[发明专利]一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统

说明书

本发明实施例公开一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统，用于验证动态随机存取存储器模块所包含电可擦除可编程只读存储器中之信息写入与读取的功能，检测系统包含至少一个存储器模块插槽、以及处理单元，存储器模块插槽用以插入动态随机存取存储器模块，而动态随机存取存储器模块上具有电可擦除可编程只读存储器，当操作系统控制处理单元后，处理单元中的Isupgt;2/supgt;C操作寄存器可以通过Isupgt;2/supgt;C总线访问动态随机存取存储器模块，并且可以于电可擦除可编程只读存储器中进行写入与读取测试资料，其中测试资料不具备样本资料时，可用串行存在检测信息取代。

技术领域

本发明系关于一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统的技术领域，尤其是指用于验证动态随机存取存储器模块所包含电可擦除可编程只读存储器中之信息写读功能验证的检测系统。

背景技术

一般来说，通常服务器或电脑组装厂商于生产时仅会对存储器进行读写的压力测试，即测试存储器的稳定度，以及同时测试存储器的储存与检索资料的能力，然而对于存储器上刻录在电可擦除可编程只读存储器(Electrically-ErasableProgrammableRead-OnlyMemory；EEPROM)内的串行存在检测(serialpresencedetect；SPD)信息却没有进行检测，但串行存在检测信息上通常记载了存储器模块一些重要的相关信息，如存储器颗粒的种类、序列号、容量、速度、所需电压、以及制造厂商等等，若可以检测串行存在检测信息而得到其中的相关信息，则在使用存储器时可将所使用的存储器模块的存取时序设定在最佳状态，就更可以确保系统能正常稳定的运作。

如申请号CN201010186093.3，是为了避免因为多个刀锋式系统共用同一个集成电路(Inter-IntegratedCircuit；I²C)总线而发生通信地址重复冲突等问题，而采用将电子装置内电可擦除可编程只读存储器自动分配不同的I²C通信地址的方法来改善这一情况。

然而在配合AMD系统时，串行存在检测信息却没有被进行检测，当使用者使用AMD系统时，在初期虽然会觉得其性价比相较理想，但长期使用后会发现其稳定性不强、效能下降很快…等诸多缺点。

因此，为解决AMD系统部份使用上不良等问题，本发明主要目的在于提供一种AMD系统之动态随机存取存储器(Dynamicrandom-accessmemory；DRAM)模块的检测系统，以必要发展理想的技术方式，来解决上述问题。

发明内容

有鉴于在先前技术中不会检测电可擦除可编程只读存储器中的信息写读功能，缘此，本发明的主要目的在于提供一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统。

本发明为解决先前技术之问题，所采用的必要技术手段是提供一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统，并且可以透过两种方式来进行验证。

本发明提供一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统，用于验证动态随机存取存储器模块所包含电可擦除可编程只读存储器中之信息写读功能，检测系统包含至少一个存储器模块插槽、以及处理单元。

存储器模块插槽用以插入动态随机存取存储器模块，而动态随机存取存储器模块上具有电可擦除可编程只读存储器。

处理单元包含I²C操作寄存器，I²C操作寄存器可以通过I²C总线电性耦接存储器模块插槽。

其中，处理单元中的I²C操作寄存器可以通过I²C总线访问动态随机存取存储器模块，并且于电可擦除可编程只读存储器中可以进行写入与读取测试资料。