[发明专利]一种集成电路布局时序性能自动评测系统在审

专利信息
申请号: 202310632012.5 申请日: 2023-05-31
公开(公告)号: CN116629198A 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 周萌 申请(专利权)人: 云中芯半导体技术(苏州)有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398;G06F30/396;G06F30/392
代理公司: 深圳市科冠知识产权代理有限公司 44355 代理人: 刘一佳
地址: 215000 江苏省苏州市吴中经济开发区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 布局 时序 性能 自动 评测 系统
【说明书】:

发明公开了一种集成电路布局时序性能自动评测系统,一种集成电路布局时序性能自动评测系统包括:布局文件输入模块,用于接收集成电路的布局文件;时序分析模块,用于根据所述布局文件和预设的时序规则,对所述集成电路的时序性能进行分析,并输出时序分析结果;评测指标生成模块,用于根据所述时序分析结果和预设的评测标准,生成所述集成电路的时序性能评测指标;评测报告输出模块,用于根据所述时序性能评测指标,输出所述集成电路的时序性能评测报告。本发明能够降低用户进行集成电路布局时序性能评测的难度和成本,提高集成电路布局设计的效率和质量。

技术领域

本发明涉及软件控制技术领域,尤其涉及一种集成电路布局时序性能自动评测系统。

背景技术

集成电路布局是指将数字逻辑电路的门级网表映射到具体的物理单元和互连线上,以实现电路的功能和性能要求。集成电路布局的质量直接影响到电路的面积、功耗、速度、信号完整性等指标。因此,集成电路布局设计是数字集成电路设计中的一个重要环节。集成电路布局的时序性能是指电路在给定的工作频率和工作环境下,能够正确传输和处理数据信号的能力。

目前,集成电路布局设计过程中,通常需要使用人工手动测试的方式来进行时序性能的检查和优化。测试人员通过研发人员提供详细的输入文件,如网表、布局文件、标准单元库、时钟树信息、SDC文件等来进行测试,在这一过程中需要测试人员熟悉各种命令和参数,才能进行有效的时序分析。这些测试过程较为复杂和繁琐,对于初学者或者非专业人员来说,存在一定的门槛和难度。

因此,目前还缺乏一种可靠的集成电路布局时序性能自动评测系统,该系统能够根据用户提供的简单输入信息,如布局文件等,实现布局时序性能自动评测,并给出时序性能的评价结果和优化建议。

发明内容

本申请的目的是提供一种集成电路布局时序性能自动评测系统,本方案中,能够对集成电路的时序性能进行全面、准确、快速的评测,并给出相应的评测报告和优化建议,提高了集成电路设计的效率和质量,从而本申请能够降低用户进行集成电路布局时序性能评测的难度和成本,提高集成电路布局设计的效率和质量。

为解决上述技术问题,本申请提供了一种集成电路布局时序性能自动评测系统,包括:

布局文件输入模块,用于接收集成电路的布局文件;

时序分析模块,用于根据所述布局文件和预设的时序规则,对所述集成电路的时序性能进行分析,并输出时序分析结果;

评测指标生成模块,用于根据所述时序分析结果和预设的评测标准,生成所述集成电路的时序性能评测指标;

评测报告输出模块,用于根据所述时序性能评测指标,输出所述集成电路的时序性能评测报告。

优选地,所述时序分析模块还用于对所述集成电路的关键路径进行识别,并将所述关键路径作为所述时序分析结果的一部分输出。

优选地,所述评测指标生成模块还用于对所述集成电路的时序性能进行等级划分,并将所述等级作为所述时序性能评测指标的一部分输出。

优选地,所述评测报告输出模块还用于以图形或表格的形式展示所述时序性能评测指标。

优选地,所述一种集成电路布局时序性能自动评测系统还包括优化建议提供模块,所述优化建议提供模块用于根据所述时序性能评测指标和预设的优化策略,提供针对所述集成电路布局的优化建议,并将所述优化建议作为所述时序性能评测报告的一部分输出。

优选地,所述一种集成电路布局时序性能自动评测系统还包括用户交互模块,所述用户交互模块用于接收用户对所述优化建议的选择或修改,并将用户选择或修改后的优化建议反馈给所述优化建议提供模块。

优选地,所述优化建议提供模块还用于根据用户选择或修改后的优化建议,对所述布局文件进行相应的修改,并将修改后的布局文件输出给用户。

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