[发明专利]一种伺服设备上位机控制检测系统及检测方法在审

专利信息
申请号: 202310378758.8 申请日: 2023-04-10
公开(公告)号: CN116520796A 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 杨民;彭偲;舒畅;马超 申请(专利权)人: 重庆零壹空间航天科技有限公司;重庆零壹空间科技集团有限公司;北京零壹空间电子有限公司;西安零壹空间科技有限公司;北京零壹空间技术研究院有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213 代理人: 黄妍
地址: 401135 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 伺服 设备 上位 控制 检测 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种伺服设备上位机控制检测系统,其特征在于:包括:

接口选择模块,所述接口选择模块用于根据伺服设备的接口选择相应的连接通道;

指令组帧模块,所述指令组帧模块用于将上位机的指令组合成能够让伺服设备识别的命令数据帧;

回令解帧模块,所述回令解帧模块用于实时解析伺服设备发送给上位机的反馈数据帧;

实时数据模块,所述实时数据模块用于对命令数据帧和反馈数据帧包含的数据进行刷新和存储;

图形绘制模块,所述图形绘制模块用于对命令数据帧和反馈数据帧中的数据绘制成图表并显示。

2.如权利要求1所述的一种伺服设备上位机控制检测系统,其特征在于:所述命令数据帧中包含的数据包括第一控制指令和第二控制指令,所述反馈数据帧包含的数据包括暂态测试波形和动态测试波形。

3.如权利要求1所述的一种伺服设备上位机控制检测系统,其特征在于:所述接口选择模块包括串口/422、CAN接口和TCP/IP网络接口。

4.一种伺服设备上位机控制检测方法,采用如权利要求1-3所述的一种伺服设备上位机控制检测系统,其特征在于:包括:

根据伺服设备的接口类型采用对应的接口的上位机;

伺服设备通电,进行试运行,通过人为观察以及兆欧表对伺服设备进行状态自检,检测伺服设备是否能正常运行;

若伺服设备状态自检结果正常,上位机向伺服设备发送控制指令,控制开始进行零位读写测试和极性测试,检测零位设置和伺服设备运动方向是否正常;

若零位设置和伺服设备运动方向均正常,上位机向伺服设备发送控制指令,伺服设备根据控制指令运行,并返回实际波形,比较控制指令和实际波形确定伺服设备是否正常。

5.如权利要求4所述的一种伺服设备上位机控制检测方法,其特征在于:所述暂态测试的步骤如下:

A1:上位机向伺服设备发送第一控制指令,启动时长为μ1的第一定时器;

A2:伺服设备根据第一控制指令运行,得到暂态测试波形,并将暂态测试波形发送给上位机;

A3:上位机将暂态测试波形与第一控制指令绘制成图表并进行比较。

6.如权利要求5所述的一种伺服设备上位机控制检测方法,其特征在于:

所述第一控制指令包括控制方波,所述控制方波的时长为Ns,设伺服设备运行的瞬时时间为t,并启动一个时长为μ1的第一定时器,

若0t+μ1s,控制伺服设备伸缩量设为0;

若1st+μ(N+1)s,控制伺服设备伸缩量设为x;

若(N+1)st+μ(N+2)s,控制伺服设备伸缩量为0。

7.如权利要求6所述的一种伺服设备上位机控制检测方法,其特征在于:μ1的值设定为5ms,所述伸缩量x的取值范围为5x。

8.如权利要求4所述的一种伺服设备上位机控制检测方法,其特征在于:所述动态测试的步骤如下:

B1:上位机向伺服设备发送第二控制指令,其中包括测试频率F、幅值、测试时间T和频段计数M,并启动时长为μ2的第二定时器;

B2:伺服设备根据第二控制指令开始运行测试,并将实时的动态测试波形发送给上位机,上位机根据动态测试波形绘制波形图;

B3:该次运行测试达到测试时间T后,测试频率F*n,频段计数M+1,重复步骤S1-S3,直至测试频率达到伺服设备的最大频率。

9.如权利要求8所述的一种伺服设备上位机控制检测方法,其特征在于:所述测试时间包括准备时间和运行时间,所述准备时间和运行时间比值为1:4。

10.如权利要求9所述的一种伺服设备上位机控制检测方法,其特征在于:所述测试时间T取值为5S,μ2的取值设定为5ms。

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