在于：包括下座(1)，所述下座(1)的两侧均设置有两组滑槽(5)，所述滑槽(5)内滑动连接有滑块(8)，所述滑块(8)上安装有连杆(3)，所述连杆(3)上安装有上盖(2)，所述滑块(8)内安装有弹性卡块，所述滑槽(5)下侧设置有卡槽，所述卡槽用于与所述弹性卡块配合对所述滑块(8)的位置进行固定。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述下座(1)内转动连接有挤压块(6)，所述挤压块(6)的两侧均设置有挤压杆(7)，所述挤压杆(7)与所述下座(1)活动连接，所述挤压杆(7)的一端与所述弹性卡块侧面接触。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述挤压块(6)上安装有旋钮(4)，所述旋钮(4)上设置有环形凹槽，所述环形凹槽用于增大所述旋钮(4)表面的摩擦力。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述滑槽(5)的下端设置有挤出槽，所述挤出槽内安装有挤出弹簧(11)。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：两组所述上盖(2)相邻两侧均安装有磁力部。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述滑槽(5)内设置有圆弧倒角。