[发明专利]一种用于外观缺陷检测的多工位的微距检测装置

说明书

本发明涉及电子产品微距检测技术领域，具体地说，涉及一种用于外观缺陷检测的多工位的微距检测装置。其包括微距装置主体，微距装置主体包括用于微距检测上料的微距上料位和用于微距检测下料的微距下料位；自微距上料位至微距下料位依次布置有微距CG面检测部、微距检测翻转组件和微距BG面检测部，微距CG面检测部和微距BG面检测部的上方分别布置有用于对CG面检测部处的检测对象CG面进行检测的CG面相机组件和用于对BG面检测部处的检测对象BG面进行检测BG面相机组件。微距装置主体处设有沿x轴和y轴方向4×4间隔平行布置有共十六个微距检测放置位；4×4的布置方式能够较佳地满足八个检测工位的布置需求。

技术领域

本发明涉及电子产品微距检测技术领域，具体地说，涉及一种用于外观缺陷检测的多工位的微距检测装置。

背景技术

随着电子技术的日益发展，电子产品逐渐成为日常生活中不可缺少的一部分，尤其是智能手机以及平板电脑这类智能产品。

现在智能手机以及平板电脑该类产品的产量及消费需求均呈上升趋势，由于该类产品均属于基于中框而装配成型的电子产品，故而这些产品的中框质量直接影响到这个产品的质量。

该类产品的中框分为用于安装屏幕的BG面和用于安装电池的CG面；由于在中框的加工及运输过程中，BG面以及CG面处容易出现影响产品质量的外观缺陷，如应力痕、碰伤、压伤、刮伤、棱边毛刺、棱边毛边、棱边卷边、过铣、漏铣以及未铣到位等外观缺陷。

传统的对于此类物件的外观缺陷检测方式中大多为人工通过肉眼检测，或者通过检测设备依次逐个的进行采图识别检测；这些检测方式一方面检测精度不够高，因为这些方式中外观检测的覆盖区域不够完全，并且没有针对不同的检测区域进行系统化针对性的相机布置，所以传统的检测方式容易出现不良品漏检的情况；另一方面，这些检测方式没有形成一个成套的自动化检测设备以及方法，从上料到下料，现有技术中缺乏一种能够从上料、除尘、不同区域针对性外观缺陷检测直至下料的外观缺陷检测装置；故而现有的检测设备的检测效率较低，难以满足大产量下的产品外观检测需求。

针对于微距检测，微距检测的拍摄视野更小，成像效果更清晰；但是现有的微距检测相机难以通过相应的检测方法直接应用于本发明所需检测的物件检测过程中，故而现有技术中缺乏一种能够较佳地适用于该类物件外观检测且布置覆盖范围更全面的微距检测系统及方法。

发明内容

针对现有技术中存在的技术问题，本发明提供了一种多工位的微距检测装置，其包括微距装置主体，微距装置主体包括用于微距检测上料的微距上料位和用于微距检测下料的微距下料位；自微距上料位至微距下料位依次布置有微距CG面检测部、微距检测翻转组件和微距BG面检测部，微距CG面检测部和微距BG面检测部的上方分别布置有用于对CG面检测部处的检测对象CG面进行检测的CG面相机组件和用于对BG面检测部处的检测对象BG面进行检测BG面相机组件。

微距装置主体处设有沿x轴和y轴方向4×4间隔平行布置有共十六个微距检测放置位，十六个微距检测放置位划分形成四排沿y轴方向布置的第一、第二、第三及第四微距检测部，CG面检测部包括第一及第二微距检测部，BG面检测部包括第三及第四微距检测部；微距上料位位于CG面检测部的第一微距检测部，微距下料位位于BG面检测部的第四微距检测部，十六个微距检测放置位自微距上料位至微距下料位共同配合组成微距检测中检测对象的移动路线，检测对象的移动路线自第一微距检测部至第四微距检测部呈S型。

可以理解地，本发明中通过4×4的布置方式，沿y轴方向上每排位置的两侧分别作为该排的上下料位，中间的两个位置能够作为检测工位并与相应的微距检测相机相配合，4×4的布置方式能够较佳地满足八个检测工位的布置需求，同时，这样使得BG面检测部和CG面检测部能够呈对称结构分布，各占据两排的微距检测部，这样也能够使得微距检测翻转组件3630能够正好布置于BG面检测部和CG面检测部交界的位置处，从而使得整体的布置结构以及后续运行更加稳定。