[实用新型]一种用于热插拔控制电流电压的检测电路有效

专利信息
申请号: 202320103266.3 申请日: 2023-02-02
公开(公告)号: CN219496500U 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 邓俊杰;顾长亮 申请(专利权)人: 东莞忆云信息系统有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00;G05B19/042
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 李莹
地址: 523000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 热插拔 控制 电流 电压 检测 电路
【说明书】:

实用新型涉及电路技术领域,尤其涉及一种用于热插拔控制电流电压的检测电路。本实用新型所公开的一种用于热插拔控制电流电压的检测电路,包括电源(V1)、降压芯片(DCDC)、微控制单元(MCU)、第一MOS管(Q1)、第二MOS管(Q2)、第一电阻(R1)、电流电压检测芯片(U24);本实用新型采用金手指连接器热插拔的方式来控制负载器件电压电流采集电路的导通和截止,以实现电流电压检测控制的智能化。

技术领域

本实用新型涉及电路技术领域,尤其涉及一种用于热插拔控制电流电压的检测电路。

背景技术

在固态硬盘、嵌入式多媒体卡、UNIX文件系统及其测试中,电流电压检测电路系统较为常见,目前传统产品中的电流电压检测电路系统并没有控制开启和关闭的功能,上电后就会一直工作,智能化程度较低且能耗较高。

因此,当前电流电压检测电路系统具有智能化程度较低的技术问题。

实用新型内容

本实用新型所提供的一种用于热插拔控制电流电压的检测电路,旨在解决当前电流电压检测电路系统具有智能化程度较低的技术问题。

一种用于热插拔控制电流电压的检测电路,包括电源(V1)、降压芯片(DCDC)、微控制单元(MCU)、第一MOS管(Q1)、第二MOS管(Q2)、第一电阻(R1)、电流电压检测芯片(U24);所述降压芯片(DCDC)的一端与电源(V1)进行连接,所述降压芯片(DCDC)的另一端与所述微控制单元(MCU)的第四端进行连接;所述微控制单元(MCU)的第二端与所述第二MOS管(Q2)栅极相连接,所述第二MOS管(Q2)源极接地,所述第二MOS管(Q2)漏极与所述第一MOS管(Q1)栅极相连接;所述第一MOS管(Q1)源极分别与所述电源(V1)、所述降压芯片(DCDC)的一端相连接,所述第一MOS管(Q1)漏极与第一电阻(R1)的一端相连接,所述第一电阻(R1)的另一端与所述电流电压检测芯片(U24)的第八管脚相连接以形成第一连接点,所述第一连接点与负载器件相连接;所述电流电压检测芯片(U24)的第三管脚与所述微控制单元(MCU)的第三端相连接。

优选的,所述降压芯片(DCDC)与所述微控制单元(MCU)的第四端之间还设置有第二电阻(R2),所述第二电阻(R2)的一端分别与所述降压芯片(DCDC)的一端、所述微控制单元(MCU)的第一端进行连接,所述第二电阻(R2)的另一端与所述微控制单元(MCU)的第四端进行连接。

优选的,微控制单元(MCU)的第二端与所述第二MOS管(Q2)栅极之间还设置有第三电阻(R3)及第六电阻(R6);所述第三电阻(R3)的一端与所述微控制单元(MCU)的第二端相连接,所述第三电阻(R3)的另一端与所述第二MOS管(Q2)栅极相连接;所述第六电阻(R6)的一端分别与所述第三电阻(R3)的另一端、第二MOS管(Q2)栅极相连接,所述第六电阻(R6)的另一端分别与所述第二MOS管(Q2)源极、接地端相连接。

优选的,所述第二MOS管(Q2)漏极与所述第一MOS管(Q1)栅极之间还设置第五电阻(R5),所述第五电阻(R5)的一端与所述第二MOS管(Q2)漏极相连接,所述第五电阻(R5)的另一端与所述第一MOS管(Q1)栅极相连接;所述第一MOS管与所述电源(V1)间设置有第四电阻(R4),所述第四电阻(R4)的一端分别与所述电源(V1)、所述第一MOS管(Q1)源极相连接,所述第四电阻(R4)的另一端分别与所述第一MOS管(Q1)栅极、所述第五电阻(R5)的另一端相连接。

优选的,还包括第一电容(C1)和第二电容(C2),所述第一电容(C1)的一端与所述第二电容(C2)的一端相连接以形成第二连接点,并且所述第二连接点分别与所述第一MOS管(Q1)漏极、所述第一电阻(R1)的一端相连接,所述第一电容(C1)的另一端与所述第二电容(C2)的另一端进行连接后接地。

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