[发明专利]一种外观2D和3D结合的检测方法及应用

说明书

本发明涉及电子产品外观缺陷检测技术领域，具体地说，涉及一种外观2D和3D结合的检测方法及应用。本发明提供了一种外观2D和3D结合的检测方法，其包括以下步骤：步骤一、2D和3D结合检测上料，步骤二、2D和3D结合检测放料，步骤三、2D和3D结合检测取料，步骤四、2D检测，步骤五、3D检测，步骤六、2D和3D结合检测下料。通过上述2D和3D结合的检测方法能够较佳通过单一结合检测运送通路依次完成2D检测和3D检测，从而较佳地对于检测对象处可能出现的外观缺陷进行采图识别，覆盖范围较广，从而能够较佳地确保检测结果的准确性，进而能够较佳地将外观存在缺陷的产品通过检测识别得出。

技术领域

本发明涉及电子产品外观缺陷检测技术领域，具体地说，涉及一种外观2D和3D结合的检测方法及应用。

背景技术

随着电子技术的日益发展，电子产品逐渐成为日常生活中不可缺少的一部分，尤其是智能手机以及平板电脑这类智能产品。

现在智能手机以及平板电脑该类产品的产量及消费需求均呈上升趋势，由于该类产品均属于基于中框而装配成型的电子产品，故而这些产品的中框质量直接影响到这个产品的质量。

该类产品的中框分为用于安装屏幕的BG面和用于安装电池的CG面；由于在中框的加工及运输过程中，BG面以及CG面处容易出现影响产品质量的外观缺陷，如应力痕、碰伤、压伤、刮伤、棱边毛刺、棱边毛边、棱边卷边、过铣、漏铣以及未铣到位等外观缺陷。

传统的对于此类物件的外观缺陷检测方式中大多为人工通过肉眼检测，或者通过检测设备依次逐个的进行采图识别检测；这些检测方式一方面检测精度不够高，因为这些方式中外观检测的覆盖区域不够完全，并且没有针对不同的检测区域进行系统化针对性的相机布置，所以传统的检测方式容易出现不良品漏检的情况；另一方面，这些检测方式没有形成一个成套的自动化检测设备以及方法，从上料到下料，现有技术中缺乏一种能够从上料、除尘、不同区域针对性外观缺陷检测直至下料的外观缺陷检测装置；故而现有的检测设备的检测效率较低，难以满足大产量下的产品外观检测需求。

针对2D和3D检测，现有的检测设备一方面难以较佳地直接适用于成套的检测设备并与其他部分的检测装置相适配，另一方面，现有的2D和3D检测的相关布置方式及检测方法也难以较佳地适用于本发明中所需要检测的物件。

发明内容

针对现有技术中存在的技术问题，本发明提供了一种外观2D和3D结合的检测方法，其包括以下步骤：

步骤一、2D和3D结合检测上料

通过多头抓料模组抓取已经经过除尘以及面阵视觉检测的检测对象；

步骤二、2D和3D结合检测放料

多头抓料模组将抓取的检测对象逐个放置于结合检测初始位处；

步骤三、2D和3D结合检测取料

通过结合检测取料组件将位于结合检测初始位处的检测对象逐个轮流抓取放置于结合检测运送通路处；

步骤四、2D检测

沿结合检测运送通路将单个检测对象运送至2D线扫检测位并通过2D检测模组对检测对象中板面上的碰刮压伤、中板应力痕、中板过/漏洗这些不良进行2D线扫检测；

步骤五、3D检测

沿结合检测运送通路将检测对象继续运送至3D线激光检测位并通过3D检测模组对检测对象中板面上的中板应力痕、中板凹陷、中板面台阶、中板面过鐉、中板回弹、中板面变形、中板过/漏鐉、中板刀纹这些不良进行检测；

步骤六、2D和3D结合检测下料

将2D和3D检测完成后的检测对象通过结合检测下料搬运轴搬运至下料位。