[发明专利]温度控制方法、装置、系统、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种温度控制方法，其特征在于，用于对细胞培养装置的温度控制，包括：

获取细胞培养装置在目标时间段内的参考温度数据；

在所述参考温度数据大于第一预设温度值的情况下，控制所述细胞培养装置的驱动模块产生占空比为第一占空比的初始PWM信号；

通过所述PWM信号驱动所述细胞培养装置的循环冷却装置，并获取温度变化数据；其中，所述循环冷却装置用于调节所述细胞培养装置的温度；

根据所述温度变化数据确定第二占空比，控制所述驱动模块产生占空比为所述第二占空比的目标PWM信号，通过所述目标PWM信号驱动所述循环冷却装置；

其中，所述第二占空比采用以下公式计算：

其中，表示所述第二占空比；表示所述温度变化数据；

其中，所述细胞培养装置包括：

培养单元，所述培养单元设有用于容纳培养基的容置槽；所述培养单元包括第一温度传感器以及第一温控装置；所述第一温度传感器用于监测所述容置槽内的温度；所述第一温控装置用于控制所述容置槽内的温度；以及，

箱体，所述培养单元位于所述箱体的内腔；所述箱体包括第二温度传感器以及循环冷却装置；所述第二温度传感器用于监测所述箱体的内腔的温度；所述循环冷却装置用于控制所述箱体的内腔的温度。

2.根据权利要求1所述的温度控制方法，其特征在于，在所述获取细胞培养装置在目标时间段内的参考温度数据之前，所述方法还包括：

获取目标时间段内细胞培养装置中的培养单元的第一采集温度值；

在所述第一采集温度值大于第一预设温度值的情况下，控制开启所述细胞培养装置的温控装置，所述温控装置用于对所述细胞培养装置进行升温或降温。

3.根据权利要求1所述的温度控制方法，其特征在于，所述获取细胞培养装置在目标时间段内的参考温度数据，包括：

获取目标时间段内细胞培养装置的至少两个第二采集温度值；

对所述第二采集温度值进行清洗处理，确定所述第二采集温度值中符合预设条件的有效温度值；

确定所述有效温度值的平均值为所述参考温度数据。

4.根据权利要求1所述的温度控制方法，其特征在于，所述根据所述温度变化数据确定第二占空比，包括：

根据所述温度变化数据，确定占空比调整值；

根据所述第一占空比与所述占空比调整值之和，确定所述第二占空比。

5.根据权利要求4所述的温度控制方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取调整温度数据；

确定所述调整温度数据大于第二预设温度值的情况下，发出告警信息。

6.根据权利要求1所述的温度控制方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取外部温度数据；

根据所述外部温度数据，控制所述驱动模块产生第三信号，通过所述第三信号驱动所述循环冷却装置。