[发明专利]尺寸测量设备

权利要求书

1.尺寸测量设备，其特征在于，所述尺寸测量设备包括：

相对于机架（60）固定设置的工作台（20），所述工作台（20）包括用于放置工件（50）的基准端面（21），所述基准端面（21）设置有定位结构（22）以定位工件（50）；和，

多个测量单元（30），所述多个测量单元（30）活动设置于机架（60）且能够分别相对于所述工作台（20）移动；其中，多个所述测量单元（30）分别包括：能够作线性移动的移动部（32），多个该移动部（32）的移动路径（33）共面以形成调节平面（61）；和，固连于所述移动部（32）以随之移动的测量部（31），该测量部（31）垂直于所述调节平面（61）进行延伸，并设置为能够与所述工件（50）的待测部交互以反馈待测的尺寸量；

多个所述测量单元（30）包括第一测量单元（30a）、第二测量单元（30b）和第三测量单元（30c），其中，所述的第一测量单元（30a）与第二测量单元（30b）的移动路径（33）设置为相互平行，所述第三测量单元（30c）与所述第一测量单元（30a）和第二测量单元（30b）的移动路径（33）设置为相互垂直；其中，所述第一测量单元、第二测量单元和第三测量单元的移动路径（33）的一端设置为彼此紧邻，所述移动路径（33）的另一端设置为彼此远离。

2.根据权利要求1所述的尺寸测量设备，其特征在于，所述尺寸测量设备包括：

支撑台（10），该支撑台（10）包括承托部（11）以承托所述工作台（20），该承托部（11）上开设第一通孔（12）以允许所述测量单元（30）穿过；和，

多个支撑足（13），该支撑足（13）两端分别固定连接于所述机架（60）和所述承托部（11）。

3.根据权利要求1所述的尺寸测量设备，其特征在于，所述工作台（20）的基准端面（21）平行于所述调节平面（61）进行设置；和，

所述工作台（20）的基准端面（21）开设第二通孔（24）以允许所述测量单元（30）的测量部（31）穿过。

4.根据权利要求1-3中的任一项所述的尺寸测量设备，其特征在于，所述工作台（20）为可更换的。

5.根据权利要求1-3中的任一项所述的尺寸测量设备，其特征在于，所述定位结构（22）的位置为可调节的。

6.根据权利要求1中所述的尺寸测量设备，其特征在于，所述尺寸测量设备包括压紧机构（40），所述压紧机构（40）设置于所述机架（60）并能够将工件（50）压紧于所述工作台（20）的基准端面（21）。

7.根据权利要求1中所述的尺寸测量设备，其特征在于，所述基准端面（21）设置有在位检测单元（23）以检测工件（50）与所述基准端面（21）的贴合情况。