[实用新型]一种用于热插拔控制电流电压的检测电路

权利要求书

1.一种用于热插拔控制电流电压的检测电路，其特征在于，所述电路包括电源(V1)、降压芯片DCDC、微控制单元MCU、第一MOS管(Q1)、第二MOS管(Q2)、第一电阻(R1)、电流电压检测芯片(U24)；

所述降压芯片DCDC的一端与电源(V1)进行连接，所述降压芯片DCDC的另一端与所述微控制单元MCU的第四端进行连接；

所述微控制单元MCU的第二端与所述第二MOS管(Q2)栅极相连接，所述第二MOS管(Q2)源极接地，所述第二MOS管(Q2)漏极与所述第一MOS管(Q1)栅极相连接；

所述第一MOS管(Q1)源极分别与所述电源(V1)、所述降压芯片DCDC的一端相连接，所述第一MOS管(Q1)漏极与第一电阻(R1)的一端相连接，所述第一电阻(R1)的另一端与所述电流电压检测芯片(U24)的第八管脚相连接以形成第一连接点，所述第一连接点与负载器件相连接；

所述电流电压检测芯片(U24)的第三管脚与所述微控制单元MCU的第三端相连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于热插拔控制电流电压的检测电路，其特征在于，所述降压芯片DCDC与所述微控制单元MCU的第四端之间还设置有第二电阻(R2)，所述第二电阻(R2)的一端分别与所述降压芯片DCDC的一端、所述微控制单元MCU的第一端进行连接，所述第二电阻(R2)的另一端与所述微控制单元MCU的第四端进行连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于热插拔控制电流电压的检测电路，其特征在于，微控制单元MCU的第二端与所述第二MOS管(Q2)栅极之间还设置有第三电阻(R3)及第六电阻(R6)；

所述第三电阻(R3)的一端与所述微控制单元MCU的第二端相连接，所述第三电阻(R3)的另一端与所述第二MOS管(Q2)栅极相连接；

所述第六电阻(R6)的一端分别与所述第三电阻(R3)的另一端、第二MOS管(Q2)栅极相连接，所述第六电阻(R6)的另一端分别与所述第二MOS管(Q2)源极、接地端相连接。

4.根据权利要求1所述的一种用于热插拔控制电流电压的检测电路，其特征在于，所述第二MOS管(Q2)漏极与所述第一MOS管(Q1)栅极之间还设置第五电阻(R5)，所述第五电阻(R5)的一端与所述第二MOS管(Q2)漏极相连接，所述第五电阻(R5)的另一端与所述第一MOS管(Q1)栅极相连接；

所述第一MOS管(Q1)与所述电源(V1)间设置有第四电阻(R4)，所述第四电阻(R4)的一端分别与所述电源(V1)、所述第一MOS管(Q1)源极相连接，所述第四电阻(R4)的另一端分别与所述第一MOS管(Q1)栅极、所述第五电阻(R5)的另一端相连接。

5.根据权利要求2所述的一种用于热插拔控制电流电压的检测电路，其特征在于，还包括第一电容(C1)和第二电容(C2)，所述第一电容(C1)的一端与所述第二电容(C2)的一端相连接以形成第二连接点，并且所述第二连接点分别与所述第一MOS管(Q1)漏极、所述第一电阻(R1)的一端相连接，所述第一电容(C1)的另一端与所述第二电容(C2)的另一端进行连接后接地。

6.根据权利要求5所述的一种用于热插拔控制电流电压的检测电路，其特征在于，还包括第三电容(C3)、第七电阻(R7)、第四电容(C4)；

所述第三电容(C3)的一端与所述第七电阻(R7)的一端相连接以形成第三连接点，所述第三连接点分别与所述第二连接点、所述第一电阻(R1)的一端相连接；

所述第七电阻(R7)的另一端与所述第四电容(C4)的一端相连接以形成第四连接点，所述第四连接点与所述电流电压检测芯片(U24)的第十管脚相连接；

所述第四电容(C4)的另一端接地；

所述第三电容(C3)的另一端与所述第一电阻(R1)的另一端相连接以形成第五连接点。