[发明专利]一种复合型缺陷信号量化检测方法在审

专利信息
申请号: 202310347662.5 申请日: 2023-04-03
公开(公告)号: CN116359330A 公开(公告)日: 2023-06-30
发明(设计)人: 刘斌;武梓涵;田野;何璐瑶;廉正;耿浩;杨理践;高斌;刘金海;邢燕好 申请(专利权)人: 沈阳工业大学
主分类号: G01N27/83 分类号: G01N27/83;G01N27/87;G06F30/20
代理公司: 沈阳智龙专利事务所(普通合伙) 21115 代理人: 宋铁军
地址: 110870 辽宁省沈阳*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 复合型 缺陷 信号 量化 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种复合型缺陷信号量化检测方法,其特征在于:该检测方法按照以下步骤进行:

(1)基于磁荷模型,以缺陷中心为原点,建立缺陷空间漏磁场三维直角坐标系,得到缺陷空间场任意一点处的磁场强度;

(2)将矩形缺陷磁荷面分割成若干个磁荷单元,得到缺陷端面处任意位置磁荷单元对应的磁荷密度;

(3)考虑到应力对缺陷端面处磁信号的影响,确定铁磁性材料相对磁导率与应力之间的关系;

(4)通过建立缺陷端面被分割的磁荷单元对应的磁感应强度和单位面积,得到作为定量描述磁场中各点特性的关键物理量磁感应强度;

(5)将缺陷侧壁每个磁荷单元对应的磁感应强度和单位面积通过矩阵的方式进行累加,得到缺陷端面处总磁感应强度和总面积;

(6)通过缺陷端面处总磁荷密度,总磁感应强度和总面积之间的对应关系,并进行一些列转换得到缺陷端面处对应的总磁荷密度;

(7)基于缺陷端面处的非均匀磁荷密度计算结果,对缺陷端面磁场进行二元积分,得到缺陷漏磁场轴向信号分量和径向信号分量;

根据上述步骤建立的方法使缺陷侧壁磁荷分布情况更接近实际工况环境下铁磁性材料缺陷侧壁磁荷分布情况。

2.根据权利要求1所述的复合型缺陷信号量化检测方法,其特征在于:步骤(1)建立缺陷空间漏磁场:基于磁荷模型,建立三维直角坐标系;设端面上的矩形缺陷磁荷面微元为dyn,dzn,选取空间场中任意一点P(x、y、z),在该点产生的磁场强度可以表示为:

其中:ρ为缺陷端面上形成的磁荷密度,μ0为真空磁导率,为单位方向向量。

3.根据权利要求1所述的复合型缺陷信号量化检测方法,其特征在于:步骤(2)建立缺陷端面被分割的磁荷单元对应的磁荷密度:将矩形缺陷磁荷面分割成若干个磁荷单元,以缺陷中心为原点,设矩形凹槽缺陷的轴向方向为X轴,径向方向为Y轴,周向方向为Z轴;此时,缺陷端面处任意位置磁荷单元对应的磁荷密度可表示为:

其中:2Dx,2Dz,Dy分别表示矩形凹槽的轴向长度、周向宽度和径向深度;μr为介质材料相对磁导率;K=Dx,i,j代表分割的行数与列数,(K,i,j)坐标代表磁荷单元在缺陷空间区域内的位置。

4.根据权利要求1所述的复合型缺陷信号量化检测方法,其特征在于:步骤(3)确定铁磁性材料相对磁导率与应力之间的关系可表示为:

其中:σ为应力,Man为无磁滞磁化强度,Ms为饱和磁化强度,He为有效磁场,α为磁畴耦合系数,a为材料规划常数,ξ为单位体积能量度量因子。

5.根据权利要求1所述的复合型缺陷信号量化检测方法,其特征在于:步骤(4)建立缺陷端面被分割的磁荷单元对应的磁感应强度和单位面积:磁感应强度B作为定量描述磁场中各点特性的关键物理量,与任意位置磁荷单元对应的磁感应强度可表示为:

BK,i,j=4π*ρ(K,i,j)*S(K,i,j)    (4)

其中:S(K,i,j)代表缺陷端面处位置坐标的磁荷单元面积;

对S进行如下扩展,如下式:

6.根据权利要求1所述的复合型缺陷信号量化检测方法,其特征在于:步骤(5)建立缺陷端面总磁荷密度,磁感应强度和面积:将缺陷侧壁每个磁荷单元对应的磁荷密度,磁感应强度和单位面积通过矩阵的方式进行累加,得到缺陷端面处总磁荷密度,总磁感应强度和总面积,可表示为下式:

7.根据权利要求1所述的复合型缺陷信号量化检测方法,其特征在于:步骤(6)求解缺陷端面总磁荷密度:将式(6)、(7)和(8)并转化为矩阵乘积的形式:

通过矩阵变换法则,将式(9)进行进一步转换,得到缺陷端面对应总磁荷密度ρtotal

8.根据权利要求1所述的复合型缺陷信号量化检测方法,其特征在于:步骤(7)求解缺陷磁信号轴向分量和径向分量:矩形侧壁缺陷范围在Y轴方向从-Dy到0,在Z轴方向从-Dz到Dz,对缺陷端面磁场H进行二元积分,分别得到缺陷漏磁场轴向信号分量Hx和径向信号分量Hy;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳工业大学,未经沈阳工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202310347662.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top