[发明专利]一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统在审
| 申请号: | 202310558326.5 | 申请日: | 2023-05-17 |
| 公开(公告)号: | CN116524990A | 公开(公告)日: | 2023-08-01 |
| 发明(设计)人: | 赵卫国 | 申请(专利权)人: | 上海顺诠科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 李彩玲 |
| 地址: | 201114 上海市闵行区浦星公*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 amd 系统 动态 随机存取存储器 模块 检测 | ||
1.一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统,其特征在于,用于验证所述动态随机存取存储器模块所包含一电可擦除可编程只读存储器中之一信息写读功能,所述检测系统包含:
至少一存储器模块插槽,所述存储器模块插槽用以插入所述动态随机存取存储器模块,所述动态随机存取存储器模块上具有所述电可擦除可编程只读存储器;
一处理单元,所述处理单元包含一I2C操作寄存器,所述I2C操作寄存器通过一I2C总线电性耦接所述存储器模块插槽;
其中,所述处理单元中的I2C操作寄存器通过所述I2C总线访问所述动态随机存取存储器模块,并写入与读取一测试资料于所述电可擦除可编程只读存储器。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述检测系统还包含一存储器控制器,所述信息包含串行存在检测信息和调光温度传感器信息,所述存储器控制器通过所述I2C总线访问所述动态随机存取存储器模块是经由读取所述动态随机存取存储器模块的I2C从属位址。
3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述处理单元为一AMD中央处理器。
4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述检测系统会透过一操作系统来控制所述AMD中央处理器。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述检测系统还包含一PCA9546A芯片,所述PCA9546A芯片具有复数个映射地址,所述复数个映射地址包含至少一个属于所述动态随机存取存储器模块的映射地址,当所述处理单元中的所述I2C操作寄存器通过所述PCA9546A芯片访问属于所述动态随机存取存储器模块的映射地址,则经由所述I2C总线访问所述动态随机存取存储器模块后,并通过所述动态随机存取存储器模块中特定的所述动态随机存取存储器模块所属的访问地址可以访问特定的所述动态随机存取存储器模块。
6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述测试资料是样本资料及串行存在检测信息两者之一。
7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述测试资料以少量写读的方式来进行验证。
8.一种AMD处理器系统之动态随机存取存储器模块的检测系统,其特征在于,用于验证所述动态随机存取存储器模块所包含的一电可擦除可编程只读存储器中之信息写读功能,所述检测系统包含:
至少一存储器模块插槽,所述存储器模块插槽用以插入所述动态随机存取存储器模块,所述动态随机存取存储器模块上具有所述电可擦除可编程只读存储器;
一底板管理控制器,所述底板管理控制器通过一I2C总线电性耦接所述存储器模块插槽;
其中,所述底板管理控制器通过I2C总线访问所述动态随机存取存储器模块,并写入与读取一测试资料于电可擦除可编程只读存储器。
9.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述检测系统还包含一PCA9546A芯片,所述PCA9546A芯片具有复数个映射地址,所述复数个映射地址包含至少一个属于所述动态随机存取存储器模块的映射地址,当所述底板管理控制器通过所述PCA9546A芯片访问属于所述动态随机存取存储器模块的映射地址,则经由所述I2C总线访问所述动态随机存取存储器模块,并通过所述动态随机存取存储器模块中特定的所述动态随机存取存储器模块所属的访问地址可以访问特定的所述动态随机存取存储器模块。
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