[发明专利]交叉仓所覆盖的交叉项数量的获取方法、电子设备和介质

说明书

本发明涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种交叉仓所覆盖的交叉项数量的获取方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、获取用户定义的交叉仓对应的变量；步骤S2、构建变量取值和变量仓id的映射关系，建立N维坐标系，每一维度对应一个变量Asubgt;n/subgt;；步骤S3、获取覆盖组中的用户定义的交叉仓；步骤S4、确定每一Bsubgt;m/subgt;中每一Asubgt;n/subgt;对应的变量仓id集合；步骤S5、生成Bsubgt;m/subgt;对应的N维矩形集合，在N维坐标系中构建每一Bsubgt;m/subgt;对应的N维矩形生成所有Bsubgt;m/subgt;对应的N维矩形所覆盖的区域；步骤S6、基于扫描线算法获取所有Bsubgt;m/subgt;对应的N维矩形所覆盖的区域对应的交叉点数，确定交叉仓所覆盖的交叉项数量。本发明能够快速准确获取交叉仓所覆盖的交叉项数量。

技术领域

本发明涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种交叉仓所覆盖的交叉项数量的获取方法、电子设备和介质。

背景技术

在芯片的软件仿真验证过程中, 芯片验证语言system verilog 的功能覆盖率（functional coverage）模块尤为重要，它涉及到验证设计是否按照预期工作。验证工程师需要通过编写功能覆盖组（covergroup）去覆盖数据、地址和控制信号等以验证激励是否达到目的。交叉覆盖（cross）是功能覆盖组的一个重要概念。交叉覆盖的功能覆盖组中存在用户定义一个或多个交叉仓（cross bin），每个用户定义的交叉仓会覆盖一部分交叉项（cross product），对于没有被与用户定义的交叉仓覆盖到的交叉项都会独立创建一个自动的仓(bin)。

当需要获取交叉覆盖组的覆盖率时，需要先确定被命中（hit）的交叉仓的数量、用户定义的交叉仓的数量、自动生成的交叉仓的数量以及用户定义的交叉仓所覆盖的交叉项的数量。其中，被命中的交叉仓的数量、用户定义的交叉仓的数量均能快速准确获取，自动生成的交叉仓的数量需要根据所有覆盖点所被交叉的仓的数量和用户定义的交叉仓所覆盖的交叉项的数量获取。所有覆盖点所被交叉的仓的数量也能够能快速准确获取，但用户定义的交叉仓中可能存在多个重复的交叉项，因此，用户定义的交叉仓所覆盖的交叉项的数量无法直接获取。由此可知，如何快速准确获取用户定义的交叉仓所覆盖的交叉项的数量，来确定交叉覆盖组的覆盖率，成为亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明目的在于，提供一种交叉仓所覆盖的交叉项数量的获取方法、电子设备和介质，能够快速准确获取交叉仓所覆盖的交叉项数量，进而快速准确地确定交叉覆盖组的覆盖率。

根据本发明第一方面，提供了一种交叉仓所覆盖的交叉项数量的获取方法，包括：

步骤S1、获取用户定义的交叉仓所对应的N个变量{A₁,A₂,…,A_n,…,A_N}，A_n为用户定义的交叉仓所对应的第n个变量，n的取值范围为1到N；

步骤S2、将每一A_n划分为f(n)个变量仓，每一变量仓对应一个变量仓id，构建变量取值和变量仓id的映射关系，建立N维坐标系，每一维度对应一个变量A_n，在A_n对应的坐标轴上，每一整数值对应一个A_n的变量仓id；

步骤S3、获取覆盖组中的用户定义的M个交叉仓{B₁,B₂,…,B_m,…,B_M}，B_m为覆盖组中的第m个用户定义的交叉仓，m的取值范围为1到M，B_m中设置了A₁,A₂,…,A_n,…,A_N对应的取值范围；

步骤S4、基于变量取值和变量仓id的映射关系确定每一B_m中每一A_n对应的变量仓id集合；