[发明专利]交叉仓所覆盖的交叉项数量的获取方法、电子设备和介质

权利要求书

1.一种交叉仓所覆盖的交叉项数量的获取方法，其特征在于，包括：

步骤S1、获取用户定义的交叉仓所对应的N个变量{A₁,A₂,…,A_n,…,A_N}，A_n为用户定义的交叉仓所对应的第n个变量，n的取值范围为1到N；

步骤S2、将每一A_n划分为f(n)个变量仓，每一变量仓对应一个变量仓id，构建变量取值和变量仓id的映射关系，建立N维坐标系，每一维度对应一个变量A_n，在A_n对应的坐标轴上，每一整数值对应一个A_n的变量仓id；

步骤S3、获取覆盖组中的用户定义的M个交叉仓{B₁,B₂,…,B_m,…,B_M}，B_m为覆盖组中的第m个用户定义的交叉仓，m的取值范围为1到M，B_m中设置了A₁,A₂,…,A_n,…,A_N对应的取值范围；

步骤S4、基于变量取值和变量仓id的映射关系确定每一B_m中每一A_n对应的变量仓id集合；

步骤S5、基于B_m中所有A_n对应的变量仓id集合生成B_m对应的N维矩形集合，基于每一B_m对应的N维矩形集合，在所述N维坐标系中构建每一B_m对应的N维矩形生成所有B_m对应的N维矩形所覆盖的区域；

步骤S6、基于扫描线算法获取所有B_m对应的N维矩形所覆盖的区域对应的交叉点数，将所有B_m对应的N维矩形所覆盖的区域对应的交叉点数确定为交叉仓所覆盖的交叉项数量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

B_m中A_n对应的取值范围为{[a₁^mn,a₂^mn],[a₃^mn,a₄^mn],…,[a_y^mn,a_y+1^mn],…,[a_g(mn) ^mn,a_g(mn)+1^mn] }，[a_y^mn,a_y+1^mn]为B_m中A_n对应的第y个取值范围，y的取值范围为1到g(mn), g(mn)为B_m中A_n对应的取值范围总数，a₁^mn≤a₂^mn≤a₃^mn≤a₄^mn≤…≤a_y^mn≤a_y+1^mn,…,≤a_g(mn)^mn≤a_g(mn)+1^mn，所述步骤S4包括：

步骤S41、基于变量取值和变量仓id的映射关系，确定B_m中每一[a_y^mn,a_y+1^mn]，所对应的变量仓id范围[b_y^mn,b_y+1^mn],生成B_m中每一A_n对应的变量仓id集合{[b₁^mn,b₂^mn],[b₃^mn,b₄^mn],…,[b_y^mn,b_y+1^mn],…,[b_g(mn)^mn,b_g(mn)+1^mn] }。