[发明专利]一种检测贴片机

说明书

本发明公开了一种检测贴片机，包括机体，所述机体内侧设置有检测贴片模组，所述检测贴片模组包括机台大底板，所述机台大底板一侧前后端上正对布置有空盘上料料仓和良品收料料仓；所述机台大底板另一侧前后端上正对布置有待检测上料料仓和不良品收料料仓；所述空盘上料料仓和良品收料料仓之间设置有放片载台组；所述待检测上料料仓和不良品收料料仓之间设置有取片载台组；所述取片载台组和放片载台组之间设置有倒置检测相机组；所述空盘上料料仓和放片载台组之间，所述良品收料料仓和放片载台组之间，本发明的检测贴片机，可以将晶粒从一wafer盘上转到另一wafer盘上，实现自动上料和收料，并对钢环上晶粒的外观检测。

技术领域

本发明具体涉及一种检测贴片机，属于贴片检测设备技术领域。

背景技术

晶粒外观的检测过程是必不可少的，其关系到产品后续使用的可靠性和准确性；现有技术中，晶粒检测时，一般由机械手将tray盘抓取再搬运到检测工位；对晶粒进行光学检测时，需要对晶粒多个特定表面进行检测，现有的检测方法一般将单个晶粒朝上的一面先检测，然后对单个晶粒进行翻面，改变朝向后再检测另一个特定表面，然后分别将检测结果输出；现有的AOI检测设备检测效率低，无法实现自动上下料。

发明内容

为解决上述问题，本发明提出了一种检测贴片机，可以将晶粒从一wafer盘上转到另一wafer盘上，实现自动上料和收料，并对钢环上晶粒的外观检测。

本发明的检测贴片机，包括机体，所述机体内侧设置有检测贴片模组，所述检测贴片模组包括

机台大底板，所述机台大底板一侧前后端上正对布置有空盘上料料仓和良品收料料仓；所述机台大底板另一侧前后端上正对布置有待检测上料料仓和不良品收料料仓；

所述空盘上料料仓和良品收料料仓之间设置有放片载台组；所述待检测上料料仓和不良品收料料仓之间设置有取片载台组；所述取片载台组和放片载台组之间设置有倒置检测相机组；

所述空盘上料料仓和放片载台组之间，所述良品收料料仓和放片载台组之间，所述待检测上料料仓和取片载台组之间，所述不良品收料料仓和取片载台组之间均设置有中转载台；

所述中转载台外部均设置有拉钢环上料组；所述拉钢环上料组的取放端设置于中转载台中部上方；

所述放片载台组和取片载台组上方设置有取放移送模组。

首先，人工上料仓，人工将承载空料钢环的料仓放置到空盘上料料仓，同时，人工将承载待检测满料钢环的料仓放置到待检测上料料仓，并将两空料仓分别放置到良品收料料仓和不良品收料料仓；

接着，空料钢环和满料钢环加载带中转载台上，拉钢环上料组各自夹取空料钢环和满料钢环，并送入到中转载台；

接着，拉钢环上料组将空料钢环送入到放片载台组，同时，另一拉钢环上料组将满料钢环送入到取片载台组；

接着，取片，取片载台组的顶针将晶粒上顶与膜分离，并进行视觉拍照，拍照光学检测通过后，取放移送模组吸取晶粒；并向倒置检测相机组正上方行进，通过倒置检测相机组进行拍照光学检测，检测完成后，进入到放片载台组；未检测通过时，则回送到取片载台组，当取片载台组上的所有良品晶片被取完后，拉钢环上料组将该钢环送入到中转载台，并送入到不良品收料料仓；

最后，当取放移送模组吸取晶粒并放入到放片载台组的空料钢环上，空料钢环满料后，拉钢环上料组将该钢环送入到中转载台，并送入到良品收料料仓。