[发明专利]一种基于人工智能的电子元器件生产数据管理系统及方法

说明书

本发明公开了一种基于人工智能的电子元器件生产数据管理系统及方法，属于电子元器件生产数据管理技术领域。本系统包括生产工序流程列表管理模块、偏差值预警模块、人工智能分析模块、数据标记模块以及电子元器件生产调节模块；所述生产工序流程列表管理模块的输出端与所述偏差值预警模块的输入端相连接；所述偏差值预警模块的输出端与所述人工智能分析模块的输入端相连接；所述人工智能分析模块的输出端与所述数据标记模块的输入端相连接；所述数据标记模块的输出端与所述电子元器件生产调节模块的输入端相连接。本发明能够在电子元器件生产过程中，基于前序偏差以人工智能的形式分析后续影响，统一流程修改参数，提高工作效率。

技术领域

本发明涉及电子元器件生产数据管理技术领域，具体为一种基于人工智能的电子元器件生产数据管理系统及方法。

背景技术

电子元器件是指在工厂生产加工时不改变分子成分的成品。其中，集成电路是一种特殊的电子元器件，也是目前最重要的电子元器件之一，其是一种采用特殊工艺，将晶体管、电阻、电容等元件集成在硅基片上而形成的具有一定功能的器件。小规模集成电路一般包括基本逻辑门、触发器、寄存器、译码器、驱动器、计数器、整形电路、可编程逻辑器件、微处理器、单片机、DSP等。

在集成电路的生产过程中，一般包括多道工序，每一道工序都存在检验标准，在目前的行业生产中，一般在每一道工序结束后，若发现校正出现偏差，开始对下一工序的生产参数进行调整，以保证在下一道工序结束时，偏差能够降低，但实际中，许多偏差的影响往往在多个工序后才显现出来，较小的偏差对实际工况影响不大，而目前，缺乏对于初始偏差的分析，以及初始偏差对后续生产的影响，导致工作繁重，效率低下。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于人工智能的电子元器件生产数据管理系统及方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种基于人工智能的电子元器件生产数据管理方法，该方法包括以下步骤：

S1、获取电子元器件生产工序流程，将每一个生产工序标记为一个数据节点，获取每一个数据节点的电子元器件生产工序标准值，所述标准值指电子元器件生产工序的系统合格检验值；

S2、获取初始数据节点的实际值，计算与标准值形成的偏差值，设置偏差阈值，若不高于偏差阈值，则进行下一生产工序队列，若高于偏差值，报警至管理员端口；S3、获取历史数据下每个数据节点的正常偏差值与偏差影响值，所述正常偏差值指前一工序以标准值结束时，相邻的下一工序出现的偏差值，所述偏差影响值指前一工序以偏差值结束时，相邻的下一工序出现的偏差值，构建相邻生产工序之间的偏差分析模型；

S4、获取不同批次下的初始数据节点的偏差值，根据偏差分析模型生成后续所有生产工序的偏差值，若存在后续任一生产工序的偏差值超出设置的偏差阈值，标记生产线以及首次出现超出偏差阈值对应的数据节点；

S5、采集数据节点被标记的次数，按照从多到少的顺序对数据节点进行排序，对不同批次的生产队列进行调整，将同一数据节点被标记的生产线构建一个集合，在对集合内生产线进行电子元器件生产时，调整对应的数据节点参数，保证集合内所有生产线输出的偏差值满足偏差阈值。

根据上述技术方案，所述偏差值指实际值与标准值之间的差值的绝对值，在电子元器件生产中包括工序：单晶硅片制造、IC设计、光罩制作、IC制造、IC测试和封装，在每项工序结束后，获取电子元器件的各项实际参数，根据下列方式计算输出偏差值：

其中，P代表偏差值；代表电子元器件参数i的实际值；代表电子元器件参数i的标准值；n代表参与测试的电子元器件参数总量。

在上述技术方案中，提出了偏差值的计算方式，由于电子元器件的各项实际参数均可能不同于标准值，因此偏差值实际上是以偏差总和来计算的，实际计算过程中，采用总和平均值也是可以的。